[發(fā)明專利]一種磁場(chǎng)探測(cè)器

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011227317.0
• 申請(qǐng)日: 2020-11-06
• 公開（公告）號(hào): CN112415441A
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 不公告發(fā)明人
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 劉翡瓊
• 主分類號(hào): G01R33/02
• 分類號(hào): G01R33/02;G01R33/00;G01B11/16;G01B11/24
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發(fā)明涉及一種磁場(chǎng)探測(cè)器，包括光纖、光發(fā)射器、探測(cè)器和磁流變彈性體；所述光發(fā)射器和所述探測(cè)器分別設(shè)置在所述光纖兩端；所述光纖設(shè)置有彎曲部，所述磁流變彈性體設(shè)置在所述彎曲部處。本發(fā)明根據(jù)磁流變彈性體在不同磁場(chǎng)作用下彈性模量不同，擠壓豎直光纖發(fā)生形變不同，進(jìn)而導(dǎo)致接收到的電磁波強(qiáng)度不同來探測(cè)磁場(chǎng)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，探測(cè)靈敏度高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及磁場(chǎng)探測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種磁場(chǎng)探測(cè)器。

背景技術(shù)

磁性是物質(zhì)的基本屬性之一，測(cè)量磁性物體的磁場(chǎng)，經(jīng)過信號(hào)分析處理提取相關(guān)信息，可以達(dá)到目標(biāo)探測(cè)、資源調(diào)查等目的。磁場(chǎng)探測(cè)是現(xiàn)代探測(cè)技術(shù)的重要組成部分，磁場(chǎng)探測(cè)技術(shù)被廣泛應(yīng)用于空間科學(xué)研究、海洋監(jiān)測(cè)、地下和水下鐵磁物體的探測(cè)、地震預(yù)測(cè)、地磁匹配導(dǎo)航、飛機(jī)發(fā)動(dòng)機(jī)零部件無損檢測(cè)以及醫(yī)學(xué)核磁共振等各個(gè)領(lǐng)域。

磁場(chǎng)探測(cè)器多種多樣，測(cè)量原理千差萬別，如磁阻效應(yīng)、Zeeman效應(yīng)、Josephson效應(yīng)、霍爾效應(yīng)等，只要某一物理量與磁場(chǎng)呈某一確定關(guān)系，均可在一定場(chǎng)合下探測(cè)磁信號(hào)。探測(cè)器的靈敏度至關(guān)重要，現(xiàn)有技術(shù)中的磁場(chǎng)探測(cè)器普遍存在靈敏度低的問題，而且易受外界環(huán)境影響。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種磁場(chǎng)探測(cè)器，以簡(jiǎn)化探測(cè)器結(jié)構(gòu)，提高探測(cè)靈敏度。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下方案：

一種磁場(chǎng)探測(cè)器，包括T型光纖、光發(fā)射器、信號(hào)接收器和磁流變彈性體；所述光發(fā)射器和所述信號(hào)接收器分別設(shè)置在所述T型光纖的橫向兩端；所述T型光纖的豎直端設(shè)置在所述磁流變彈性體內(nèi)。

可選地，所述T型光纖的豎直端設(shè)置有金屬板。

可選地，所述金屬板的厚度大于200nm。

可選地，所述金屬板上設(shè)置有周期排布的孔洞。

可選地，所述T型光纖的豎直端設(shè)置有凹槽。

可選地，所述凹槽的深度為50-500nm。

可選地，所述T型光纖的豎直端設(shè)置有金屬帽。

可選地，所述金屬帽的厚度為60-300nm。

可選地，所述T型光纖為石英光纖、塑料光纖或者空心光纖。

根據(jù)本發(fā)明提供的具體實(shí)施例，本發(fā)明公開了以下技術(shù)效果：

本發(fā)明公開了一種磁場(chǎng)探測(cè)器，包括T型光纖、光發(fā)射器、信號(hào)接收器和磁流變彈性體；所述光發(fā)射器和所述信號(hào)接收器分別設(shè)置在所述T型光纖的橫向兩端；所述T型光纖的豎直端設(shè)置在所述磁流變彈性體內(nèi)。本發(fā)明根據(jù)磁流變彈性體在不同磁場(chǎng)作用下彈性模量不同，擠壓豎直光纖發(fā)生形變不同，進(jìn)而導(dǎo)致接收到的電磁波強(qiáng)度不同來探測(cè)磁場(chǎng)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，探測(cè)靈敏度高。

附圖說明

為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為本發(fā)明實(shí)施例提供的磁場(chǎng)探測(cè)器的結(jié)構(gòu)圖；

圖2為本發(fā)明實(shí)施例提供的設(shè)置有金屬板時(shí)的結(jié)構(gòu)圖；

圖3為本發(fā)明實(shí)施例提供的金屬板彎曲圖；

圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的設(shè)置有凹槽時(shí)的結(jié)構(gòu)圖；

圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的設(shè)置有金屬帽時(shí)的結(jié)構(gòu)圖。

符號(hào)說明：1-T型光纖，2-光發(fā)射器，3-信號(hào)接收器，4-磁流變彈性體，5-金屬板，6-凹槽，7-金屬帽。

具體實(shí)施方式