[發(fā)明專利]電子部件測(cè)試裝置及其用的更換部件以及插座

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011230806.1
• 申請(qǐng)日: 2020-11-06
• 公開（公告）號(hào): CN113030598A
• 公開（公告）日: 2021-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 汐田夏基;峯尾浩之
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 株式會(huì)社愛德萬測(cè)試
• 主分類號(hào): G01R29/10
• 分類號(hào): G01R29/10
• 代理公司: 北京匯思誠業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11444
• 代理人: 張黎;龔敏

1.一種電子部件測(cè)試裝置，對(duì)被測(cè)試電子部件DUT進(jìn)行測(cè)試，所述DUT具有設(shè)備天線和形成于第一主面的端子，

所述電子部件測(cè)試裝置具備：

插座，其能夠與所述DUT電連接；

第一布線板；以及

測(cè)試器，其具備裝配有所述第一布線板的測(cè)試頭，

所述插座具備：

第一插座，其配置為與所述第一主面對(duì)置，并能夠與所述DUT電連接；以及

第二插座，其安裝于所述第一布線板，與所述DUT的所述第一主面的相反側(cè)的第二主面抵接，并能夠與所述第一插座電連接，

所述第二插座具備：

基部，其與所述DUT的所述第二主面抵接；以及

測(cè)試天線，其與所述測(cè)試器電連接，并配置為與所述設(shè)備天線對(duì)置，

在所述DUT與所述第一插座電連接并且所述第一插座經(jīng)由所述第二插座與所述測(cè)試頭電連接的狀態(tài)下，所述測(cè)試器通過在所述設(shè)備天線與所述測(cè)試天線之間收發(fā)電波來對(duì)所述DUT進(jìn)行測(cè)試。

2.一種電子部件測(cè)試裝置，對(duì)被測(cè)試電子部件DUT進(jìn)行測(cè)試，所述DUT具有設(shè)備天線和形成于第一主面的端子，

所述電子部件測(cè)試裝置具備：

插座，其能夠與所述DUT電連接；

第一布線板，其具有第一開口；以及

測(cè)試器，其具備裝配有所述第一布線板的測(cè)試頭，

所述插座具備：

第一插座，其配置為與所述第一主面對(duì)置，能夠與所述DUT電連接，并且能夠與所述第一布線板電連接；以及

第二插座，其經(jīng)由所述第一開口從所述第一布線板露出，與所述DUT的所述第一主面的相反側(cè)的第二主面抵接，

所述第二插座具備：

基部，其與所述DUT的所述第二主面抵接；以及

測(cè)試天線，其與所述測(cè)試器電連接，并且配置為與所述設(shè)備天線對(duì)置，

在所述DUT與所述第一插座電連接并且所述第一插座經(jīng)由所述第一布線板與所述測(cè)試頭電連接的狀態(tài)下，所述測(cè)試器通過在所述設(shè)備天線與所述測(cè)試天線之間收發(fā)電波來對(duì)所述DUT進(jìn)行測(cè)試。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子部件測(cè)試裝置，其中，

所述第二插座具備對(duì)從所述設(shè)備天線或測(cè)試天線輻射的電波進(jìn)行衰減的第一衰減構(gòu)件，

所述第一衰減構(gòu)件介于所述測(cè)試天線與所述設(shè)備天線之間。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子部件測(cè)試裝置，其中，

所述設(shè)備天線包括設(shè)置于所述第二主面的第一設(shè)備天線，

所述測(cè)試天線包括配置為與所述第一設(shè)備天線對(duì)置的第一測(cè)試天線，

所述基部具有使所述第一測(cè)試天線與所述第一設(shè)備天線對(duì)置的第二開口。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電子部件測(cè)試裝置，其中，

所述第二插座具備：

第二衰減構(gòu)件，其設(shè)置于所述第二開口的內(nèi)表面，對(duì)從所述第一設(shè)備天線或所述第一測(cè)試天線輻射的電波進(jìn)行衰減；以及

屏蔽層，其設(shè)置于所述基部的外表面，屏蔽來自外部的電波。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子部件測(cè)試裝置，其中，

所述第一測(cè)試天線是具備基板、設(shè)置在所述基板上的輻射元件、以及設(shè)置在所述基板上且與所述輻射元件連接的布線圖案的貼片天線。

7.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子部件測(cè)試裝置，其中，

所述設(shè)備天線包括設(shè)置在所述DUT的側(cè)部的第二設(shè)備天線，

所述測(cè)試天線包括配置為與所述第二設(shè)備天線對(duì)置的第二測(cè)試天線，

所述第二測(cè)試天線相對(duì)于所述DUT配置在與所述第一主面實(shí)質(zhì)上平行的方向上。

8.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的電子部件測(cè)試裝置，其中，

所述電子部件測(cè)試裝置還具備電子部件操作裝置，所述電子部件操作裝置具備移動(dòng)單元，所述移動(dòng)單元保持并移動(dòng)所述DUT，且能夠?qū)⑺鯠UT相對(duì)于所述插座進(jìn)行按壓。