[發(fā)明專利]產(chǎn)品缺陷位置分布獲取方法和裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011219663.4
• 申請日: 2020-11-05
• 公開（公告）號: CN112102316B
• 公開（公告）日: 2021-02-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 師文慶;韓錦;潘正頤
• 申請（專利權(quán)）人: 常州微億智造科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/70;G01N21/88
• 代理公司: 常州佰業(yè)騰飛專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32231
• 代理人: 陳紅橋

1.一種產(chǎn)品缺陷位置分布獲取方法，其特征在于，包括以下步驟：

獲取產(chǎn)品圖像并確定所述產(chǎn)品圖像中缺陷位置的像素坐標(biāo)；

將產(chǎn)品圖像的像素坐標(biāo)范圍映射到經(jīng)緯度范圍，以得到所述產(chǎn)品圖像中缺陷位置的經(jīng)緯度信息；

通過Geohash算法將所述產(chǎn)品圖像中缺陷位置的經(jīng)緯度信息轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的字符串；

根據(jù)所述字符串獲取所述產(chǎn)品圖像中的缺陷位置分布，

其中，根據(jù)所述字符串獲取所述產(chǎn)品圖像中的缺陷位置分布，具體包括：通過字符串之間相同前綴進(jìn)行分組，并對每組字符串進(jìn)行求和；按照和值由大到小的順序?qū)Χ嘟M字符串進(jìn)行排序以得到組序列，并取所述組序列中的前N組字符串實(shí)現(xiàn)熱力區(qū)域統(tǒng)計(jì)，其中，N為正整數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品缺陷位置分布獲取方法，其特征在于，通過Geohash算法將所述產(chǎn)品圖像中缺陷位置的經(jīng)緯度信息轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的字符串，具體包括：

將所述經(jīng)緯度信息中的經(jīng)度和緯度分別轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的二進(jìn)制碼并合并；

將合并后的二進(jìn)制碼按照Base32進(jìn)行編碼以得到相應(yīng)的字符串。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品缺陷位置分布獲取方法，其特征在于，根據(jù)所述字符串獲取所述產(chǎn)品圖像中的缺陷位置分布，具體包括：

通過字符串之間相同前綴的字符數(shù)判斷缺陷位置點(diǎn)之間的距離。

4.一種產(chǎn)品缺陷位置分布獲取裝置，其特征在于，包括：

第一獲取模塊，用于獲取產(chǎn)品圖像并確定所述產(chǎn)品圖像中缺陷位置的像素坐標(biāo)；

映射模塊，用于將產(chǎn)品圖像的像素坐標(biāo)范圍映射到經(jīng)緯度范圍，以得到所述產(chǎn)品圖像中缺陷位置的經(jīng)緯度信息；

轉(zhuǎn)換模塊，用于通過Geohash算法將所述產(chǎn)品圖像中缺陷位置的經(jīng)緯度信息轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的字符串；

第二獲取模塊，用于根據(jù)所述字符串獲取所述產(chǎn)品圖像中的缺陷位置分布，

所述第二獲取模塊具體用于通過字符串之間相同前綴進(jìn)行分組，并對每組字符串進(jìn)行求和，按照和值由大到小的順序?qū)Χ嘟M字符串進(jìn)行排序以得到組序列，并取所述組序列中的前N組字符串實(shí)現(xiàn)熱力區(qū)域統(tǒng)計(jì)，其中，N為正整數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的產(chǎn)品缺陷位置分布獲取裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換模塊具體用于將所述經(jīng)緯度信息中的經(jīng)度和緯度分別轉(zhuǎn)換為相應(yīng)的二進(jìn)制碼并合并，將合并后的二進(jìn)制碼按照Base32進(jìn)行編碼以得到相應(yīng)的字符串。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的產(chǎn)品缺陷位置分布獲取裝置，其特征在于，所述第二獲取模塊具體用于通過字符串之間相同前綴的字符數(shù)判斷缺陷位置點(diǎn)之間的距離。

7.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)，實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的產(chǎn)品缺陷位置分布獲取方法。

8.一種非臨時(shí)性計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，該計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項(xiàng)所述的產(chǎn)品缺陷位置分布獲取方法。