[發明專利]一種太陽能電池的金屬-半導體復合電流密度的檢測方法

在審

• 申請號: 202011204147.4
• 申請日: 2020-11-02
• 公開（公告）號: CN114448350A
• 公開（公告）日: 2022-05-06
• 發明（設計）人: 楊慧;李碩;沈雯;鄧偉偉;蔣方丹
• 申請（專利權）人: 阿特斯陽光電力集團股份有限公司
• 主分類號: H02S50/10
• 分類號: H02S50/10;H02S50/15
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明公開了一種太陽能電池的金屬?半導體復合電流密度的檢測方法。所述太陽能電池的金屬?半導體復合電流密度的檢測方法包括：制備測試樣片以及表征樣片；測試表征樣片，以獲得單面復合電流密度；采用光致發光設備測試測試樣片，根據測試數據計算獲得各金屬化區域的總電流密度；計算各金屬化區域的金屬化面積；根據各金屬化區域的金屬化面積以及總電流密度，確定金屬化面積與總電流密度的第一關系式中，金屬化面積的系數值；提取第一關系式中金屬化面積的系數公式；根據系數值、單面復合電流密度以及系數公式，計算獲得金屬?半導體復合電流密度。本發明實施例提供的技術方案，簡化了金屬?半導體復合電流的測試過程，提高了測量結果的準確性。

技術領域

本發明實施例涉及太陽能電池技術領域，尤其涉及一種太陽能電池的金屬-半導體復合電流密度的檢測方法。

背景技術

太陽能電池的電流復合損失主要包括發射極復合損失、前表面金屬-半導體復合損失、體材料復合損失、背表面復合損失及背表面金屬-半導體復合損失。其中，包括前表面金屬-半導體復合損失和背表面金屬-半導體復合損失在內的金屬-半導體復合損失占據了很大的比例。為了提高太陽能電池的轉化效率，準確測試金屬-半導體復合電流并對其進行優化尤為重要。

目前常用金屬-半導體復合電流的測試方法包括如下兩種：洗金屬法和Suns_Voc法。其中，洗金屬法需要用王水洗去發射極表面的金屬，再用WCT-120設備進行測試，該方法制樣復雜，且受金屬殘留影響，測試結果波動較大，準確性較差。Suns_Voc法則需要在電池片背面印刷全背鋁漿料，再用Suns_Voc設備測試，該方法成本較大，且受氙燈光照不均勻影響，測試結果波動較大，準確性較差。

發明內容

本發明提供一種太陽能電池的金屬-半導體復合電流密度的檢測方法，以簡化金屬-半導體復合電流的測試過程，提高測量結果的準確性。

本發明實施例提供了一種太陽能電池的金屬-半導體復合電流密度的檢測方法，包括：

制備測試樣片以及表征樣片；所述測試樣片的一側表面具有金屬網絡，所述金屬網絡包括多個金屬化區域以及一個非金屬化區域，所述非金屬化區域的面積大于光致發光設備中感測線圈所在區域的面積；所述表征樣片僅包括非金屬化區域；

測試所述表征樣片，以獲得單面復合電流密度；

采用光致發光設備測試所述測試樣片，根據測試數據計算獲得各所述金屬化區域的總電流密度；

計算各所述金屬化區域的金屬化面積；

根據各金屬化區域的金屬化面積以及總電流密度，確定金屬化面積與總電流密度的第一關系式中，金屬化面積的系數值；

提取所述第一關系式中金屬化面積的系數公式；

根據所述系數值、所述單面復合電流密度以及所述系數公式，計算獲得所述金屬-半導體復合電流密度。

本發明實施例提供的技術方案，通過制備測試樣片以及表征樣片，測試表征樣片，以獲得單面復合電流密度，采用光致發光設備測試測試樣片，根據測試數據計算獲得各金屬化區域的總電流密度，計算各金屬化區域的金屬化面積，根據各金屬化區域的金屬化面積以及總電流密度，確定金屬化面積與總電流密度的第一關系式中，金屬化面積的系數值，提取第一關系式中金屬化面積的系數公式，根據系數值、單面復合電流密度以及系數公式，計算獲得金屬-半導體復合電流密度，達到了簡化金屬-半導體復合電流的測試過程，提高測量結果的準確性的有益效果。

附圖說明

通過閱讀參照以下附圖所作的對非限制性實施例所作的詳細描述，本發明的其它特征、目的和優點將會變得更明顯：

圖1是本發明實施例提供的一種太陽能電池的金屬-半導體復合電流密度的檢測方法的流程示意圖；

圖2是本發明實施例提供的一種制備測試樣片以及表征樣片的方法流程示意圖；