[發(fā)明專利]一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011211069.0
• 申請(qǐng)日: 2020-11-03
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112379252B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-07-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 席禹;陳浩敏;姚森敬;于力;辛文成;姜臻;張凡;敖榜
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 南方電網(wǎng)數(shù)字電網(wǎng)研究院有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/327
• 分類號(hào): G01R31/327
• 代理公司: 廣州華進(jìn)聯(lián)合專利商標(biāo)代理有限公司 44224
• 代理人: 陳金普

本申請(qǐng)涉及一種一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)，包括第一測(cè)試裝置、第二測(cè)試裝置和測(cè)試控制裝置，第一測(cè)試裝置和第二測(cè)試裝置連接測(cè)試控制裝置，第一測(cè)試裝置連接一二次融合柱上開(kāi)關(guān)的一次設(shè)備，第二測(cè)試裝置連接一二次融合柱上開(kāi)關(guān)的二次設(shè)備；測(cè)試控制裝置發(fā)送一次獨(dú)立測(cè)試指令至第一測(cè)試裝置并接收第一測(cè)試裝置對(duì)一次設(shè)備獨(dú)立測(cè)試返回的測(cè)試數(shù)據(jù)，發(fā)送二次獨(dú)立測(cè)試指令至第二測(cè)試裝置并接收第二測(cè)試裝置對(duì)二次設(shè)備獨(dú)立測(cè)試返回的測(cè)試數(shù)據(jù)，發(fā)送聯(lián)合測(cè)試指令至第一測(cè)試裝置和第二測(cè)試裝置并接收返回的測(cè)試數(shù)據(jù)；以及對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到測(cè)試結(jié)果。采用本申請(qǐng)可以實(shí)現(xiàn)對(duì)一二次融合柱上開(kāi)關(guān)的獨(dú)立測(cè)試和聯(lián)合測(cè)試，提升測(cè)試可靠性和測(cè)試質(zhì)量。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)涉及電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)。

背景技術(shù)

隨著智能化技術(shù)的不斷發(fā)展，成套設(shè)計(jì)的柱上開(kāi)關(guān)逐步成為主流，成套設(shè)計(jì)的一二次融合柱上開(kāi)關(guān)由控制部分的設(shè)備(FTU)和一次部分的設(shè)備(斷路器)組成，二者分別承擔(dān)斷路器控制和一次連接開(kāi)斷工作。

傳統(tǒng)的一二次融合柱上開(kāi)關(guān)，其一次設(shè)備和二次設(shè)備在設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試等環(huán)節(jié)中彼此獨(dú)立，分別由不同廠家設(shè)計(jì)、制造和測(cè)試。這種彼此獨(dú)立測(cè)試的方法不僅造成了測(cè)試過(guò)程漫長(zhǎng)，且僅能測(cè)試一次設(shè)備或二次設(shè)備本身的質(zhì)量，無(wú)法測(cè)試一次設(shè)備、二次設(shè)備兩部分合并使用時(shí)的功能、性能是否滿足運(yùn)行需求，測(cè)試可靠性低。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題，提供一種可以提高測(cè)試可靠性的一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)。

一種一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)，包括第一測(cè)試裝置、第二測(cè)試裝置和測(cè)試控制裝置，所述第一測(cè)試裝置和所述第二測(cè)試裝置連接所述測(cè)試控制裝置，且所述第一測(cè)試裝置用于連接一二次融合柱上開(kāi)關(guān)的一次設(shè)備，所述第二測(cè)試裝置用于連接一二次融合柱上開(kāi)關(guān)的二次設(shè)備；

所述測(cè)試控制裝置發(fā)送一次獨(dú)立測(cè)試指令至所述第一測(cè)試裝置，所述第一測(cè)試裝置根據(jù)所述一次獨(dú)立測(cè)試指令對(duì)所述一次設(shè)備進(jìn)行獨(dú)立測(cè)試并返回測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試控制裝置發(fā)送二次獨(dú)立測(cè)試指令至所述第二測(cè)試裝置，所述第二測(cè)試裝置根據(jù)所述二次獨(dú)立測(cè)試指令對(duì)所述二次設(shè)備進(jìn)行獨(dú)立測(cè)試并返回測(cè)試數(shù)據(jù)，所述測(cè)試控制裝置發(fā)送聯(lián)合測(cè)試指令至所述第一測(cè)試裝置和所述第二測(cè)試裝置，所述第一測(cè)試裝置和所述第二測(cè)試裝置分別根據(jù)所述聯(lián)合測(cè)試指令對(duì)所述第一設(shè)備和所述二次設(shè)備進(jìn)行聯(lián)合測(cè)試并返回測(cè)試數(shù)據(jù)；所述測(cè)試控制裝置對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到測(cè)試結(jié)果。

上述一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)，通過(guò)采用測(cè)試控制裝置控制第一測(cè)試裝置對(duì)一次設(shè)備進(jìn)行獨(dú)立測(cè)試、控制第二測(cè)試裝置對(duì)二次設(shè)備進(jìn)行獨(dú)立測(cè)試、控制第一測(cè)試裝置和第二測(cè)試裝置對(duì)一次設(shè)備和二次設(shè)備進(jìn)行聯(lián)合測(cè)試，并根據(jù)測(cè)試得到的測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析得到測(cè)試結(jié)果，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)一二次融合柱上開(kāi)關(guān)中一次設(shè)備和二次設(shè)備的獨(dú)立測(cè)試和聯(lián)合測(cè)試，使得在具備獨(dú)立測(cè)試功能的基礎(chǔ)上，具備聯(lián)合測(cè)試功能，不需要將對(duì)一次設(shè)備和二次設(shè)備的測(cè)試進(jìn)行分開(kāi)，打破傳統(tǒng)的對(duì)一次設(shè)備、二次設(shè)備分開(kāi)測(cè)試的現(xiàn)狀，可以測(cè)試一次設(shè)備和二次設(shè)備合并使用時(shí)的情況，從而提升對(duì)一二次融合柱上開(kāi)關(guān)的測(cè)試可靠性和測(cè)試質(zhì)量。

附圖說(shuō)明

為了更清楚地說(shuō)明本申請(qǐng)實(shí)施例或傳統(tǒng)技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或傳統(tǒng)技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見(jiàn)地，下面描述中的附圖僅僅是本申請(qǐng)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為一實(shí)施例中一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖；

圖2為一實(shí)施例中對(duì)一二次融合柱上開(kāi)關(guān)測(cè)試的流程示意圖；

圖3為一個(gè)實(shí)施例中第一測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)框圖；

圖4為一實(shí)施例中對(duì)一次設(shè)備進(jìn)行獨(dú)立測(cè)試的流程示意圖；

圖5為一個(gè)實(shí)施例中第二測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)框圖；