[發明專利]一種微動技術的勘探方法、裝置和存儲介質

在審

• 申請號: 202011241727.0
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN112526597A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 劉鐵華;劉鐵;化希瑞;張邦;崔德海;卞友艷;趙威;陳應君;陳支興;肖立鋒;李凱;劉瑞軍;柳青;劉偉;段圣龍
• 申請（專利權）人: 中鐵第四勘察設計院集團有限公司
• 主分類號: G01V1/18
• 分類號: G01V1/18;G01V1/22;G01V1/28
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理有限公司 11270
• 代理人: 董超男;張穎玲

1.一種微動技術的勘探方法，其特征在于，所述方法應用于包含有多個單分量低頻檢波器的勘探系統；所述多個單分量低頻檢波器按預設間距設置于一條直線上；所述方法包括：

通過所述多個單分量低頻檢波器獲得多個勘探點的單分量低頻微動數據；其中，每個單分量低頻檢波器采集對應一個勘探點對應的單分量低頻微動數據；

基于所述多個勘探點的單分量低頻微動數據確定與第一勘探點對應的相關曲線；所述相關曲線用于度量所述第一勘探點對應的單分量低頻微動數據與其他勘探點對應的單分量低頻微動數據之間的相似性；所述第一勘探點為多個勘探點中的任意一個勘探點；所述其他勘探點為所述多個勘探點中除所述第一勘探點以外的任意一個勘探點；

根據所述相關曲線獲得與第一勘探點相關的速度模型；所述速度模型表征與所述第一勘探點相關的地層深度和面波速度的對應關系；

基于所述速度模型確定勘探區域的地層速度剖面；所述勘探區域包括所述多個勘探點對應的區域。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多個勘探點的單分量低頻微動數據確定與第一勘探點對應的相關曲線，包括：

對所述多個勘探點的單分量低頻微動數據進行篩選處理，獲得所述第一勘探點對應的第一平穩微動數據和所述其他勘探點對應的第二平穩微動數據；

將所述第一平穩微動數據和所述第二平穩微動數據進行互相關處理，獲得所述其他勘探點的相關系數；

基于所述相關系數確定與第一勘探點對應的相關曲線。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述相關曲線獲得與第一勘探點相關的速度模型，包括：

根據所述相關曲線獲得與第一勘探點相關的主動源數據；

對所述主動源數據進行處理，獲得與所述第一勘探點相關的速度模型。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述主動源數據進行處理，獲得與第一勘探點相關的速度模型，包括：

對所述主動源數據進行頻散譜計算，獲得測量頻散譜曲線；所述測量頻散譜曲線表征與第一勘探點相關的面波速度和頻率的對應關系；

基于所述測量頻散譜曲線確定初始模型；所述初始模型表征與第一勘探點相關的地層深度和面波速度的對應關系；

獲得模擬頻散譜曲線；

確定所述模擬頻散譜曲線與所述測量頻散譜曲線的誤差因子，基于所述誤差因子更新所述初始模型，確定與第一勘探點相關的速度模型。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述速度模型確定勘探區域的地層速度剖面，包括：

基于所述速度模型和所述勘探區域的空間位置，生成所述勘探區域的地層速度剖面。

6.一種微動技術的勘探裝置，其特征在于，所述裝置應用于包含有多個單分量低頻檢波器的勘探系統；所述多個單分量低頻檢波器按預設間距設置于一條直線上；所述裝置包括：獲得單元和確定單元，其中：

所述獲得單元，用于通過所述多個單分量低頻檢波器獲得多個勘探點的單分量低頻微動數據；其中，每個單分量低頻檢波器采集對應一個勘探點對應的單分量低頻微動數據；

所述確定單元，用于基于所述獲得單元獲得的所述多個勘探點的單分量低頻微動數據確定與第一勘探點對應的相關曲線；所述相關曲線用于度量所述第一勘探點對應的單分量低頻微動數據與其他勘探點對應的單分量低頻微動數據之間的相似性；所述第一勘探點為多個勘探點中的任意一個勘探點；所述其他勘探點為所述多個勘探點中除所述第一勘探點以外的任意一個勘探點；

所述獲得單元，還用于根據所述確定單元確定的所述相關曲線獲得與第一勘探點相關的速度模型；所述速度模型表征與所述第一勘探點相關的地層深度和面波速度的對應關系；

所述確定單元，還用于基于所述獲得單元獲得的所述速度模型確定勘探區域的地層速度剖面；所述勘探區域包括所述多個勘探點對應的區域。