[發(fā)明專利]樣品檢測電參數(shù)的自調(diào)節(jié)方法、裝置、介質(zhì)及電子設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011239211.2
• 申請日: 2020-11-09
• 公開（公告）號: CN112461369B
• 公開（公告）日: 2023-04-18
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉者;龔慧蘭;秦丹
• 申請（專利權(quán)）人: 泓準(zhǔn)達(dá)科技（上海）有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G01R31/52;H03L7/099
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種樣品檢測電參數(shù)的自調(diào)節(jié)方法，其特征在于，用于對電子器件進(jìn)行無損檢測，該方法包括：

按照初始參數(shù)，對樣品加電，獲取所述樣品的紅外圖像中的熱點(diǎn)；

若檢測到參數(shù)調(diào)節(jié)事件，按照預(yù)設(shè)規(guī)則對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)；

根據(jù)所述熱點(diǎn)的變化規(guī)律，確定最佳參數(shù)；

所述參數(shù)為加電的頻率；所述若檢測到參數(shù)調(diào)節(jié)事件，按照預(yù)設(shè)規(guī)則對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)包括：根據(jù)所述熱點(diǎn)的變化情況，按照預(yù)設(shè)速度控制所述加電的頻率在至少兩個預(yù)設(shè)頻率之間進(jìn)行切換；

所述方法還包括：在所述熱點(diǎn)變化的過程中，錄制所述熱點(diǎn)變化過程的視頻。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，加電的占空比為1:1。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，若所述初始參數(shù)為最低參數(shù)，則按照預(yù)設(shè)規(guī)則對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)，包括：

按照逐漸升高的調(diào)節(jié)方式，對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)；

若所述初始參數(shù)為最高參數(shù)，則按照預(yù)設(shè)規(guī)則對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)，包括：

按照逐漸降低的調(diào)節(jié)方式，對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)；

若所述初始參數(shù)為中間參數(shù)，則按照預(yù)設(shè)規(guī)則對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)，包括：

先由所述中間參數(shù)逐漸升高至最高參數(shù)；再由所述中間參數(shù)逐漸降低至最低參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，在按照初始參數(shù)，對樣品加電之前，所述方法還包括：

生成輸入初始參數(shù)的提示信息；

若在預(yù)設(shè)時間內(nèi)未檢測到初始參數(shù)的鍵入值，則使用默認(rèn)初始參數(shù)；

若在預(yù)設(shè)時間內(nèi)檢測到初始參數(shù)的鍵入值，則使用所述鍵入值作為初始參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述參數(shù)調(diào)節(jié)事件，包括：

若所述熱點(diǎn)的強(qiáng)度高于設(shè)定強(qiáng)度閾值，和/或，若所述熱點(diǎn)的面積大于設(shè)定面積閾值，則確定檢測到參數(shù)調(diào)節(jié)事件。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述參數(shù)調(diào)節(jié)事件，還包括：

若檢測到的當(dāng)前參數(shù)的加電時長達(dá)到預(yù)設(shè)加電時長，則確定檢測到參數(shù)調(diào)節(jié)事件。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，根據(jù)所述熱點(diǎn)的變化規(guī)律，確定最佳參數(shù)，包括：

在熱點(diǎn)的變化的過程中，若熱點(diǎn)的當(dāng)前狀態(tài)為面積小于設(shè)定面積閾值且強(qiáng)度符合設(shè)定區(qū)間，則確定當(dāng)前狀態(tài)對應(yīng)的參數(shù)調(diào)節(jié)結(jié)果為最佳參數(shù)。

8.一種樣品檢測電參數(shù)的自調(diào)節(jié)裝置，其特征在于，用于對電子器件進(jìn)行無損檢測，該裝置包括：

熱點(diǎn)獲取模塊，用于按照初始參數(shù)，對樣品加電，獲取所述樣品的紅外圖像中的熱點(diǎn)；

參數(shù)調(diào)節(jié)模塊，用于若檢測到參數(shù)調(diào)節(jié)事件，按照預(yù)設(shè)規(guī)則對加電的參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)；

最佳參數(shù)確定模塊，用于根據(jù)所述熱點(diǎn)的變化規(guī)律，確定最佳參數(shù)；

所述參數(shù)為加電的頻率；所述參數(shù)調(diào)節(jié)模塊，還用于根據(jù)所述熱點(diǎn)的變化情況，按照預(yù)設(shè)速度控制所述加電的頻率在至少兩個預(yù)設(shè)頻率之間進(jìn)行切換；

其中，所述熱點(diǎn)獲取模塊，還用于在所述熱點(diǎn)變化的過程中，錄制所述熱點(diǎn)變化過程的視頻。

9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的樣品檢測電參數(shù)的自調(diào)節(jié)方法。

10.一種電子設(shè)備，包括存儲器，處理器及存儲在存儲器上并可在處理器運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一項(xiàng)所述的樣品檢測電參數(shù)的自調(diào)節(jié)方法。