[發明專利]微地貌刻畫方法及裝置

在審

• 申請號: 202011239884.8
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN114460641A
• 公開（公告）日: 2022-05-10
• 發明（設計）人: 韓劍發;楊海軍;蘇洲;孫沖;鄔光輝;陳利新;趙寬志;劉永福;李國會;張銀濤;孫琦;羅海寧;張慧芳;蔣晶晶;李斌;彭得兵;熊昶
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30;G01V1/28;E21B49/00
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 虞浩;黃健

本發明提供一種微地貌刻畫方法及裝置，本實施例提供的微地貌刻畫方法，包括：根據已鉆井的地質信息和地震資料，對已鉆井進行標定，得到標定結果；根據標定結果，確定油氣儲層的構造解釋；應用趨勢面分析法，對構造解釋進行處理，確定構造趨勢；根據構造解釋和構造趨勢，確定構造異常點，構造異常點用于表示微地貌。通過本發明實施例提供的微地貌刻畫方法，實現精細描述儲層的分布特征，從而為開發井位優選及失利?低效井側鉆提供有利依據。

技術領域

本發明涉及石油勘探領域，尤其涉及一種微地貌刻畫方法及裝置。

背景技術

塔里木盆地下古生界碳酸鹽巖油氣資源十分豐富，超深縫洞型碳酸鹽巖油氣藏是其中的一種，這種油氣藏具有埋藏深，儲層非均質性強、反射特征特殊的特點，其埋藏深度超過5500m、儲層的連通關系復雜、反射特征呈串珠狀，并且局部油水關系復雜，為了表征碳酸鹽巖油氣藏剩余油分布特征，現有的方法是使用構造刻畫技術。

現有的構造刻畫技術是直接對目的層頂構造解釋，再經過已鉆井的實鉆情況進行校正成圖，得到的構造圖能夠反應一個區塊整體的構造高低，但很難反應局部單個儲層的構造高低；這種結果導致在表征超深縫洞型碳酸鹽巖油氣藏的分布特征時，由于無法清晰刻畫它的局部構造，就難以對儲層的分布特征進行精細描述，從而無法對開發井位優選及失利-低效井側鉆提供有利依據。

因此，如何對超深縫洞型碳酸鹽巖油氣藏進行構造刻畫是一個亟待解決的問題。

發明內容

本發明提供一種微地貌刻畫方法，以實現精細描述儲層的分布特征，從而為開發井位優選及失利-低效井側鉆提供有利依據。

第一方面，本發明提供一種微地貌刻畫方法，包括：

根據已鉆井的地質信息和地震資料，對已鉆井進行標定，得到標定結果；

根據標定結果，確定油氣儲層的構造解釋；

應用趨勢面分析法，對構造解釋進行處理，確定構造趨勢；

根據構造解釋和構造趨勢，確定構造異常點，構造異常點用于表示微地貌。

在一種可能的設計中，根據已鉆井的地質信息和地震資料，對已鉆井進行標定，得到標定結果，包括：

根據地質信息，對已鉆井進行分層梳理，確定分層梳理結果；

根據地震資料，對已鉆井進行頻譜分析，確定頻譜分析結果；

根據分層梳理結果和頻譜分析結果，對已鉆井進行標定，得到標定結果。

在一種可能的設計中，根據標定結果，確定油氣儲層的構造解釋，包括：

根據油氣儲層的位置，確定每個標志層和油氣儲層之間的距離；

根據標定結果，選擇最小距離的標志層進行構造解釋。

在一種可能的設計中，應用趨勢面分析法，對構造解釋進行處理，確定構造趨勢，包括：

定義標志層的數據散點值為(x_i,y_i,z_i)，其中，x_i為第i個數據的橫坐標，y_i為第i個數據的縱坐標，z_i為第i個數據的觀測值；觀測值z_i對應的趨勢值為

構建趨勢值的一次曲面方程式為：

根據最小二乘原理，求導得到參數b₀、b₁和b₂；其中，b₀為大于0的數，b₁為大于0的數，b₂為大于0的數；

將參數代入一次曲面方程式，確定趨勢值。