[發(fā)明專利]基于多元光學(xué)計算的近紅外光譜測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011200158.5
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112345489B
• 公開（公告）日: 2022-12-13
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 邵學(xué)廣;段潮舒;蔡文生
• 申請（專利權(quán)）人: 南開大學(xué)
• 主分類號: G01N21/359
• 分類號: G01N21/359;G06F17/16;G06F17/18
• 代理公司: 北京遠(yuǎn)大卓悅知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11369
• 代理人: 史霞

1.基于多元光學(xué)計算的近紅外光譜測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟一、獲取標(biāo)準(zhǔn)樣品的近紅外光譜進(jìn)行建模，得到系數(shù)向量，將所述系數(shù)向量映射到近紅外光譜儀的MEMS芯片單元以此設(shè)置其微鏡的開關(guān)狀態(tài)構(gòu)成測量模式，形成光學(xué)濾波器；

步驟二、一個所述光學(xué)濾波器對應(yīng)建立一個測量模式，利用所述模式對待測樣本進(jìn)行測量，待測樣品信息通過所述光學(xué)濾波器得到光調(diào)制，在測量過程中完成多元光學(xué)計算，得到的檢測值即為分析結(jié)果，直接實現(xiàn)對樣品的定性定量分析；

其中，所述標(biāo)準(zhǔn)樣品的近紅外光譜為模式序列近紅外光譜的近紅外光譜，所述模式序列近紅外光譜的構(gòu)建方法為：建立數(shù)據(jù)陣列作為模式序列，建立起所述模式序列中每一模式與光譜儀的芯片單元的開關(guān)狀態(tài)的對應(yīng)關(guān)系，并將每個所述模式中所確定的n*m微鏡單元開關(guān)狀態(tài)的信息傳遞到所述芯片單元；在每個所述模式下分別測量出樣品的近紅外光譜數(shù)據(jù)，獲得樣品的模式序列近紅外光譜數(shù)據(jù)。

2.如權(quán)利要求1所述的基于多元光學(xué)計算的近紅外光譜測試方法，其特征在于，步驟一中，采用化學(xué)計量學(xué)方法建模，所述化學(xué)計量學(xué)方法包括偏最小二乘法、主成分回歸法或多元線性回歸。

3.如權(quán)利要求1所述的基于多元光學(xué)計算的近紅外光譜測試方法，其特征在于，步驟一中，所述系數(shù)向量是設(shè)計所述光學(xué)濾波器的模板，所述系數(shù)向量信息經(jīng)處理后傳遞給芯片單元。

4.如權(quán)利要求1所述的基于多元光學(xué)計算的近紅外光譜測試方法，其特征在于，當(dāng)所述系數(shù)向量均為正值時，建立一個所述光學(xué)濾波器，一個所述光學(xué)濾波器對應(yīng)建立一個測量模式，該模式下的樣品的測量值與樣品濃度成比例。

5.如權(quán)利要求1所述的基于多元光學(xué)計算的近紅外光譜測試方法，其特征在于，當(dāng)系數(shù)向量同時有正值數(shù)據(jù)和負(fù)值數(shù)據(jù)時，建立兩個所述光學(xué)濾波器，其中以所述系數(shù)向量的正值數(shù)據(jù)建立的光學(xué)濾波器作為第一光學(xué)濾波器，以所述系數(shù)向量的負(fù)值數(shù)據(jù)建立的光學(xué)濾波器作為第二光學(xué)濾波器，同時對應(yīng)建立兩個測量模式，該兩個模式的測量值的差值與樣品濃度成比例。

6.如權(quán)利要求5所述的基于多元光學(xué)計算的近紅外光譜測試方法，其特征在于，所述差值為以所述第一光學(xué)濾波器對應(yīng)的模式測量值與所述第二光學(xué)濾波器對應(yīng)的模式測量值的差。