[發明專利]一種借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法

有效

• 申請號: 202011240522.0
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN112596091B
• 公開（公告）日: 2023-10-20
• 發明（設計）人: 朱晨晨;寇子琦;李緒平;秦川;李亞麗;劉雪嬌;蔡國生;尹國強;辛桂利
• 申請（專利權）人: 中核四0四有限公司
• 主分類號: G01T1/167
• 分類號: G01T1/167
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 呂巖甲

1.一種借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：

1、對大批量的被測對象進行預處理，將被測對象進行整形處理，形成密度及結構尺寸相對固定的模型；

2、設定γ譜儀的核素庫；

3、獲取核素庫關注核素特征能量峰的前后道址；

4、結合試驗確定被測對象不同污染等級限值處的特征能量峰凈計數率數值大小，以此作為等級判定的依據，具體方式如下：結合廢物的源項，使用標準源配置與被測對象相同或相近的標準測量模型，借助γ譜儀測量該標準測量模型，確定相應的探測效率，以η表示；污染等級的確定是按照對應核素和比活度的方式進行判定的，為此，需要將比活度限值乘以被測量模塊的重量，將其轉化為活度的形式，對應核素活度以A源，單位Bq表示，對應核素特征能量峰中心位置處的理論凈計數率以n1，單位CPS表示，對應核素特征能量峰本底計數率以n本，單位CPS表示，對應特征能量分支比為ξ，通過公式A＝(n1-n本)/ξ·η，得出對應核素特征能量峰中心位置處的理論凈計數率n1，以此作為對應核素等級判定的限值；確定和設置每一個核素的等級限值對應的凈計數率大小；

5、結合特征峰率內凈計數率和特征峰道址區間的曲線擬合雙重方式快速測量和判定對應特征峰γ核素的污染等級水平；γ譜儀測定核素的放射性活度大小采用峰面積計算方式和峰中心位置處的凈計數率兩種方式來實現，對于前者，關注核素的特征峰峰形必須相對光滑平整，對于后者，峰中心位置處的凈計數率穩定速度很快，相當于γ譜儀探測器作為劑量率測量儀器的響應時間，即在特征能量峰峰形沒有完全成型的情況下，峰中心位置處的凈計數率早已趨于穩定；為了保證等級判定的準確性，又引入特征峰道址區間的曲線擬合，即在特征峰沒有完全形成完備平滑的情況下，通過曲線擬合，計算出特征峰中心處的理論計數率最大值，兩種方式疊加，與步驟4中設定的限值計數率進行比較共同判定物質中的對應核素放射性活度比活度大小。

2.根據權利要求1所述的借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：所述的步驟1：借助自動化設備將被測對象進行整形處理，形成密度及結構尺寸相對固定的模型，以便建立和調用同一個能譜探測效率函數，在測量過程中由計算軟件快速的調用。

3.根據權利要求1所述的借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：所述的步驟2：結合廢物源項，設定γ譜儀的核素庫。

4.根據權利要求1所述的借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：所述的步驟4：被測對象不同污染等級包括低放，極低放，解控等級。

5.根據權利要求1所述的借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：所述的步驟4：使用標準源配置與被測對象相同或相近的標準測量模型，相同或相近指形體結構、材質密度相同或相近。

6.根據權利要求1所述的借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：所述的步驟4：對于同一核素，其特征能量峰是一致的，特征能量峰的分支比為確定值。

7.根據權利要求1所述的借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：所述的步驟4：結合國家放射性廢物分類的標準，關注的核素庫中各個核素對應的等級判定條件存在差異，另外，γ譜儀不同能量位置處的探測效率也存在差異，即需要確定和設置每一個核素的等級限值對應的凈計數率大小。

8.根據權利要求1所述的借助γ譜儀快速判定樣品中放射性污染等級的方法，其特征在于：γ譜儀的測量時間是人為設定的，在借助步驟5雙重判定條件快速完成廢物等級判定后，可以立即引入軟件中斷程序，控制或引導傳送系統將下一個被測樣品或被測對象移動至γ譜儀有效探測位置處后，重新啟動和開展又一等級測定工作，以此方式，實現大批量和連續的污染等級判定。