[發明專利]一種基于光譜角度的高光譜圖像目標特征提取方法

有效

• 申請號: 202011188705.2
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112329792B
• 公開（公告）日: 2022-12-09
• 發明（設計）人: 孫康;陳金勇;李方方;王敏;帥通;王士成
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第五十四研究所
• 主分類號: G06V10/46
• 分類號: G06V10/46
• 代理公司: 河北東尚律師事務所 13124
• 代理人: 王文慶

1.一種基于光譜角度的高光譜圖像目標特征提取方法，其特征在于，用于從總波段數為L的高光譜圖像中對某一目標進行目標特征提取；包括以下步驟：

步驟1，計算高光譜圖像的協方差矩陣K和均值光譜協方差矩陣K為：

其中，k_ij為高光譜圖像第i波段和第j波段的內積；

均值光譜為：

其中，x_pq為高光譜圖像第p行、第q列的像素光譜，N為高光譜圖像的總行數，M為高光譜圖像的總列數；

步驟2，讀取待處理目標的目標光譜d以及針對該目標所欲提取的特征數目n，n＜L；

步驟3，利用協方差矩陣K、均值光譜以及目標光譜d，計算投影均值光譜和投影目標光譜投影均值光譜和投影目標光譜中均包含m個元素，即m個特征，m的初始值為L；

步驟4，從投影均值光譜和投影目標光譜中去除第i個特征，1≤i≤m，形成新的投影均值光譜和投影目標光譜

步驟5，針對i的每一個取值，計算相應的投影均值光譜和投影目標光譜的光譜角度；

步驟6，搜索具有最大光譜角度的投影均值光譜和投影目標光譜將其作為新的投影均值光譜和投影目標光譜

步驟7，將m減1，若m＞n，則重復步驟4～步驟7，否則，此時的投影目標光譜即為目標特征提取結果。

2.根據權利要求1所述的一種基于光譜角度的高光譜圖像目標特征提取方法，其特征在于，所述步驟3的具體方式為：

步驟3a，計算協方差矩陣K的逆矩陣K^-1；

步驟3b，計算投影均值光譜

其中，為的轉置；

步驟3c，計算投影目標光譜

其中，d^T為d的轉置。

3.根據權利要求1所述的一種基于光譜角度的高光譜圖像目標特征提取方法，其特征在于，所述步驟5中，投影均值光譜和投影目標光譜的光譜角度為：