[發(fā)明專利]液晶面板和液晶面板數(shù)據(jù)線電壓檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011226403.X
• 申請(qǐng)日: 2020-11-05
• 公開（公告）號(hào): CN112331117B
• 公開（公告）日: 2022-06-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 林佩欣;李偉
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北海惠科光電技術(shù)有限公司;惠科股份有限公司
• 主分類號(hào): G09G3/00
• 分類號(hào): G09G3/00;G02F1/1362
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 張志江

1.一種液晶面板，其特征在于，其包括：

有效顯示區(qū)，所述有效顯示區(qū)具有多根掃描線，以及與多根所述掃描線交叉設(shè)置的多根數(shù)據(jù)線；

陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路，設(shè)于所述有效顯示區(qū)的側(cè)部，用于給所述有效顯示區(qū)的多根掃描線提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)；以及

測(cè)試墊片，所述測(cè)試墊片與多根所述數(shù)據(jù)線中的任一待測(cè)數(shù)據(jù)線電性連接，用于在cell制程中進(jìn)行cell測(cè)試；

所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)與多根所述掃描線一一對(duì)應(yīng)連接的陣列基板行驅(qū)動(dòng)單元，所述待測(cè)數(shù)據(jù)線與任一所述掃描線電性連接，且所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路中最后一級(jí)陣列基板行驅(qū)動(dòng)單元的輸出端與所述測(cè)試墊片電性連接。

2.如權(quán)利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述測(cè)試墊片與多根所述數(shù)據(jù)線中的任一待測(cè)數(shù)據(jù)線通過導(dǎo)線連接。

3.如權(quán)利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述待測(cè)數(shù)據(jù)線與任一所述輸出端對(duì)應(yīng)連接的掃描線激光焊接，所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路中最后一級(jí)陣列基板行驅(qū)動(dòng)單元的輸出端與所述測(cè)試墊片通過導(dǎo)線連接。

4.如權(quán)利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述液晶面板還具有外部引線連接區(qū)，所述測(cè)試墊片設(shè)于所述的外部引線連接區(qū)內(nèi)。

5.如權(quán)利要求1所述的液晶面板，其特征在于，所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路設(shè)于有效顯示區(qū)的一側(cè)，或者所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路設(shè)于有效顯示區(qū)的相對(duì)兩側(cè)。

6.一種液晶面板，其特征在于，其包括：

有效顯示區(qū)，所述有效顯示區(qū)具有多根掃描線，以及與多根所述掃描線交叉設(shè)置的多根數(shù)據(jù)線；

陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路，設(shè)于所述有效顯示區(qū)的側(cè)部，用于給所述有效顯示區(qū)的多根掃描線提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)；以及

測(cè)試墊片，所述測(cè)試墊片與所述多根所述數(shù)據(jù)線中的任一待測(cè)數(shù)據(jù)線通過導(dǎo)線連接，用于在cell制程中進(jìn)行cell測(cè)試。

7.一種液晶面板，其特征在于，其包括：

有效顯示區(qū)，所述有效顯示區(qū)具有多根掃描線，以及與多根所述掃描線交叉設(shè)置的多根數(shù)據(jù)線；

陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路，設(shè)于所述有效顯示區(qū)的側(cè)部，用于給所述有效顯示區(qū)的多根掃描線提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)，所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路具有多個(gè)與多根所述掃描線一一對(duì)應(yīng)連接的陣列基板行驅(qū)動(dòng)單元；以及

測(cè)試墊片，用于在cell制程中進(jìn)行cell測(cè)試；

待測(cè)數(shù)據(jù)線與任一所述掃描線電性連接，且所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路中最后一級(jí)陣列基板行驅(qū)動(dòng)單元的輸出端與所述測(cè)試墊片電性連接。

8.一種液晶面板數(shù)據(jù)線電壓檢測(cè)方法，其特征在于，適用于權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的液晶面板，所述液晶面板數(shù)據(jù)線電壓檢測(cè)方法包括：

所述測(cè)試墊片與所述多根所述數(shù)據(jù)線中的任一待測(cè)數(shù)據(jù)線電性連接；

在cell制程的cell測(cè)試中，測(cè)試所述測(cè)試墊片的電壓。

9.一種液晶面板數(shù)據(jù)線電壓檢測(cè)方法，其特征在于，適用于權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的液晶面板，所述液晶面板數(shù)據(jù)線電壓檢測(cè)方法包括：

將待測(cè)數(shù)據(jù)線與任一掃描線電性連接，且所述陣列基板行驅(qū)動(dòng)電路中最后一級(jí)陣列基板行驅(qū)動(dòng)單元的輸出端與所述測(cè)試墊片電性連接；

在cell制程的cell測(cè)試中，測(cè)試所述測(cè)試墊片的電壓。