[發(fā)明專利]用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法、裝置、系統(tǒng)及介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011196305.6
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN114527317A
• 公開（公告）日: 2022-05-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊連喬;簡毛亮;張弛;吳馬佳奇;張建華
• 申請（專利權(quán)）人: 上海大學
• 主分類號: G01R19/25
• 分類號: G01R19/25;G01R31/26
• 代理公司: 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 31219
• 代理人: 徐秋平

1.一種用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法，其特征在于，所述半導(dǎo)體器件進入工作狀態(tài)，其兩端具有電壓，等待開始所述瞬態(tài)熱測試；用戶根據(jù)所述半導(dǎo)體器件的實際電壓值，在上位機中選擇相應(yīng)的參考電壓值和電壓量程；所述方法包括：

接收所述參考電壓值及電壓量程，據(jù)以生成所述實際電壓值的取值范圍；

控制采集模塊采集所述半導(dǎo)體器件的電壓信號，且將實際電壓值符合所述取值范圍的電壓信號加以存儲，并傳輸至所述上位機。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法，其特征在于，還包括：當所述實際電壓值超過所述取值范圍時，采集無效，獲取用戶通過上位機重新設(shè)置的參考電壓值、電壓量程，所述實際電壓值的取值范圍包括：(參考電壓-1/n電壓量程，參考電壓+1/n電壓量程)，n為正整數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法，其特征在于，還包括：根據(jù)所述瞬態(tài)熱測試的條件，對應(yīng)改變所述采集模塊的采樣率。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法，其特征在于，還包括：

根據(jù)所述參考電壓值控制數(shù)模轉(zhuǎn)換器生成參考電壓信號并傳輸至差分比例運算電路，以供所述差分比例運算電路將所述半導(dǎo)體器件的電壓信號與所述參考電壓信號做差，做差后的電壓信號經(jīng)可編程增益放大器放大后傳輸至所述采集模塊。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法，其特征在于，還包括：濾波模塊過濾所述電壓信號中的高頻成分，經(jīng)所述可編程增益放大器放大之后的電壓信號的量程與所述采集模塊的量程相同。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法，其特征在于，還包括：控制電源模塊提供不同大小的直流電源。

7.一種用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集裝置，其特征在于，包括：主控芯片及采集模塊；其中，

所述主控芯片用于接收來自上位機的參考電壓值及電壓量程，據(jù)以生成所述實際電壓值的取值范圍，并控制所述采集模塊采集所述半導(dǎo)體器件的電壓信號，且將實際電壓值符合所述取值范圍的電壓信號加以存儲，并傳輸至所述上位機。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集裝置，其特征在于，還包括：數(shù)模轉(zhuǎn)換器、差分比例運算電路、可編程增益放大器；其中，

所述主控芯片用于根據(jù)所述參考電壓值控制數(shù)模轉(zhuǎn)換器生成參考電壓信號并傳輸至所述差分比例運算電路；

所述差分比例運算電路用于將所述半導(dǎo)體器件的電壓信號與所述參考電壓信號做差，做差后的電壓信號經(jīng)所述可編程增益放大器放大后傳輸至所述采集模塊。

9.一種用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集系統(tǒng)，其特征在于，包括：

如權(quán)利要求7或8所述的用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集裝置；

上位機，與所述電壓采集裝置通信連接，用于基于所述半導(dǎo)體器件的實際電壓值輸出相應(yīng)的參考電壓值和電壓量程，并傳輸至所述電壓采集裝置。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7任一項所述用于半導(dǎo)體器件瞬態(tài)熱測試的電壓采集方法。