[發明專利]一種電磁特性測試無源極化校準方法

在審

• 申請號: 202011221815.4
• 申請日: 2020-11-05
• 公開（公告）號: CN112485765A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 唐建國;鄭理;郝璐;許小劍;吳亞奇
• 申請（專利權）人: 北京機電工程研究所
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 中國兵器工業集團公司專利中心 11011
• 代理人: 辛海明

1.一種電磁特性測試無源極化校準方法，其特征在于，該方法包括如下步驟：

步驟S1：雷達開機測量金屬球定標體，記錄金屬球的測量數據；

步驟S2：雷達開機測量背景，記錄背景的極化散射矩陣I_m；

步驟S3：將極化選擇表面PSS以0°姿態放置于目標支架上，雷達開機測量，記錄此姿態下的極化散射矩陣測量值將PSS以90°姿態放置于目標支架上，雷達開機測量，記錄此姿態下的極化散射矩陣測量值將PSS以45°姿態放置于目標支架上，雷達開機測量，記錄此姿態下的極化散射矩陣測量值

步驟S4：將各姿態下的極化散射矩陣測量值分別與背景的極化散射矩陣I_m作差運算，得到PSS的極化散射矩陣測量值M₀、M₉₀、M₄₅，以去除背景的影響；

步驟S5：利用金屬球測量數據進行定標處理，得到PSS的復RCS因子β；

步驟S6：將被測目標放置于目標支架上，雷達開機測量，記錄此姿態下的極化散射矩陣測量值

步驟S7：將與背景的極化散射矩陣I_m作差運算，得到被測目標的極化散射矩陣測量值M_t，以去除背景的影響；

步驟S8：將PSS的極化散射矩陣測量值M₀、M₉₀、M₄₅，應用式(16)～式(25)可求得測量系統的及R_HH·T_HH、R_HH·T_VV、R_VV·T_HH、R_VV·T_VV參數；其中，各計算公式如下：

將M_t和各參數值代入式(9)即可完成該目標的極化校準，得到目標的估計值S_t，其中，公式(9)如下：

2.如權利要求1所述的電磁特性測試無源極化校準方法，其特征在于，所述步驟S3中的0°、90°、45°三種擺放姿態可替換為其他任意三種不同PSS的擺放姿態。

3.如權利要求1所述的電磁特性測試無源極化校準方法，其特征在于，所述極化選擇表面PSS為由若干根平行金屬導線按照一定間隔均勻排布而成的周期性結構，其金屬導線應具有良好的電導率，其介質基板應具有良好的透波特性。

4.如權利要求3所述的電磁特性測試無源極化校準方法，其特征在于，隨著入射電磁波極化方式不同，PSS對入射電磁波表現為阻抗或容抗特征，從而實現其通態或阻態特性，PSS的理想極化選擇特性與雷達工作頻率及其自身參數有關；當入射電磁波極化與金屬導線平行時，極化選擇表面呈現為阻態特性，此時電磁波能量全部被反射；當入射電磁波極化垂直于金屬導線時，極化選擇表面呈現通態特性，此時電磁波能量將全部通過，無電磁波能量被反射。