[發明專利]一種非接觸式跨障礙的高密度測量方法在審
| 申請號： | 202011193982.2 | 申請日： | 2020-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN112305624A | 公開（公告）日： | 2021-02-02 |
| 發明（設計）人： | 唐小平;郭培虹;劉生榮;田中英;杜輝;白運;孫芳強 | 申請（專利權）人： | 中國地質調查局西安地質調查中心（西北地質科技創新中心） |
| 主分類號： | G01V3/38 | 分類號： | G01V3/38 |
| 代理公司： | 北京易捷勝知識產權代理事務所(普通合伙) 11613 | 代理人： | 韓國勝 |
| 地址： | 710054 陜西*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 接觸 障礙 高密度 測量方法 | ||
1.一種非接觸式跨障礙的高密度測量方法，其特征在于，包括：
S1、根據擬解決的地質問題與區域地質條件進行測線線路設計，并結合現場踏勘數據測量障礙物寬度與設定障礙物寬度區間；
S2、采用中間梯度測深最佳擬斷面深度計算公式，基于溫納裝置建立基礎數據采集系統；
S3、對基礎數據采集系統中的障礙物寬度區間所對應的空白片區進行補空，建立跨障礙理論數據采集系統；
S4、根據第一坐標轉換公式將跨障礙理論數據采集系統轉變為跨障礙實際數據采集系統，并將跨障礙實際數據采集系統導入到基于傳統高密度設備改進的高密度硬件系統；
S5、根據跨障礙實際數據采集系統進行野外布線，滿足高密度規范數據采集要求后，開展數據采集獲取跨障礙實際采集數據序列；
S6、根據第二坐標轉換公式將跨障礙實際采集數據序列轉換為跨障礙理論采集序列，得到按實際坐標排列的電阻率剖面。
2.如權利要求1所述的一種非接觸式跨障礙的高密度測量方法，其特征在于，步驟S1包括：
S11、根據擬解決的地質問題與區域地質條件，確定高密度測線的長度、高密度測線的方向以及實際應用高密度的總道數，并對所有電極排序得到電極基本信息；電極基本信息包括實際采集數據序列N0與實際電極距LD；
S12、基于電極基本信息結合現場勘探數據，以障礙物為中心開展剖面地形放樣，確定每個電極的具體空間位置以及障礙物在剖面上的跨度距離LZH，將障礙物在剖面上的跨度距離LZH通過距離換算公式換算為點電極距個數NZH；
S13、根據實際采集數據序列N0與障礙物寬度換算電極距個數NZH，得出整個剖面的實際長度所對應的跨障礙系統設計的總道數，并對所有電極排序，得出理論采集數據序列NR，而NR＝N0+NZH，同時確定障礙物寬度區間為(NFRONT,NBACK)。
3.如權利要求2所述的一種非接觸式跨障礙的高密度測量方法，其特征在于，所述距離換算公式為：
NZH＝Int(LZH/LD+0.5)。
4.如權利要求1-3任一項所述的一種非接觸式跨障礙的高密度測量方法，其特征在于，所述中間梯度測深最佳擬斷面深度計算公式為：
Zmed＝αmin(|lA-xmn/2|,|lB-xmn/2|)，
其中Zmed為最佳擬斷面深度，α為深度系數，|lA-xmn/2|為A到MN中點的距離、|lB-xmn/2|為B到MN中點的距離；
基礎數據采集系統的最佳擬斷面深度為：
Zmed＝0.346|lA-xmn/2|，
其中，|lA-xmn/2|＝|lB-xmn/2|。
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