[發明專利]一種發光器件的壽命測試方法、壽命測試裝置及終端設備

在審

• 申請號: 202011221551.2
• 申請日: 2020-11-05
• 公開（公告）號: CN114441916A
• 公開（公告）日: 2022-05-06
• 發明（設計）人: 賀曉光;蘆子哲;洪佳婷;柳春美;嚴圍
• 申請（專利權）人: 武漢國創科光電裝備有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 肖遙

1.一種發光器件的壽命測試方法，其特征在于，應用于終端設備，所述終端設備連接有采集裝置，所述壽命測試方法包括：

獲取驅動信號值和參考亮度，所述參考亮度為所述發光器件在驅動信號下的亮度，所述驅動信號值小于預設的信號閾值；

向所述發光器件輸出測試信號，并將所述測試信號的大小從所述驅動信號值逐步調高至預設的標準信號值；

通過所述采集裝置采集所述發光器件發射的光信號，獲得與所述光信號對應的實時光電流；

根據所述實時光電流和所述參考亮度得到所述發光器件的實時亮度，以確定所述發光器件的壽命。

2.根據權利要求1所述的壽命測試方法，其特征在于，所述驅動信號及所述測試信號均為電壓信號；所述將所述測試信號的大小從所述驅動信號值逐步調高至預設的標準信號值，包括：

將所述測試信號的電壓值從所述驅動信號值逐步調高至預設的標準電壓值。

3.根據權利要求1所述的壽命測試方法，其特征在于，所述驅動信號及所述測試信號均為電流信號；所述將所述測試信號的大小從所述驅動信號值逐步調高至預設的標準信號值，包括：

將所述測試信號的電流值從所述驅動信號值逐步調高至預設的標準電流值。

4.根據權利要求1所述的壽命測試方法，其特征在于，所述根據所述實時光電流和所述參考亮度得到所述發光器件的實時亮度，以確定所述發光器件的壽命，包括：

根據初始時刻的實時光電流和所述參考亮度計算校正因子，所述初始時刻為所述測試信號的大小等于所述驅動信號值的時刻；

將所述初始時刻之后的實時光電流與所述校正因子的乘積作為所述發光器件的實時亮度；

根據所述發光器件的實時亮度測試所述發光器件的壽命。

5.根據權利要求4所述的壽命測試方法，其特征在于，所述根據所述發光器件的實時亮度測試所述發光器件的壽命，包括：

將所述發光器件的實時亮度與目標亮度進行比較；

當所述發光器件的實時亮度衰減至所述目標亮度時，得到所述發光器件的壽命；

其中，所述目標亮度為最大實時亮度與預設的亮度衰減百分比的乘積，所述最大實時亮度為所述測試信號達到所述標準信號值時所述發光器件的實時亮度，所述發光器件的壽命為所述發光器件的實時亮度從所述最大實時亮度衰減至所述目標亮度所經過的時長。

6.根據權利要求4所述的壽命測試方法，其特征在于，所述根據初始時刻的實時光電流和所述參考亮度計算校正因子，包括：

將所述參考亮度與所述初始時刻的實時光電流的比值作為所述校正因子。

7.根據權利要求1至6任一項所述的壽命測試方法，其特征在于，所述參考亮度為所述發光器件的發光區域上預設數量個指定位置點的亮度的平均值。

8.一種發光器件的壽命測試裝置，其特征在于，應用于終端設備，所述終端設備連接有采集裝置，所述壽命測試裝置包括：

數據獲取單元，用于獲取驅動信號值和參考亮度，所述參考亮度為所述發光器件在驅動信號下的亮度，所述驅動信號值小于預設的信號閾值；

信號控制單元，用于向所述發光器件輸出測試信號，并將所述測試信號的大小從所述驅動信號值逐步調高至預設的標準信號值；

電流獲得單元，用于通過所述采集裝置采集所述發光器件發射的光信號，獲得與所述光信號對應的實時光電流；

壽命測試單元，用于根據所述實時光電流和所述參考亮度得到所述發光器件的實時亮度，以確定所述發光器件的壽命。

9.一種終端設備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器中并可在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至7任一項所述的方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7任一項所述的方法。