[發(fā)明專利]寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法及終端在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011238169.2 | 申請日： | 2020-11-09 |
| 公開（公告）號： | CN112364499A | 公開（公告）日： | 2021-02-12 |
| 發(fā)明（設計）人： | 金慶忍;陳衛(wèi)東;周柯;姚知洋;郭敏;阮詩雅;韓帥 | 申請（專利權）人： | 廣西電網(wǎng)有限責任公司電力科學研究院 |
| 主分類號： | G06F30/20 | 分類號： | G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 廣州市專注魚專利代理有限公司 44456 | 代理人： | 凌霄漢 |
| 地址： | 530015 廣西*** | 國省代碼： | 廣西;45 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 寬頻 擾動 測試 電解電容 壽命 預測 方法 終端 | ||
1.寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟1，獲得不同頻率下電解電容的初始ESR；
步驟2，對電解電容ESR進行修正計算；
步驟3，對電解電容施加同幅值不同頻率的電壓，計算在容值動態(tài)變化的過程中電解電容所受的電應力；
步驟4，通過步驟3獲得的電應力，計算獲得電解電容所受的熱應力；基于所述熱應力計算獲得紋波電流下電解電容的核溫；
步驟5，建立電解液隨溫度和時間的損失模型，獲得電解液在一個步長時間內的損失量；
步驟6，循環(huán)重復步驟2至步驟5，直至電解電容電解液損失到預設值；退出循環(huán)，計算獲得電解電容總壽命。
2.根據(jù)權利要求1所述的寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法，其特征在于，所述的電解電容的初始ESR是通過數(shù)字電橋對電解電容進行測量，獲得不同頻率下電解電容的初始ESR。
3.根據(jù)權利要求1所述的寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法，其特征在于，所述的對電解電容ESR進行修正計算包括：
步驟201，計算溫度對ESR的影響，表達式為：
其中：
Tc為電容的實時核溫，Tc0為293K，m為電解質含量，f為頻率，RESR(f,Tc0,m0)為電解電容的初始ESR；RESR(f,Tc,m)為電解電容的實時核溫是Tc時的ESR；D＝0.4，Y＝5.26E+8，F(xiàn)＝14.23；
步驟202，計算電解液含量對ESR的影響，表達式為：
其中：
m0為初始電解液的質量，m為實際的電解液質量。
4.根據(jù)權利要求1所述的寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法，其特征在于，所述的步驟3中計算在容值動態(tài)變化的過程中電解電容所受的電應力的計算表達式為：
其中：
Uf為加在電容兩端的電壓，
f為施加電壓的頻率，
c為電容的容值，
j為復數(shù)i，
Tc為電容的實時核溫，
m為實際的電解液質量；
RESR(f,Tc,m)為電解電容的實時核溫是Tc時的ESR。
5.根據(jù)權利要求1所述的寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法，其特征在于，所述的步驟4包括：
步驟401，計算電解電容所受的熱應力；
步驟402，根據(jù)電容所受的熱應力計算出電解電容的表面溫升；
步驟403，根據(jù)電解電容表面溫升計算電解電容內部核心溫升；
步驟404，計算電解電容的核溫。
6.根據(jù)權利要求5所述的寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法，其特征在于，所述的電容所受的熱應力計算式為：
P＝If2RESR(f,Tc,m)，其中：
If為電解電容所受的電應力；
RESR(f,Tc,m)為電解電容的實時核溫是Tc時的ESR。
7.根據(jù)權利要求5所述的寬頻擾動測試下的電解電容壽命的預測方法，其特征在于，所述的電解電容的表面溫升的計算公式為：
其中：
P為電容所受的熱應力；S為電容的表面積；H為電容的熱輻射系數(shù)。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣西電網(wǎng)有限責任公司電力科學研究院，未經(jīng)廣西電網(wǎng)有限責任公司電力科學研究院許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011238169.2/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
