[發明專利]磁盤陣列的自動化測試方法、裝置、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011188521.6
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112463472B
• 公開（公告）日: 2022-08-23
• 發明（設計）人: 李建鴻
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京眾達德權知識產權代理有限公司 11570
• 代理人: 梁凱

1.一種磁盤陣列的自動化測試方法，其特征在于，包括：

在測試硬件準備工作完成之后，基于預先存儲的測試腳本，在目標設備上生成一個預設容量的原始檔案以及與所述原始檔案對應的第一MD5校驗碼；

基于所述測試腳本，從N個磁盤中選定一個磁盤作為熱備用磁盤，并基于未被選定的N-1個所述磁盤建立磁盤陣列；

重復執行以下步驟：

基于所述測試腳本，將所述磁盤陣列格式化為檔案系統；

在將所述原始檔案復制至所述檔案系統的過程中，基于所述測試腳本，移除所述磁盤陣列中的任一磁盤，并將所述熱備用磁盤添加到所述磁盤陣列中進行重建，直至所述磁盤陣列重建完成且所述原始檔案復制完成，得到復制檔案以及與所述復制檔案對應的第二MD5校驗碼；

基于所述測試腳本，比對所述第一MD5校驗碼和所述第二MD5校驗碼，得到比對結果；

當所述比對結果為相同時，將所述熱備用磁盤確定為已測磁盤，并從未測磁盤中重新選擇一個磁盤作為熱備用磁盤，并重新建立磁盤陣列；其中，所述未測磁盤為N個磁盤中除已測磁盤以外的其他磁盤；

直至達到循環停止條件；其中，所述循環停止條件為：N個磁盤中的每個所述磁盤均作為熱備用磁盤進行過測試，得到所有的比對結果，或在測試過程中出現所述比對結果為不相同的情況。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

在將所述原始檔案復制至所述檔案系統之前，記錄復制初始時間；其中，所述復制初始時間用于表示單個磁盤開始測試的時間；

當所述比對結果為相同時，記錄復制結束時間；其中，所述復制結束時間用于表示單個磁盤完成測試的時間；

基于所述復制初始時間和所述復制結束時間，確定所述已測磁盤的測試周期時長；

基于所述已測磁盤的測試周期時長預估測試所需剩余時間，并將所述測試所需剩余時間顯示在目標顯示屏上。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，還包括：

當所述比對結果為不相同時，確定所述N個磁盤的測試結果為測試失敗。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，還包括：

在循環停止之后，若所有的比對結果均相同，則確定所述N個磁盤的測試結果為測試成功。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，還包括：

基于預設顯示模式，利用所述N個磁盤上的指示燈對所述測試結果進行顯示。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測試硬件準備工作包括：對所述N個磁盤和用于執行所述測試腳本的服務器進行通信連接，以及在所述目標設備上安裝服務器作業系統；其中，所述目標設備為U盤。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁盤陣列為RAID5磁盤陣列。

8.一種磁盤陣列的自動化測試裝置，其特征在于，包括：

生成單元，用于在測試硬件準備工作完成之后，基于預先存儲的測試腳本，在目標設備上生成一個預設容量的原始檔案以及與所述原始檔案對應的第一MD5校驗碼；

選定建立單元，用于基于所述測試腳本，從N個磁盤中選定一個磁盤作為熱備用磁盤，并基于未被選定的N-1個所述磁盤建立磁盤陣列；

測試單元，用于執行以下步驟，直至達到循環停止條件；其中，所述循環停止條件為：N個磁盤中的每個所述磁盤均作為熱備用磁盤進行過測試或比對結果為不相同：

基于所述測試腳本，將所述磁盤陣列格式化為檔案系統；

在將所述原始檔案復制至所述檔案系統的過程中，基于所述測試腳本，移除所述磁盤陣列中的任一磁盤，并將所述熱備用磁盤添加到所述磁盤陣列中進行重建，直至所述磁盤陣列重建完成且所述原始檔案復制完成，得到復制檔案以及與所述復制檔案對應的第二MD5校驗碼；

基于所述測試腳本，比對所述第一MD5校驗碼和所述第二MD5校驗碼，得到比對結果；

當所述比對結果為相同時，將所述熱備用磁盤確定為已測磁盤，并從未測磁盤中重新選擇一個磁盤作為熱備用磁盤，并重新建立磁盤陣列；其中，所述未測磁盤為N個磁盤中除已測磁盤以外的其他磁盤。