[發明專利]地震剖面的分辨率處理方法、裝置、設備及可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202011239273.3
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN112305610A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 倪天祿;李國發;何書梅;李皓;曹國明;張思超;周宗良;張會卿;黃芳;任瑞川;郭奇;魏朋朋;燕云;吳吉忠;王文慶
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣股份有限公司
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 李珂珂

1.一種地震剖面的分辨率處理方法，其特征在于，所述方法應用于地震數據處理服務器中，所述方法包括：

確定與儲層對應的第一地震剖面，所述第一地震剖面以第一分辨率對所述儲層的地震數據進行表征，所述地震數據包括對所述儲層進行地震波實驗得到的數據；

根據地震道數據集合以及所述儲層的反射結構特征建立剖面處理模型，所述地震道數據集合中包括至少兩組地震道數據，所述地震道數據包括在地震波實驗中與單個地震道對應的數據；

將所述第一地震剖面輸入所述剖面處理模型中，輸出得到第二地震剖面，所述第二地震剖面以第二分辨率對所述儲層的地震數據進行表征，所述第二分辨率高于所述第一分辨率。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據地震道數據集合以及所述儲層的反射結構特征建立剖面處理模型，包括：

確定與所述地震道數據集合對應的子波矩陣集合；

基于所述子波矩陣集合以及所述儲層的反射結構特征生成所述剖面處理模型。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定與所述地震道數據集合對應的子波矩陣集合，包括：

確定所述地震道數據集合中的至少兩個所述地震道數據；

確定與至少兩個所述地震道數據分別相對應的至少兩個子波矩陣；

基于至少兩個所述子波矩陣確定子波矩陣集合。

4.根據權利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述剖面處理模型中還包括反褶積子模型；

所述方法，還包括：

根據所述反射結構特征確定反射結構約束矩陣；

基于所述反射結構特征矩陣構建反褶積目標函數；

基于所述反褶積目標函數生成所述反褶積子模型。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述反褶積目標函數對應有第一約束權重和第二約束權重，所述反褶積字母性中還對應有地震數據列向量；

所述基于所述反褶積目標函數生成所述反褶積子模型，包括：

以所述反射結構特征約束矩陣和所述地震數據列向量的乘積對應所述第一約束權重，以數據列向量對應第二約束權重，生成所述反褶積子模型。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述地震數據集合中包括至少兩個地震數據點，所述地震數據點對應有數據采集位置和數據采集時刻；

根據所述反射結構特征確定反射結構約束矩陣，包括：

根據所述地震數據點的所述數據采集位置以及數據采集時刻，確定所述地震數據點對應的反射結構約束參數；

根據所述反射結構約束參數，確定所述反射結構約束矩陣。

7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述反褶積子模型還對應有對所述地震道數據進行平衡訓練的輔助因子。

8.一種地震剖面的分辨率處理裝置，其特征在于，所述裝置包括：

確定模塊，用于確定與儲層對應的第一地震剖面，所述第一地震剖面以第一分辨率對所述儲層的地震數據進行表征，所述地震數據為對所述儲層進行地震波實驗得到的數據；

建立模塊，用于根據地震道數據集合建立剖面處理模型，所述地震道數據集合中包括至少兩組地震道數據，所述地震道數據為在地震波實驗中與單個地震道對應的數據，所述剖面處理模型為基于所述地震道數據集合與所述儲層的反射結構特征構建的模型；

輸入模塊，用于將所述第一地震剖面輸入所述剖面處理模型中，輸出得到第二地震剖面，所述第二地震剖面以第二分辨率對所述儲層的地震數據進行表征，所述第二分辨率高于所述第一分辨率。

9.一種計算機設備，其特征在于，所述計算機設備包括處理器和存儲器，所述存儲器中存儲有至少一條指令、至少一段程序、代碼集或指令集，所述至少一條指令、至少一段程序、代碼集或指令集由所述處理器加載并執行以實現如權利要求1至7任一所述的地震剖面的分辨率處理方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質中存儲有至少一條指令、至少一段程序、代碼集或指令集，所述至少一條指令、至少一段程序、代碼集或指令集由處理器加載并執行以實現如權利要求1至7任一所述的地震剖面的分辨率處理方法。