[發(fā)明專利]一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片

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• 申請日: 2020-11-03
• 公開（公告）號: CN112198100A
• 公開（公告）日: 2021-01-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄧龍龍;周宗斌;蘭芳芳;袁野;王乾坤;化利東;呂峰;陳品品;徐傳超
• 申請（專利權(quán)）人: 安徽安光環(huán)境科技有限公司
• 主分類號: G01N15/06
• 分類號: G01N15/06
• 代理公司: 安徽合肥華信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34112
• 代理人: 余成俊

本發(fā)明公開了一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片，在保證儀器測量精度及測量設(shè)備之間一致性上實現(xiàn)了突破性的創(chuàng)新，采用本發(fā)明中的用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片克服了現(xiàn)有射線法顆粒物監(jiān)測儀器校準(zhǔn)周期長、校準(zhǔn)膜片制作工藝復(fù)雜、在不同地區(qū)或不同氣候環(huán)境下測量值不準(zhǔn)的問題；用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片作為監(jiān)測儀器的一部分，顆粒物監(jiān)測儀通過測量穿過兩張面密度不同的標(biāo)準(zhǔn)膜片的β粒子計數(shù)可對設(shè)備的um進(jìn)行校準(zhǔn)，從而使儀器測得的顆粒物濃度更加準(zhǔn)確。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及大氣顆粒物監(jiān)測部件領(lǐng)域，具體是一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片。

背景技術(shù)

目前大氣顆粒物的常用的監(jiān)測方法有：重量法、射線吸收法、振蕩微量天平法。其中的射線吸收法原理為β射線穿過待測定物質(zhì)后，其強(qiáng)度衰減程度僅與被穿透物質(zhì)的質(zhì)量有關(guān)，而與其物理、化學(xué)性能無關(guān)。目前，β射線法已經(jīng)成為大氣環(huán)境顆粒物濃度的連續(xù)自動監(jiān)測儀的主要測量方法之一。β射線法測量大氣顆粒物濃度的理論公式如式（1）所示：

(1)

式（1）中：

C—大氣顆粒物濃度（）；

A—采樣時留在濾紙上的塵斑面積，監(jiān)測設(shè)備制成后為確定的定值；

Q—采樣流量（L/min）,需與相應(yīng)的顆粒物切割器匹配，監(jiān)測設(shè)備制成后為確定的定值；

—塵斑采集所用時間，監(jiān)測設(shè)備制成后為確定的定值；

—通過空白濾紙帶的β粒子計數(shù)值；

—通過采集塵斑后濾紙帶的β粒子計數(shù)值；

—質(zhì)量吸收系數(shù)，與放射源能量、β射線計數(shù)器特性、濾紙帶材質(zhì)等因素有關(guān)，監(jiān)測設(shè)備制成后為定值。該值需要通過對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)獲得。

目前，國內(nèi)外大多數(shù)廠家采用射線法監(jiān)測儀器與稱重法監(jiān)測儀器比對測試來反演設(shè)備的 值，該方法存在比對測試時間長，且受測試過程中設(shè)備所處環(huán)境影響無法保證對設(shè)備進(jìn)行滿量程校準(zhǔn)。中國環(huán)境科學(xué)研究院公布了一種處理濾膜得到校準(zhǔn)塵膜的方法以及一種由校準(zhǔn)塵膜進(jìn)行場外校準(zhǔn)的方法，該方法通過篩選一批符合特定要求的濾膜作為基體濾膜，在實際環(huán)境中處理得到校準(zhǔn)塵膜。通過測量采樣前后的β粒子計數(shù)值，反推出修正系數(shù)K，使用修正系數(shù)K對射線法顆粒物分析儀進(jìn)行修正。使用該校準(zhǔn)塵膜對射線法顆粒物分析儀校準(zhǔn)，校準(zhǔn)后射線法顆粒物分析儀所測濃度更加接近于手工濃度。該方法獲得校準(zhǔn)膜片的操作復(fù)雜、周期長，同樣也受實際環(huán)境中顆粒物濃度等制約，無法批量用于顆粒物監(jiān)測設(shè)備的校準(zhǔn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明提供了一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片，以解決上述顆粒物監(jiān)測儀在校準(zhǔn)過程中存在校準(zhǔn)周期長、膜片制作工藝復(fù)雜、校準(zhǔn)精度受顆粒物監(jiān)測儀校準(zhǔn)過程中環(huán)境制約等問題。

為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明所采用的技術(shù)方案為：

一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片，其特征在于：包括兩種不同面密度的標(biāo)準(zhǔn)膜片，其中一種面密度的標(biāo)準(zhǔn)膜片作為基膜膜片，另一種面密度的標(biāo)準(zhǔn)膜片作為跨度膜片，所述基膜膜片的面密度與顆粒物監(jiān)測儀器所用的空白濾紙面密度相近或相同，所述跨度膜片的面密度與顆粒物監(jiān)測儀器在滿量程時帶塵斑的濾紙面密度相近或相同。

所述的一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片，其特征在于：所述的面密度相近是指膜片的面密度與空白濾紙或帶塵斑濾紙面密度差值在設(shè)定的范圍內(nèi)。

所述的一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片，其特征在于：基膜膜片、跨度膜片的面密度均由其質(zhì)量與面積的比值得到。

所述的一種用于射線法顆粒物監(jiān)測儀的校準(zhǔn)膜片，其特征在于：所述標(biāo)準(zhǔn)膜片配置有模架和貼膜，模架中開有通孔，標(biāo)準(zhǔn)膜片放置于模架上并完全覆蓋通孔，貼膜貼在標(biāo)準(zhǔn)膜片和標(biāo)準(zhǔn)膜片周圍的模架上，使標(biāo)準(zhǔn)膜片固定于模架。