[發明專利]片內CRC檢查數據完整性方法、裝置、存儲介質和終端

在審

• 申請號: 202011193697.0
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112286464A
• 公開（公告）日: 2021-01-29
• 發明（設計）人: 馮鵬亮;陳緯榮;陳慧
• 申請（專利權）人: 深圳市芯天下技術有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06;G06F11/10
• 代理公司: 佛山市海融科創知識產權代理事務所(普通合伙) 44377
• 代理人: 陳志超;唐敏珊

本發明公開了一種片內CRC檢查數據完整性方法、裝置、存儲介質和終端，方法過程如下：接收CRC計算的命令，根據CRC計算的命令讀出對應的數據，對讀出的數據進行片內CRC計算，得出CRC結果并存儲CRC結果；通過在NOR Flash內部實現片內CRC計算，無需將NOR Flash內部數據讀出到片外，極大地節省了整個NOR Flash數據完整性的檢查耗時；而且利用系統內部數據位寬比NOR flash的數據接口位寬長得多，可以提高數據的讀出效率，省時省電。

技術領域

本發明涉及數據閃存技術領域，尤其涉及的是一種片內CRC檢查數據完整性方法、裝置、存儲介質和終端。

背景技術

NOR FLASH在生命周期中存在數據丟失的問題，在高可靠性的應用場景中，客戶需要定期檢查所存儲的數據是否完整，一般有如下兩種方法：

1.讀出指定范圍的數據，直接將讀出的數據與原數據進行一一對比，如圖1所示。

2.讀出指定范圍的數據到片外CRC，利用片外CRC（循環冗余校驗碼）算出一個及時CRC結果，再將計算出的及時CRC結果與編程到NOR Flash時存儲的CRC原始值進行比較，如圖2所示。

上述兩種方法的不足之處在于：無論用哪一種方法，都需要將所有需要檢查的數據讀出到片外，NOR flash的數據接口位寬通常用的是4位(X4)，讀出全部數據會耗時耗電，不能滿足使用要求。

因此，現有的技術還有待于改進和發展。

發明內容

本發明的目的在于提供一種片內CRC檢查數據完整性方法、裝置、存儲介質和終端，旨在解決現有NOR FLASH在檢查數據完整性時，需要將檢查的數據全部讀出到片外，耗時耗電的問題。

本發明的技術方案如下：一種片內CRC檢查數據完整性方法，其中，具體包括以下步驟：

接收CRC計算的命令；

根據CRC計算的命令讀出對應的數據；

對讀出的數據進行片內CRC計算；

得出CRC結果并存儲CRC結果。

所述的片內CRC檢查數據完整性方法，其中，所述CRC計算的命令包含需要計算CRC的數據在NOR Flash內的起始地址與終止地址；或所述CRC計算的命令包含需要計算CRC的數據在NOR Flash內的起始地址與終止地址以及需要計算CRC的數據的原始CRC值。

所述的片內CRC檢查數據完整性方法，其中，所述根據CRC計算的命令讀出對應的數據中，具體包括以下步驟：

s21：根據CRC計算的命令順序讀出對應的數據；

s22：判斷需要計算CRC的數據是否已經全部讀出，是執行對讀出的數據進行片內CRC計算，否執行s21。

所述的片內CRC檢查數據完整性方法，其中，所述得出CRC結果并存儲CRC結果中，得出的CRC結果存儲在狀態寄存器中。

所述的片內CRC檢查數據完整性方法，其中，判斷是否接收到讀取狀態寄存器標志位的指令，是則輸出狀態寄存器標志位，否則不輸出狀態寄存器標志位。

所述的片內CRC檢查數據完整性方法，其中，當CRC計算命令包含需要計算CRC的數據的原始CRC值時，所述得出CRC結果并存儲CRC結果的過程如下：得出CRC結果，將得出的CRC結果與原始CRC值進行比對，得出CRC比較結果并存儲。

所述的片內CRC檢查數據完整性方法，其中，在得出CRC結果并存儲CRC結果之后還包括如下步驟：輸出CRC結果。

一種采用如上述任一所述的片內CRC檢查數據完整性方法的裝置，其中，包括：