[發(fā)明專利]一種基于調(diào)制光熱輻射技術的復合絕緣子老化程度改進檢測方法

有效

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• 申請日: 2020-11-06
• 公開（公告）號: CN112432969B
• 公開（公告）日: 2022-04-08
• 發(fā)明（設計）人: 李斌成;趙斌興;江海濤
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01N25/20
• 分類號: G01N25/20;G01J5/20;G01J5/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于調(diào)制光熱輻射技術的復合絕緣子老化程度改進檢測方法，其特征在于：在老化的復合絕緣子樣品表面部分區(qū)域去除表面老化層，使內(nèi)部未老化層完全暴露，采用調(diào)制光熱輻射技術分別測量復合絕緣子表面老化層區(qū)域及去除表面老化層后暴露的內(nèi)部未老化層區(qū)域的熱擴散率，利用測量的表面老化層熱擴散率與內(nèi)部未老化層熱擴散率的比值評估復合絕緣子的老化程度，具體實施步驟如下：

(1)采用機械或化學方法在老化的復合絕緣子樣品表面部分區(qū)域去除表面老化層，使該區(qū)域內(nèi)部未老化層完成暴露，所去除的表面老化層的去除厚度大于0.1mm，小于1mm，且去除表面老化層后暴露的未老化層區(qū)域表面平滑；

(2)采用調(diào)制光熱輻射技術分別測量并記錄老化的復合絕緣子樣品表面老化層區(qū)域和去除表面老化層后暴露的內(nèi)部未老化層區(qū)域的光熱輻射信號的頻率特性，即光熱輻射信號的幅值-頻率變化曲線和相位-頻率變化曲線；

(3)將測得的光熱輻射信號的幅值-頻率變化曲線和相位-頻率變化曲線與復合絕緣子熱擴散理論擬合，分別得到復合絕緣子樣品的表面老化層區(qū)域和去除表面老化層后暴露的內(nèi)部未老化層區(qū)域的熱擴散率，所用的復合絕緣子熱擴散理論對復合絕緣子樣品老化層區(qū)域采用兩層熱擴散光熱輻射理論，對復合絕緣子樣品去除表面老化層后暴露的未老化層區(qū)域采用單層熱擴散光熱輻射理論；

(4)計算復合絕緣子樣品的表面老化層區(qū)域和去除表面老化層后暴露的內(nèi)部未老化層區(qū)域的熱擴散率的比值，并由此對復合絕緣子的老化程度進行評估：熱擴散率比值越低，復合絕緣子老化越嚴重，并且當熱擴散率比值低于一定閾值時，可認定復合絕緣子老化嚴重，需要進行更換。

2.根據(jù)權利要求1所述的一種基于調(diào)制光熱輻射技術的復合絕緣子老化程度改進檢測方法，其特征在于：所述的調(diào)制光熱輻射技術采用一束連續(xù)調(diào)制的激光束照射復合絕緣子樣品被測量區(qū)域，復合絕緣子樣品吸收激光束能量而導致溫度上升并產(chǎn)生紅外光熱輻射，調(diào)制的激光照射使復合絕緣子被測量區(qū)域的光熱輻射信號攜帶樣品的熱擴散信息，經(jīng)由紅外探測器探測、鎖相放大器記錄并通過計算機處理獲取復合絕緣子樣品被測量區(qū)域的熱擴散特性信息。

3.根據(jù)權利要求2所述的一種基于調(diào)制光熱輻射技術的復合絕緣子老化程度改進檢測方法，其特征在于：所述激光束功率可調(diào)節(jié)，既避免功率過高燒壞復合絕緣子樣品，破壞其熱擴散特性，也避免功率過低導致光熱輻射信號的信噪比低，影響熱擴散特性的準確測量。

4.根據(jù)權利要求1所述的一種基于調(diào)制光熱輻射技術的復合絕緣子老化程度改進檢測方法，其特征在于：所述的熱擴散率比值與復合絕緣子老化程度的定量關系和所述的熱擴散率比值閾值通過測量不同老化程度復合絕緣子表面老化層區(qū)域和內(nèi)部未老化層區(qū)域的熱擴散率確定。