[發明專利]一種采樣分辨率的獲取方法及裝置和模數轉化器在審
| 申請號： | 202011202117.X | 申請日： | 2020-11-02 |
| 公開（公告）號： | CN112217518A | 公開（公告）日： | 2021-01-12 |
| 發明（設計）人： | 張杰;胡娜 | 申請（專利權）人： | 北京星云能動科技有限公司 |
| 主分類號： | H03M1/12 | 分類號： | H03M1/12 |
| 代理公司： | 北京智晨知識產權代理有限公司 11584 | 代理人： | 張婧 |
| 地址： | 102200 北京市昌平區*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 采樣 分辨率 獲取 方法 裝置 轉化 | ||
1.一種采樣分辨率的獲取方法，其特征在于，包括：
獲取運放電路參數，擋位調整信號DA和采樣信號一；
根據所述運放電路參數和擋位調整信號，對所述采樣信號一S1進行信號處理，獲取采樣信號二S2；
根據所述采樣信號一S1和所述采樣信號二S2，獲取采樣分辨率。
2.如權利要求1所述的采樣分辨率的獲取方法，其特征在于，所述擋位調整信號為模擬信號。
3.如權利要求1或2所述的采樣分辨率的獲取方法，其特征在于，所述運放電路參數包括：參考電阻Rf和第一電阻R1。
4.如權利要求3所述的采樣分辨率的獲取方法，其特征在于，所述采樣信號二S2與所述采樣信號一S1的關系如下：
S2＝S1*(1+(Rf/R1))-DA*(Rf/R1)；
其中，所述Rf為參考電阻阻值；R1為第一電阻阻值；DA為擋位調整信號的信號值。
5.一種采樣分辨率的獲取裝置，其特征在于，該裝置包括：
信息獲取單元，用于獲取運放電路參數，擋位調整信號DA和采樣信號一；
信號處理單元，用于根據所述運放電路參數和擋位調整信號，對所述采樣信號一S1進行信號處理，獲取采樣信號二S2；
采樣獲取單元，用于根據所述采樣信號一S1和所述采樣信號二S2，獲取采樣分辨率。
6.如權利要求5所述的采樣分辨率的獲取裝置，其特征在于，所述擋位調整信號為模擬信號。
7.如權利要求5或6所述的采樣分辨率的獲取裝置，其特征在于，所述運放電路參數包括：參考電阻Rf和第一電阻R1。
8.如權利要求7所述的采樣分辨率的獲取裝置，其特征在于，所述采樣信號二S2與所述采樣信號一S1的關系如下：
S2＝S1*(1+(Rf/R1))-DA*(Rf/R1)；
其中，所述Rf為參考電阻阻值；R1為第一電阻阻值；DA為擋位調整信號的信號值。
9.一種模數轉化器，其特征在于，包括：如權利要求5-8中任意一項所述的采樣分辨率的獲取裝置。
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