[發明專利]一種材料自動研發線

在審

• 申請號: 202011233117.6
• 申請日: 2020-11-06
• 公開（公告）號: CN112433062A
• 公開（公告）日: 2021-03-02
• 發明（設計）人: 楊汗青;楊卓舒;史瓊;姜超;趙濤
• 申請（專利權）人: 楊汗青
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00;G01N1/28;G01N1/32
• 代理公司: 北京專贏專利代理有限公司 11797
• 代理人: 于剛

1.一種材料自動研發線，其特征在于：所述材料自動研發線上依次包括自動上料裝置、材料研磨裝置、自動試驗裝置和自動檢測裝置；上述裝置通過智能控制裝置自動化控制運行；所述材料自動研發線能夠自動上料、對物料進行研磨、使研磨后的物料按預定條件試驗、對試驗結果進行檢測。

2.根據權利要求1所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述材料自動研發線還包括用于檢測所述自動上料裝置、所述材料研磨裝置、所述自動試驗裝置、所述自動檢測裝置的運行過程中是否有新材料產生的聲波光譜檢測裝置。

3.根據權利要求1所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述自動上料裝置包括：

用于儲存原材料的原料倉；

上料機構；當所述智能控制裝置根據所檢測的原材料的光譜與聲波判定原材料合格時，所述上料機構將原材料上料至所述原料倉；以及：

用于將原料倉內的原材料輸送至所述材料研磨裝置的第一輸送機構。

4.根據權利要求3所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述原料倉內設有用于檢測原材料儲量的物料儲量檢測組件；用于檢測原材料溫濕度的第一溫濕度檢測組件，以及用于對原料倉內的溫濕度進行調節的溫濕度調節組件。

5.根據權利要求1所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述材料研磨裝置包括：

用于對原材料進行研磨的研磨機構；

用于對研磨后的原材料進行儲存的研磨后材料儲存機構。

6.根據權利要求1所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述自動試驗裝置包括：自動取料機構、自動計量機構、第二輸送機構、自動實驗機構和自動化分析儀；所述自動取料機構能夠與所述自動取料機構配合，進而從所述材料研磨裝置獲取定量的研磨后的原材料；所述自動實驗機構能夠使加入其中的原材料按預定條件試驗；所述自動化分析儀用于分析試驗過程，并根據分析結果對試驗過程進行調控。

7.根據權利要求6所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述自動實驗機構包括攪拌組件、加熱組件、加水組件、第二溫濕度檢測組件、進料出料檢測組件和清洗組件。

8.根據權利要求1所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述自動檢測裝置包括：

用于從所述自動試驗裝置取樣的試驗結果自動取樣機構；

用于檢測所獲取樣品性能的材料性能檢測機構；所述材料性能檢測機構至少能對樣品的密度、分子結構、強度、耐高溫性、耐磨性、耐久性、耐壓性進行檢測。

9.根據權利要求8所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述材料自動研發線還包括用于儲存檢測后樣品的樣品自動儲存循環再利用工位。

10.根據權利要求1所述的一種材料自動研發線，其特征在于，所述智能控制裝置包括：

用于控制所述材料自動研發線自動化運行的控制機構；

用于顯示控制過程的顯示機構；

用于儲存原材料的上料數據、原材料的標準性能數據、原材料的試驗條件、試驗結果以及檢測結果的數據儲存機構。