[發明專利]一種多溫度起始磁化曲線校準方法

有效

• 申請號: 202011204032.5
• 申請日: 2020-11-02
• 公開（公告）號: CN112394306B
• 公開（公告）日: 2021-08-24
• 發明（設計）人: 唐妍梅;李翔;曾敏玉;唐慶;梅志巍
• 申請（專利權）人: 廣西師范大學
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12;G01R33/00
• 代理公司: 桂林市持衡專利商標事務所有限公司 45107
• 代理人: 唐智芳

1.一種多溫度起始磁化曲線校準方法，包括以下步驟：

1)獲得被測材料的較大質量的樣品，采用超導量子磁強計測量該樣品在一個較小磁場強度下的磁化強度-溫度曲線；其中，所述較大質量的樣品為3~5mg，所述較小磁場強度為1000~5000奧斯特；

2)獲得n個被測材料的較小質量的樣品，預設n個選定溫度，以一個樣品對應一個選定溫度的方式采用超導量子磁強計或振動樣品磁強計測量這些樣品在相應選定溫度下的起始磁化曲線，得到n條待校準起始磁化曲線；其中，所述較小質量的樣品為1~2mg；

3)利用步驟1)所得的磁化強度-溫度曲線，求取步驟2)所得各條待校準起始磁化曲線的校正系數b_i；具體實現步驟包括：

3.1)在步驟1)所得的磁化強度-溫度曲線上找出對應于步驟2)中選定溫度的點，分別記錄與這些點對應的磁化強度，記為M_Di；

3.2)在步驟2)所得的各條待校準起始磁化曲線上分別找出對應于步驟1)中所述較小磁場強度的點，分別記錄與這些點對應的磁化強度，記為M_Ei；

3.3)利用公式b_i =M_Di /M_Ei求得步驟2)所得各條待校準起始磁化曲線的校正系數b_i；

4)根據步驟3)所得各條待校準起始磁化曲線的校正系數b_i對相應的待校準起始磁化曲線進行校準；

上述各步驟中，n為大于或等于1的正整數；i為正整數，其取值范圍為[1，n]；

步驟1)和步驟2)中，所述被測材料為PrFe₂合金。

2.根據權利要求1所述的多溫度起始磁化曲線校準方法，其特征是，步驟4)中，所述根據步驟3)所得各條待校準起始磁化曲線的校正系數b_i對相應的待校準起始磁化曲線進行校準是指，將所述待校準起始磁化曲線的各磁化強度數值分別乘以與所述待校準起始磁化曲線對應的校正系數，所得新的磁化強度數值構成的曲線即為校準后的起始磁化曲線。