[發(fā)明專利]一種超聲C掃局部缺陷復(fù)現(xiàn)的機(jī)械手運(yùn)動(dòng)控制方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011220254.6
• 申請(qǐng)日: 2020-11-05
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112326802B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-09-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郝娟;郭兆東;徐先純;趙恒;鄭心豪
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京理工大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N29/06
• 分類號(hào): G01N29/06;G01N29/265;B25J9/16
• 代理公司: 北京理工大學(xué)專利中心 11120
• 代理人: 高會(huì)允

1.一種超聲C掃局部缺陷復(fù)現(xiàn)的機(jī)械手運(yùn)動(dòng)控制方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1：對(duì)工件進(jìn)行超聲C掃，生成展開(kāi)圖像；

S2：在所述展開(kāi)圖像上找到缺陷復(fù)檢區(qū)，選取缺陷復(fù)檢區(qū)上兩個(gè)對(duì)角點(diǎn)A和B，則A點(diǎn)和B點(diǎn)之間的行列區(qū)域是為期望復(fù)檢區(qū)域，上位機(jī)在所述超聲展開(kāi)圖中分別提取A點(diǎn)和B點(diǎn)的行列索引值(i，j)和(m，n)；

S3：在所述展開(kāi)圖像對(duì)應(yīng)的掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包中分別提取行號(hào)在i和m之間，列號(hào)在j和n之間的位姿數(shù)據(jù)，并將位姿數(shù)據(jù)按照原行號(hào)和列號(hào)重新排序，形成復(fù)檢掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包，由工業(yè)機(jī)械手控制按照所述復(fù)檢掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包進(jìn)行復(fù)檢，具體為：

S301、以A點(diǎn)為缺陷復(fù)檢區(qū)的左上角，B點(diǎn)為缺陷復(fù)檢區(qū)的右下角點(diǎn)；A點(diǎn)和B點(diǎn)包圍區(qū)域中各像素點(diǎn)的行列索引值為(l，c)；

l的初始值取為i，c的初始值取為j；

S302、判斷l(xiāng)是否為奇數(shù)行；若是，則執(zhí)行S303，否則執(zhí)行S305；

S303、計(jì)算(l，c)在所述展開(kāi)圖像對(duì)應(yīng)的掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包中對(duì)應(yīng)位姿數(shù)據(jù)的索引序號(hào)index(l，c)為l之前各行點(diǎn)數(shù)之和加上c；

S304、c自增1，判斷c≤n是否成立，若是則返回S303，否則執(zhí)行S307；

S305、計(jì)算(l，c)在所述展開(kāi)圖像對(duì)應(yīng)的掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包中對(duì)應(yīng)位姿數(shù)據(jù)的索引序號(hào)index(l，c)為l行以及l(fā)之前各行點(diǎn)數(shù)之和減去c-1；

S306、c自減1，判斷c≥j是否成立，若是則返回S305，否則執(zhí)行S307；

S307、l自增1，判斷l(xiāng)≤m是否成立，若是則返回S302，否則執(zhí)行S308；

S308、在所述展開(kāi)圖像對(duì)應(yīng)的掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包中，提取與A、B點(diǎn)包圍區(qū)域中各像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)的位姿數(shù)據(jù)的索引序號(hào)index(l，c)，l取遍[I,m]中整數(shù)，c取遍[j,n]中整數(shù)；并將位姿數(shù)據(jù)按照原行號(hào)和列號(hào)重新排序，形成復(fù)檢掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述S1中，所述超聲C掃的掃查運(yùn)動(dòng)由工業(yè)機(jī)械手控制，掃查模式是逐行逐點(diǎn)往復(fù)掃查。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述展開(kāi)圖像是左對(duì)齊，逐行逐點(diǎn)繪制，展開(kāi)圖像上的每個(gè)像素點(diǎn)對(duì)應(yīng)唯一的行列號(hào)。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，S3中，所述由所述工業(yè)機(jī)械手控制按照所述復(fù)檢掃查運(yùn)動(dòng)軌跡點(diǎn)包進(jìn)行復(fù)檢之后，還包括，得到新的展開(kāi)圖像，返回S2，找到新的缺陷復(fù)檢區(qū)，進(jìn)行再次復(fù)檢。