[發明專利]缺陷檢測方法、裝置、計算機設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011191743.3
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112288723B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 牛臨瀟;李誠
• 申請（專利權）人: 北京市商湯科技開發有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T5/50;G06V10/40;G06V10/74
• 代理公司: 北京中知恒瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 11889
• 代理人: 吳迪

1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測圖像、以及模板圖像；

對所述待檢測圖像進行特征提取，得到所述待檢測圖像的第一特征圖，并對所述模板圖像進行特征提取，得到與所述模板圖像對應的第二特征圖；所述第一特征圖包括：多級特征提取分別對應的第一特征圖；所述第二特征圖包括：多級特征提取分別對應的第二特征圖；

基于每張第一特征圖、以及與所述每張第一特征圖對應的第二特征圖，對所述第一特征圖對應的第二特征圖進行特征增強處理，得到該張第一特征圖對應的第二特征圖的特征增強圖像；以及

基于所述每張第一特征圖、以及與所述每張第一特征圖對應的第二特征圖，得到與所述每張第一特征圖對應的注意力掩碼圖像；其中，所述注意力掩碼圖像中任一像素點的像素值，表征該第一特征圖中位置與該任一像素點匹配的第一特征點存在缺陷的異常度值；

基于所述特征增強圖像、以所述注意力掩碼圖像，得到所述每張第一特征圖對應的特征融合圖像；

基于所述特征融合圖像，得到所述待檢測圖像的缺陷檢測結果。

2.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述對所述待檢測圖像進行特征提取，得到所述待檢測圖像的第一特征圖，包括：

對所述待檢測圖像進行多級特征提取，獲取與每級特征提取對應的第一特征圖；

所述對所述模板圖像進行特征提取，得到與所述模板圖像對應的第二特征圖，包括：

對所述模板圖像進行多級特征提取，獲取與每張所述第一特征圖對應的第二特征圖；

針對每張第一特征圖，對所述每張第一特征圖、以及與所述每張第一特征圖對應的第二特征圖進行特征混淆處理，得到所述每張第一特征圖對應的特征融合圖像。

3.根據權利要求2所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述基于所述特征融合圖像，得到所述待檢測圖像的缺陷檢測結果，包括：

基于所述每張第一特征圖對應的特征融合圖像，得到所述每張第一特征圖的缺陷檢測結果；

基于與多級特征提取分別對應的第一特征圖的缺陷檢測結果，得到所述待檢測圖像的缺陷檢測結果。

4.根據權利要求2或3所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述對所述待檢測圖像進行多級特征提取，獲取與每級特征提取對應的第一特征圖，包括：

對所述待檢測圖像進行多級特征提取，獲取與每級特征提取對應的中間特征圖；

針對所述每級特征提取為最后一級特征提取的情況，將最后一級特征提取對應的中間特征圖，作為該最后一級特征提取對應的第一特征圖；

針對所述每級特征提取為除最后一級特征提取的其他級特征提取的情況，將與所述每級特征提取對應的中間特征圖與該級特征提取的下一級特征提取對應的第一特征圖進行特征融合，得到與所述每級特征提取對應的第一特征圖。

5.根據權利要求4所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述將與每級特征提取對應的中間特征圖，與該級特征提取的下一級特征提取對應的第一特征圖進行特征融合，得到與所述每級特征提取對應的第一特征圖，包括：

將與該級特征提取的下一級特征提取對應的第一特征圖進行上采樣，得到上采樣向量；

將所述上采樣向量與該級特征提取對應的中間特征圖進行疊加后，得到該級特征提取對應的第一特征圖。

6.根據權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述基于該張第一特征圖、以及與該張第一特征圖對應的第二特征圖，對該張第一特征圖對應的第二特征圖進行特征增強處理，包括：

針對該張第一特征圖中的每個第一特征點，從該張第一特征圖對應的第二特征圖的多個第二特征點中，確定與該第一特征點對應的多個關聯特征點；其中，該第一特征點對應的各個關聯特征點，與該第一特征點位置匹配的目標第二特征點之間的距離滿足預設條件；

基于該第一特征點與每個關聯特征點之間的相似度，對與該第一特征點位置匹配的目標第二特征點進行特征增強處理。