[發明專利]直接法熒光滲透液熒光亮度檢測方法及檢測裝置在審
| 申請號： | 202011224902.5 | 申請日： | 2020-11-05 |
| 公開（公告）號： | CN112229508A | 公開（公告）日： | 2021-01-15 |
| 發明（設計）人： | 叢長林;李秀芬;王樹志;馬明炬;張智慧;張占春 | 申請（專利權）人： | 江蘇德意高航空智能裝備股份有限公司 |
| 主分類號： | G01J1/42 | 分類號： | G01J1/42;G01J1/04;G01N21/91 |
| 代理公司： | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人： | 周春雨 |
| 地址： | 225127 江蘇省揚州市*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 直接 熒光 滲透 亮度 檢測 方法 裝置 | ||
1.一種直接法熒光滲透液熒光亮度檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：
S10：將熒光滲透液形成為設定厚度的液體層；
S20：使用紫外線直接照射所述熒光滲透液；
S30：檢測所述熒光滲透液發出的熒光亮度。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟S10中，將定量所述熒光滲透液加入樣品架上的平底凹槽中，以形成設定厚度的液體層。
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在步驟S20中，所述紫外線為設定波長、設定輻照強度的紫外線。
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述紫外線沿傾斜于液面的方向照射所述熒光滲透液。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，在所述紫外線經所述熒光滲透液的液面反射后形成的反射光方向上檢測所述反射光的輻照強度，以檢測所述紫外線的輻照強度。
6.根據權利要求1至5中任一項所述的方法，其特征在于，在步驟S30中，沿與所述熒光滲透液的液面垂直的方向檢測所述滲透液的熒光亮度；并在檢測時濾去熒光中的紫外線。
7.一種直接法熒光滲透液熒光亮度檢測裝置，其特征在于，包括紫外光源(1)、樣品架(2)和光電探測器(3)；所述樣品架(2)的表面設置有平底凹槽(21)，所述紫外光源(1)的照射方向傾斜于所述平底凹槽(21)的底面，所述光電探測器(3)設置在與所述平底凹槽(21)的底面垂直的方向上。
8.根據權利要求7所述的直接法熒光滲透液熒光亮度檢測裝置，其特征在于，還包括紫外探測器(4)，所述紫外探測器(4)的探測方向和所述紫外光源(1)的照射方向關于所述光電探測器(3)的設置方向對稱。
9.根據權利要求7所述的直接法熒光滲透液熒光亮度檢測裝置，其特征在于，在所述光電探測器(3)的設置方向上還設置有紫外濾光片(5)。
10.根據權利要求7-9中任一項所述的直接法熒光滲透液熒光亮度檢測裝置，其特征在于，所述紫外光源(1)為紫外LED。
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