[發明專利]一種秤測試裝置

在審

• 申請號: 202011221329.2
• 申請日: 2020-11-05
• 公開（公告）號: CN112229494A
• 公開（公告）日: 2021-01-15
• 發明（設計）人: 常建奎;陳一蒙;富欣;虞建忠;偰騰寬
• 申請（專利權）人: 常州艾克瑞特衡器有限公司
• 主分類號: G01G23/01
• 分類號: G01G23/01;G01G21/26
• 代理公司: 北京酷愛智慧知識產權代理有限公司 11514
• 代理人: 胡林

1.一種秤測試裝置，其特征在于，包括第一提取裝置、第二提取裝置、感量砝碼串(2)和至少一個砝碼串(1)，所述第一提取裝置能夠提取砝碼串(1)并將砝碼串(1)上的砝碼逐個添加于秤(3)的臺面上，所述第二提取裝置能夠提取感量砝碼串(2)并將感量砝碼串(2)上的感量砝碼逐個添加到秤(3)的臺面上。

2.根據權利要求1所述的一種秤測試裝置，其特征在于，所述砝碼串(1)包括上砝碼(11)、下砝碼(13)和多個中砝碼(12)，上砝碼(11)、多個中砝碼(13)和下砝碼(13)從上往下呈一列布設；

所述上砝碼(11)的圓周壁上連接有多個第一勾爪(15)，多個第一勾爪(15)沿上砝碼(11)的周向分布；

所述中砝碼(12)的圓周壁上開有第二環形凹槽(18)，中砝碼(12)的圓周壁上連接有多個第二勾爪(17)，多個所述第二勾爪(17)沿中砝碼(12)的周向分布，第二勾爪(17)位于第二環形凹槽(18)下方；

所述下砝碼(13)的圓周壁上開有第一環形凹槽(14)；

第一勾爪(15)的底部向內延伸形成第一延伸部(151)，第一延伸部(151)進入與上砝碼(11)相鄰的中砝碼(12)的第二環形凹槽(18)內，第一延伸部(151)與第二環形凹槽(18)的內壁之間具有間隙，多個第一延伸部(151)的頂壁能夠同時和第二環形凹槽(18)的頂壁接觸；

第二勾爪(17)的底部向內延伸形成第二延伸部(171)，相鄰的兩個中砝碼(12)，位于上方的中砝碼(12)上的第二延伸部(171)進入下方中砝碼(12)的第二環形凹槽(18)內，第二延伸部(171)與第二環形凹槽(18)的內壁之間具有間隙，多個第二延伸部(171)的頂壁能夠同時和第二環形凹槽(18)的頂壁接觸；

與下砝碼(13)相鄰的中砝碼(12)上的第二延伸部(171)進入第一環形凹槽(14)內，第二延伸部(171)與第一環形凹槽(14)的內壁之間具有間隙，多個第二延伸部(171)的頂壁能夠同時與第一環形凹槽(14)的頂壁接觸。

3.根據權利要求2所述的一種秤測試裝置，其特征在于，所述砝碼串(1)豎直懸空時，所述上砝碼(11)、中砝碼(12)和下砝碼(13)同軸設置。

4.根據權利要求3所述的一種秤測試裝置，其特征在于，所述上砝碼(11)的上表面連接有固定桿(16)。

5.根據權利要求4所述的一種秤測試裝置，其特征在于，所述下砝碼(13)的質量等于中砝碼(12)加設置于其上的第二勾爪(17)的質量，下砝碼(13)的質量等于上砝碼(11)加設置于其上的第一勾爪(15)以及固定桿(16)的質量。

6.根據權利要求2所述的一種秤測試裝置，其特征在于，所述上砝碼(11)上的多個第一勾爪(15)沿上砝碼(11)的周向均勻分布。

7.根據權利要求2所述的一種秤測試裝置，其特征在于，所述中砝碼(12)上的多個第二勾爪(17)沿中砝碼(12)的周向均勻分布。

8.根據權利要求1所述的一種秤測試裝置，其特征在于，還包括機架(4)，所述機架(4)的頂端和前端開放，機架(4)的底壁上設置有用于放置秤(3)的放置臺(5)，第一提取裝置和第二提取裝置均設置于機架(4)上，砝碼串(1)放置于機架(4)內。