[發(fā)明專利]自動(dòng)PIM矩陣測(cè)試夾具和方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011191257.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112748265A | 公開(公告)日: | 2021-05-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | T·希赫;T·I·范德胡夫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 康普技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04;G01R29/10 |
| 代理公司: | 中國(guó)貿(mào)促會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 11038 | 代理人: | 於菪珉 |
| 地址: | 美國(guó)北卡*** | 國(guó)省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自動(dòng) pim 矩陣 測(cè)試 夾具 方法 | ||
本申請(qǐng)公開了一種自動(dòng)PIM矩陣測(cè)試夾具和方法。一種測(cè)試夾具,包括:第一主體,其包括分別被配置成容納多個(gè)天線連接器的多個(gè)槽;第二主體,其與所述第一主體相對(duì)并且包括被配置成容納測(cè)試連接器的槽;以及橫向定位部件,其被配置成使所述第二主體相對(duì)于所述第一主體移動(dòng),以將所述測(cè)試連接器定位在所述多個(gè)天線連接器中的一個(gè)的對(duì)面。所述第二主體進(jìn)一步被配置成將所述測(cè)試連接器推入到所述測(cè)試連接器對(duì)面的所述多個(gè)天線連接器中的所述一個(gè)中,以使所述測(cè)試連接器與所述多個(gè)天線連接器中的所述一個(gè)匹配。
本申請(qǐng)主張2019年10月30日提交的第62/927,886號(hào)美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán),所述美國(guó)臨時(shí)專利申請(qǐng)的全部?jī)?nèi)容如同全文闡述一樣以引用的方式并入本文中。
技術(shù)領(lǐng)域
背景技術(shù)
無源互調(diào)失真(PIM)是電干擾/信號(hào)傳輸退化的一種形式,在不能形成對(duì)稱互連的情況下和/或當(dāng)機(jī)電互連隨時(shí)間推移而移位或退化時(shí)可能發(fā)生。互連可能會(huì)因機(jī)械應(yīng)力、振動(dòng)、熱循環(huán)和/或材料退化而移位。PIM可以是重要的互連質(zhì)量特性,因?yàn)橛蓡蝹€(gè)低質(zhì)量互連產(chǎn)生的PIM可能會(huì)降低整個(gè)RF系統(tǒng)的電氣性能。
基站天線可以是PIM源,其可能降低蜂窩系統(tǒng)的可靠性、容量和數(shù)據(jù)速率。其通過限制接收器的靈敏性來降低。在一些應(yīng)用中,工程師可以選擇在接收頻帶中產(chǎn)生較少PIM的信道頻率。但是當(dāng)頻譜變得較擁擠時(shí),通過信道頻率選擇降低PIM的能力可能會(huì)變得更加困難。此外,老化的天線系統(tǒng)和基礎(chǔ)設(shè)施可能會(huì)增加PIM。因此,為了維持天線的可靠性,通常需要確保將PIM降低到可接受的水平。在天線上可以常規(guī)地執(zhí)行測(cè)試以確定其PIM性能是否在可接受的范圍內(nèi)。這種測(cè)試可以在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行,也可以在例如消聲室之類的更可控的環(huán)境中進(jìn)行。典型的天線可以具有需要PIM測(cè)試的多個(gè)端口。
圖1示出常規(guī)天線PIM測(cè)試設(shè)備10。測(cè)試管理系統(tǒng)100通過連接105與分析器101進(jìn)行通信。分析器100連接到受測(cè)試的天線102的單個(gè)端口。天線在消聲室103內(nèi)部,以避免反射和外部噪聲源。將分析器連接到天線端口的電纜106通過管道107進(jìn)入測(cè)試腔室103。
通常在消聲室中執(zhí)行PIM測(cè)試,以減少來自反射或其它輻射源的干擾。操作員可以將天線放置在測(cè)試腔室中并且將天線端口之一連接到處于測(cè)試腔室外部的分析器。電纜通過管道從腔室內(nèi)部通到腔室外部。為了測(cè)試不同的端口,操作員需要進(jìn)入腔室并且手動(dòng)更換連接。當(dāng)天線上有多個(gè)端口需要測(cè)試時(shí),這整個(gè)過程可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試時(shí)間過長(zhǎng)。
發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明概念的一些實(shí)施例中,一種測(cè)試夾具包括:第一主體,其包括分別被配置成容納多個(gè)天線連接器的多個(gè)槽;第二主體,其與所述第一主體相對(duì)并且包括被配置成容納測(cè)試連接器的槽;以及橫向定位部件,其被配置成使所述第二主體相對(duì)于所述第一主體移動(dòng),以將所述測(cè)試連接器定位在所述多個(gè)天線連接器中的一個(gè)的對(duì)面。所述第二主體進(jìn)一步被配置成將所述測(cè)試連接器推入到所述測(cè)試連接器對(duì)面的所述多個(gè)天線連接器中的所述一個(gè)中,以使所述測(cè)試連接器與所述多個(gè)天線連接器中的所述一個(gè)匹配。
在其它實(shí)施例中,多個(gè)天線連接器包括多個(gè)盲插連接器。
在另外其它實(shí)施例中,多個(gè)天線連接器中的每一個(gè)包括凸緣部分,并且多個(gè)槽分別被配置成在其中容納多個(gè)天線連接器的多個(gè)凸緣部分。
在另外其它實(shí)施例中,凸緣部分包括黃銅。
在另外其它實(shí)施例中,多個(gè)天線連接器中的每一個(gè)包括斜面沉頭孔開口,所述斜面沉頭孔開口被配置成在其中容納測(cè)試連接器。
在另外其它實(shí)施例中,多個(gè)天線連接器分別聯(lián)接到多個(gè)偏置彈簧,所述彈簧被配置成將多個(gè)天線連接器推向第二主體。
在另外其它實(shí)施例中,第一主體包括不銹鋼。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
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