[發(fā)明專利]可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011193167.6
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112379449B
• 公開（公告）日: 2023-05-26
• 發(fā)明（設計）人: 王志剛;崔志偉;魯瑤
• 申請（專利權）人: 中國石油天然氣集團有限公司;中國石油集團東方地球物理勘探有限責任公司
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權代理有限公司 11127
• 代理人: 單曉雙;董驍毅

1.一種可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述方法包括：

接收對目標區(qū)域進行時頻電磁勘探采集的測線上的測點數(shù)據(jù)；

根據(jù)測點數(shù)據(jù)的振幅數(shù)據(jù)、相位數(shù)據(jù)確定測線上的測點的全區(qū)等效視電阻率；

根據(jù)所述測線上的測點的全區(qū)等效視電阻率確定有靜態(tài)位移的測點、沒有靜態(tài)位移的測點及各測點的偏移距；每個測點的偏移距是指相鄰測點之間的距離以第一個測點為開始點累積求和后的距離；

確定所述測線上的測點的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率；

利用沒有靜態(tài)位移測點的偏移距和所述前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率進行插值處理，確定測線上的測點插值后的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率；

對插值處理后的所述測線上的測點插值后的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率進行平滑處理；

根據(jù)有靜態(tài)位移測點的插值平滑處理后的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率、測線上的測點的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率、有靜態(tài)位移測點的平均全區(qū)等效視電阻率及沒有靜態(tài)位移測點的平均全區(qū)等效視電阻率確定校正后的測點的平均全區(qū)等效視電阻率；

根據(jù)校正后的測點的全區(qū)等效視電阻率確定測線上的測點對靜態(tài)位移影響校正后的振幅和相位；

反演測線上的測點校正后的振幅和相位確定電阻率斷面圖及極化率斷面圖作為可控源電磁數(shù)據(jù)的處理結果。

2.如權利要求1所述的可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述接收對目標區(qū)域進行時頻電磁勘探采集的測線上的測點數(shù)據(jù)包括：

根據(jù)實測電磁時頻電磁法射頻率的分布范圍和分量類型，選擇時頻電磁一測線，采集選擇的測線的測點數(shù)據(jù)。

3.如權利要求1所述的可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述根據(jù)測點數(shù)據(jù)的振幅數(shù)據(jù)、相位數(shù)據(jù)確定測線上的測點的全場區(qū)等效視電阻率包括：

確定測線上測點的頻率域全區(qū)等效視電阻率；

對所述頻率域全區(qū)等效視電阻率進行取對數(shù)處理確定測線上的測點的全場區(qū)等效視電阻率。

4.如權利要求1所述的可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測線上的測點的全區(qū)等效視電阻率確定有靜態(tài)位移的測點、沒有靜態(tài)位移的測點及各測點的偏移距包括：

根據(jù)所述測線上的測點的全區(qū)等效視電阻率確定測線上的測點的全區(qū)等效視電阻率剖面圖及測點的偏移距；

用克里格法對全區(qū)等效視電阻率做網(wǎng)格確定有靜態(tài)位移的測點、沒有靜態(tài)位移的測點。

5.如權利要求1所述的可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述利用沒有靜態(tài)位移測點的偏移距和所述前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率進行插值處理，確定測線上的測點插值后的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率包括：

利用沒有靜態(tài)位移的測點的偏移距和前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率進行三次樣條插值處理，插值出有靜態(tài)位移的測點的前P個高頻數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率，以得到測線上測點插值后的前三個高頻數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率。

6.如權利要求1所述的可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述對插值處理后的所述測線上的測點插值后的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率進行平滑處理包括：

按預設的平滑系數(shù)，對插值處理后的所述測線上的測點插值后的前P個高頻率數(shù)據(jù)進行三次樣條平滑處理。

7.如權利要求1所述的可控源電磁數(shù)據(jù)的處理方法，其特征在于，所述根據(jù)有靜態(tài)位移測點的插值平滑處理后的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率、測線上的測點的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率、有靜態(tài)位移測點的平均全區(qū)等效視電阻率及沒有靜態(tài)位移測點的平均全區(qū)等效視電阻率確定校正后的測點的平均全區(qū)等效視電阻率包括：

確定有靜態(tài)位移測點的插值平滑處理后的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率與插值前的測線上的測點的前P個高頻率數(shù)據(jù)的平均全區(qū)等效視電阻率的差值dρ_a；

將有靜態(tài)位移測點的平均全區(qū)等效視電阻率加上所述差值dρ_a，與沒有靜態(tài)位移測點的平均全區(qū)等效視電阻率構成校正后的測點的平均全區(qū)等效視電阻率。