[發(fā)明專利]一種固態(tài)硬盤糾錯方法、裝置、存儲設備及存儲介質(zhì)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011192117.6 | 申請日: | 2020-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN112181714B | 公開(公告)日: | 2021-06-22 |
| 發(fā)明(設計)人: | 黃朝松 | 申請(專利權)人: | 深圳安捷麗新技術有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/10 | 分類號: | G06F11/10;G06F3/06 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權代理有限公司 44414 | 代理人: | 梁立耀 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 固態(tài) 硬盤 糾錯 方法 裝置 存儲 設備 介質(zhì) | ||
1.一種固態(tài)硬盤糾錯方法,其特征在于,包括:
當所述固態(tài)硬盤出現(xiàn)數(shù)據(jù)讀取失敗時,第一重讀所述數(shù)據(jù);
當所述第一重讀失敗時,對所述數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)單元為糾錯級別進行第一糾錯;
當所述第一糾錯失敗時,對所述數(shù)據(jù)以碼字為糾錯級別進行第二糾錯;
當所述第二糾錯失敗時,對所述數(shù)據(jù)以字節(jié)為糾錯級別進行第三硬解碼;
其中,在檢測到所述數(shù)據(jù)的 歷史糾錯數(shù)據(jù)中存在第一糾錯失敗且不存在第二糾錯失敗時,跳過所述第一糾錯的步驟,執(zhí)行對數(shù)據(jù)以碼字為糾錯級別進行第二糾錯的步驟;
在檢測到所述數(shù)據(jù)的 歷史糾錯數(shù)據(jù)中存在第二糾錯失敗時,跳過所述第一糾錯和第二硬解碼的步驟,執(zhí)行對所述數(shù)據(jù)以碼字為解碼單元進行第二軟解碼的步驟,且在執(zhí)行對所述數(shù)據(jù)以碼字為解碼單元進行第二軟解碼的步驟中,在第二參數(shù)列表中按照優(yōu)先級排列順序,依次選取m個第二電壓參數(shù)中的前k個第二電壓參數(shù),對所述數(shù)據(jù)以碼字為讀取單元進行第三重讀;其中,k≤m且m和k為整數(shù)。
2.如權利要求1所述的固態(tài)硬盤糾錯方法,其特征在于,所述對所述數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)單元為糾錯級別進行第一糾錯,包括:
對所述數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)單元為解碼單位進行第一硬解碼;
若所述第一硬解碼成功,則判定所述第一糾錯成功并讀取下一個數(shù)據(jù);
若所述第一硬解碼失敗,則對所述數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)單元為解碼單元進行第一軟解碼;
若所述第一軟解碼成功,則判定所述第一糾錯成功并讀取下一個數(shù)據(jù);
若所述第一軟解碼失敗,則判定所述第一糾錯失敗。
3.如權利要求2所述的固態(tài)硬盤糾錯方法,其特征在于,所述對所述數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)單元為解碼單元進行第一軟解碼,包括:
根據(jù)本地存儲的第一參數(shù)列表中第一電壓參數(shù)的優(yōu)先級排列順序,依次選取所述第一電壓參數(shù)對所述數(shù)據(jù)以數(shù)據(jù)單元為讀取單元進行第二重讀;
直到第二重讀成功時,判定所述第一軟解碼成功,并將第二重讀成功時選取的第一電壓參數(shù)對應的第一計數(shù)參數(shù)加1以更新第一計數(shù)參數(shù)的大小;其中,所述第一參數(shù)列表包括n個第一電壓參數(shù),且每個第一電壓參數(shù)對應一個第一計數(shù)參數(shù),n≥1且為整數(shù);
若根據(jù)所述第一參數(shù)列表中所有第一電壓參數(shù)進行第二重讀失敗,則判定所述第一軟解碼失敗;
每隔第一預設時間,根據(jù)更新后的第一計數(shù)參數(shù)的大小對所述第一參數(shù)列表中的第一電壓參數(shù)的優(yōu)先級排列順序進行重新排列。
4.如權利要求1所述的固態(tài)硬盤糾錯方法,其特征在于,所述對所述數(shù)據(jù)以碼字為糾錯級別進行第二糾錯,包括:
對所述數(shù)據(jù)以碼字為解碼單元進行第二硬解碼;
若所述第二硬解碼成功,則判定所述第二糾錯成功并讀取下一個數(shù)據(jù);
若所述第二硬解碼失敗,則對所述數(shù)據(jù)以碼字為解碼單元進行第二軟解碼;
若所述第二軟解碼成功,則判定所述第二糾錯成功并讀取下一個數(shù)據(jù);
若所述第二軟解碼失敗,則判定所述第二糾錯失敗。
5.如權利要求4所述的固態(tài)硬盤糾錯方法,其特征在于,對所述數(shù)據(jù)以碼字為解碼單元進行第二軟解碼,還包括:
根據(jù)本地存儲的第二參數(shù)列表中第二電壓參數(shù)的優(yōu)先級排列順序,依次選取所述第二電壓參數(shù)對所述數(shù)據(jù)以碼字為讀取單元進行第三重讀;
直到第三重讀成功時,判定所述第二軟解碼成功,并將第三重讀成功時選取的第二電壓參數(shù)對應的第二計數(shù)參數(shù)加1以更新第二計數(shù)參數(shù)的大小;其中,所述第二參數(shù)列表包括m個第二電壓參數(shù),且每個第二電壓參數(shù)對應一個第二計數(shù)參數(shù),m≥1且為整數(shù);
若根據(jù)所述第二參數(shù)列表中所有第二電壓參數(shù)進行第二重讀失敗,則判定所述第二軟解碼失敗;
每隔第二預設時間,根據(jù)更新后的第二計數(shù)參數(shù)的大小對所述第二參數(shù)列表中的第二電壓參數(shù)的優(yōu)先級排列順序進行重新排列。
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