[發(fā)明專利]一種復(fù)雜電池阻抗譜解析方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011206618.5 | 申請日: | 2020-11-03 |
| 公開(公告)號: | CN112540316B | 公開(公告)日: | 2022-07-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王康麗;王晟;蔣凱;程時杰 | 申請(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號: | G01R31/389 | 分類號: | G01R31/389;G01N27/02;G01R31/378;G01R31/382 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 42201 | 代理人: | 李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 復(fù)雜 電池 阻抗 解析 方法 | ||
1.一種復(fù)雜電池阻抗譜解析方法,其特征在于,包括:
S1.對電池進(jìn)行阻抗譜測試,得到測試頻率和對應(yīng)的交流復(fù)阻抗;
S2.在交流復(fù)阻抗數(shù)據(jù)中減去阻感部分阻抗,得到后續(xù)用于弛豫時間分布解析的極化部分阻抗;
S3.采用分段線性插值方法對弛豫時間分布函數(shù)進(jìn)行離散化處理,建立極化部分阻抗和弛豫時間分布函數(shù)之間的線性關(guān)系;
S4.以極化部分阻抗測量值和擬合值之間的絕對誤差模最小為優(yōu)化目標(biāo),構(gòu)建求解弛豫時間分布函數(shù)的最優(yōu)化問題,并采用正則化方法使所述最優(yōu)化問題趨于適定;其中,加入的正則項為一階導(dǎo)數(shù)平方和形式,正則化系數(shù)的選擇通過交叉驗證方法完成;步驟S4采用正則化方法使最優(yōu)化問題趨于適定后,弛豫時間分布函數(shù)的求解轉(zhuǎn)化為以下最優(yōu)化問題:
s.t.γ′≥0
其中,α為正則化系數(shù),用于調(diào)整正則項在目標(biāo)函數(shù)中的比重;A1和A2為權(quán)值矩陣:
fm為第m個測試頻率,τn為第n個插值點的時間常數(shù);xn為分段線性插值過程中采取的插值點;γ'=[γ'(x1),γ'(x2),…,γ'(xN)]T為待求的弛豫時間分布函數(shù)值列向量;N為插值點數(shù);Zp表示極化部分阻抗;
Δn=xn+1-xn;
經(jīng)簡化,所述最優(yōu)化問題能夠轉(zhuǎn)化為不等式約束的凸二次規(guī)劃問題:
S5.采用有效集法求解上述凸二次規(guī)劃問題,得到弛豫時間分布函數(shù)的最優(yōu)近似解,函數(shù)曲線的峰值位置和覆蓋面積分別對應(yīng)了相應(yīng)電化學(xué)過程的時間常數(shù)和極化電阻。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種復(fù)雜電池阻抗譜解析方法,其特征在于,步驟S1還包括根據(jù)K-K轉(zhuǎn)換關(guān)系檢驗阻抗數(shù)據(jù)的可靠性。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種復(fù)雜電池阻抗譜解析方法,其特征在于,步驟S2具體包括:
01.從測試得到的交流復(fù)阻抗中選擇J個連續(xù)的感性阻抗數(shù)據(jù)點對電池等效電路中的歐姆電阻R0和高頻電感L進(jìn)行最小二乘估計:
所述電池等效電路包括串聯(lián)的高頻電感L和歐姆電阻R0,以及多個相互串聯(lián)的RC回路;Zj為第J個交流阻抗數(shù)據(jù),fj為對應(yīng)的交流頻率;
02.在交流復(fù)阻抗數(shù)據(jù)中減去阻感部分阻抗,得到極化部分阻抗:
Zp(f)=Z(f)-R0-i2πfL
其中,Zp(f)表示極化部分阻抗,Z(f)表示交流復(fù)阻抗數(shù)據(jù),f為測試頻率。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的一種復(fù)雜電池阻抗譜解析方法,其特征在于,步驟S3中極化部分阻抗和弛豫時間分布函數(shù)之間的線性關(guān)系為:
ZDRT(x,f)≈A1(x,f)γ′+iA2(x,f)γ′
ZDRT表示以弛豫時間分布函數(shù)為自變量的阻抗模型,x=[x1,x2,…,xN]T為插值點列向量,f=[f1,f2,…,fM]T為頻率點列向量。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種復(fù)雜電池阻抗譜解析方法,其特征在于,分段線性插值的插值點數(shù)為2500。
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