[發明專利]RFID標簽天線阻抗測試方法

有效

• 申請號: 202011195509.8
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112394227B
• 公開（公告）日: 2023-10-27
• 發明（設計）人: 鄧欣;袁紅剛;婁寧;何華武;閆善勇
• 申請（專利權）人: 西南電子技術研究所(中國電子科技集團公司第十研究所)
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R31/52;G01R31/54;G01R35/00;G06K19/07
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產權代理有限公司 51214
• 代理人: 劉凱

1.一種RFID射頻識別標簽天線阻抗測試方法，其特征在于，包括如下步驟：首先制備一個雙端口轉單端口的測試夾具，其次對矢量網絡分析儀進行自身校準；在矢量網絡分析儀上連接測試夾具，通過同軸線將測試夾具的延伸結構與矢量網絡分析儀連接在一起，建立代替傳統天線阻抗測試單端口測試模型的雙端口差分測試模型，再次對矢量網絡分析儀進行自身校準，并實現端口遷移；然后對RFID標簽天線進行開路校準和短路校準兩種模式的阻抗匹配性測量，得到測試的RFID標簽天線阻抗，選擇該兩種模式測量阻抗的平均值，完成一系列校準以及端口遷移后，將待測標簽天線與測試夾具進行焊接，從矢量網絡分析儀中得到所需要的相關S參數，將數據導出到Matlab商業數學軟件中進行數據處理，得到測試的天線阻抗。

2.根據權利要求1所述的RFID標簽天線阻抗測試方法，其特征在于：數據處理標簽天線阻抗公式如下：

式中，Z₀為傳輸線特征阻抗，S₁₁、S₁₂、S₂₁、S₂₂為該雙端口結構的測試S參數。

3.根據權利要求1所述的RFID標簽天線阻抗測試方法，其特征在于：所述測試夾具呈Y型，包括校準平面端口延伸至測試平面的三個端口，其中，第一端口分別與第二端口和第三端口電連接。

4.根據權利要求3所述的RFID標簽天線阻抗測試方法，其特征在于：所述第一端口用于連接待測標簽天線，第二端口和第三端口用于連接矢量網絡分析儀，測試夾具第一端口分別與第二端口兩根帶SMA(Sub-Miniature-A，超小型同軸電纜連接器)轉接頭的同軸線連接矢量網絡分析儀。

5.根據權利要求4所述的RFID標簽天線阻抗測試方法，其特征在于：在網絡矢量分析儀中，點擊通道CHANNEL選項中的啟停START/STOP鍵，設置所需要測試的頻率范圍；矢量網絡分析儀自動校準軟件首先進行單端口校準，被測設備(DUT)分別將開路負載和短路負載加至矢量網絡分析儀的PORT1和PORT2端口，進行校準，按照儀器指示完成校準。

6.根據權利要求5所述的RFID標簽天線阻抗測試方法，其特征在于：自動校準軟件模擬出一個虛擬的數字源，用虛擬的源和時序沖擊響應做卷積計算，模擬出一個理想信號，經過網絡之后的時域波形，對模擬計算出來的波形做疊加、統計處理，測試完所有參數生成眼圖。

7.根據權利要求6所述的RFID標簽天線阻抗測試方法，其特征在于：在自動校準軟件模擬產生的屏幕工具欄中選擇SCM配置管理平臺TRAC按鈕、新路徑NewTrace復選框、模型校準Calibration的算法，同時選擇雙端口結構的測試S參數S₁₁、S₁₂、S₂₁、S₂₂；在屏幕工具欄中選擇的模型校準Calibration出現的對話框橫欄中，選擇Calwizard鍵和補償菜單進入校準向導窗口，點擊2-PORT校準，根據向導出現的指示，選擇開路OPEN、短路SHORT、負載LOAD三個選項；選擇開路校準元件，點擊開路OPEN鍵，完成開路校準；連接短路校準元件，點擊短路SHORT鍵，完成短路校準；連接標準負載校準元件，點擊負載LOAD鍵，完成負載校準；二端口校準重復上述步驟，完成二端口校準，再將兩根同軸線通過端口校準THRU校準件連接起來，在動態響應客戶端請求RESPONSE中點擊端口校準THRU，完成S₁₂校準。