[發明專利]一種軸承機械雜質表面凹凸度立體檢測方法

在審

• 申請號: 202011208723.2
• 申請日: 2020-11-03
• 公開（公告）號: CN112325807A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 俞繼瑤;王衛戰;鄒燕珍;楊喜軍;盧振偉;文婧;牛麗麗;邢琿琿
• 申請（專利權）人: 洛陽LYC軸承有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 洛陽明律專利代理事務所(普通合伙) 41118
• 代理人: 李娟

1.一種軸承機械雜質表面凹凸度立體檢測方法，其特征在于：檢測方法通過帶有圖像分析軟件以及可沿X/Y/Z軸方向自由移動式載物平臺并可記錄載物臺位移的顯微鏡實現軸承機械雜質表面凹凸度立體分析測量，檢測方法具體如下：

1）將含有軸承機械雜質的濾膜置于顯微鏡載物平臺上，并通過控制載物平臺X/Y/Z軸方向移動，確定一需進行機械雜質表面凹凸度立體分析的目標雜質并使之位于顯微鏡視野中央并清晰聚焦；

2）轉換顯微鏡物鏡鏡頭至200倍以上倍數，微微轉動顯微鏡細準焦螺旋將將焦點聚焦在過濾紙表面臨近要檢測顆粒的微小顆粒上并從顯微鏡鏡頭內能夠清楚看到過濾紙的底邊紋路，該載物平臺所在平面確定為軸承雜質顆粒在濾紙上的基準面，設定此時Z軸位置數據為0；

3）機械雜質顆粒表面凹凸度立體測定：調節X/ Y軸向旋鈕移動載物平臺選定該軸承機械雜質顆粒上的多個分散點，通過移動載物平臺將選定的分散點置于視野正下方并分別調節細準焦螺旋至每個分散點分別聚焦，記錄各分散檢測點聚焦時的Z軸位移數據，通過所記錄的多個分散檢測點的位移數據結合各點在目標雜質顆粒上的平面位置借助輔助工具繪制雜質表面空間立體圖，根據立體圖經分析得到軸承機械雜質顆粒的表面立體凹凸度；

4）通過該方法可對軸承機械雜質顆粒表面任意一點定點高度進行數據分析，并可對局部區域以及重點磨損區域進行凹凸度立體檢測。

2.如權利要求1所述的一種軸承機械雜質表面凹凸度立體檢測方法，其特征在于：多個所述分散點的選取：在待檢測顆最左端點以及最右端點之間的距離四等分后，在雜質上緣、下緣各得n個點；在雜質上緣、下緣的n個點以及最左端點、最右端點所形成的環狀內再選取N個點，通過調節載物平臺X/ Y軸向旋鈕分別將所選取的點置于視野的正下方，以極緩慢的速度微調顯微鏡細準焦螺旋分別對該2n+2個點依次找到臨界焦點，并記錄測量該2n+2個點Z軸的位移數據。