[發明專利]控制裝置、控制方法和存儲介質

在審

• 申請號: 202011239482.8
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN112866657A
• 公開（公告）日: 2021-05-28
• 發明（設計）人: 木村啟昭
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: H04N9/04
• 分類號: H04N9/04;H04N5/232
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 宋巖

本發明公開了控制裝置、控制方法和存儲介質。控制裝置包括被配置為獲取光學信息的獲取單元、被配置為使圖像傳感器相對于與成像光學系統的光軸正交的平面傾斜的傾斜控制單元，以及計算單元，該計算單元被配置為基于來自圖像傳感器的信號通過相位差檢測方法來計算圖像偏移量，并且基于該圖像偏移量和轉換系數來計算散焦量。計算單元基于該光學信息和作為由該圖像傳感器與該平面形成的角度的傾斜角度來改變該信號的校正量和該轉換系數中的至少一個。

技術領域

本發明涉及提供焦點控制和傾斜控制的控制裝置。

背景技術

傳統上已知被稱為沙伊姆弗勒(Scheimpflug)原理的技術，該技術通過使透鏡和圖像傳感器相對傾斜來延伸視野深度。日本專利公開(“JP”)2003-75716公開了一種用于針對每個被攝體執行控制焦點位置以便使對比度(contrast)評估值最大化的處理并且用于確定焦點位置和傾斜控制量以便聚焦在多個被攝體上的方法。JP 2001-116980公開了一種用于驅動焦點位置從一端到另一端并且用于存儲焦點位置以便使針對每個被攝體的對比度評估值最大化的方法。

然而，JP 2003-75716和2001-116980中公開的方法提供了使用對比度AF的焦點控制，因此需要相對長的時間。另外，它們實際上移動聚焦透鏡和圖像傳感器以計算傾斜角度和焦點位置，因此不必要的操作使質量惡化。

作為這些問題的解決方案，可想到使用相位差AF的焦點控制方法。然而，在圖像傳感器傾斜的情況下的相位差AF可能引起擺動(hunting)，并且高速且高度精確的焦點控制可能變得困難。

發明內容

本發明提供了即使當成像平面傾斜時也可以提供高速且高度精確的焦點控制的控制裝置、控制方法和存儲介質。

根據本發明的一個方面的控制裝置包括：獲取單元，被配置為獲取光學信息；傾斜控制單元，被配置為使圖像傳感器相對于與成像光學系統的光軸正交的平面傾斜；以及計算單元，被配置為基于來自圖像傳感器的信號通過相位差檢測方法來計算圖像偏移量，并且基于該圖像偏移量和轉換系數來計算散焦量。計算單元基于該光學信息和作為由該圖像傳感器與該平面形成的角度的傾斜角度來改變該信號的校正量和轉換系數中的至少一個。至少一個處理器或電路被配置以執行這些單元中的至少一個的功能。

根據本發明的另一方面的控制方法包括以下步驟：獲取光學信息；使圖像傳感器相對于與成像光學系統的光軸正交的平面傾斜；以及基于來自圖像傳感器的信號通過相位差檢測方法來計算圖像偏移量，并且基于該圖像偏移量和轉換系數來計算散焦量。該計算步驟基于該光學信息和作為由該圖像傳感器與該平面形成的角度的傾斜角度來改變該信號的校正量和該轉換系數中的至少一個。

一種存儲用于使計算機執行以上控制方法的程序的非瞬態計算機可讀存儲介質或者該程序還構成本發明的另一方面。

根據以下參考附圖對示例性實施例的描述，本發明的另外的特征將變得清楚。

附圖說明

圖1是每個實施例中的圖像拾取裝置的框圖。

圖2是每個實施例中的圖像傳感器的像素配置圖。

圖3A至圖3D說明每個實施例中的位偏移量(bit shift amount)的計算。

圖4說明每個實施例中的轉換系數的計算。

圖5A至圖5C說明每個實施例中的傾斜控制。

圖6說明每個實施例中的焦點控制和傾斜控制。

圖7是根據第一實施例的控制方法的流程圖。

圖8A和圖8B說明每個實施例中的陰影校正。

圖9A和圖9B是每個實施例中的與陰影校正系數相關的數據表。