[發明專利]用于光學測量裝置的測試儀

在審

• 申請號: 202011187583.5
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112741604A
• 公開（公告）日: 2021-05-04
• 發明（設計）人: 陶筠威;郭嘉祥
• 申請（專利權）人: 倍靈科技（知識產權）有限公司
• 主分類號: A61B5/0205
• 分類號: A61B5/0205;A61B5/1455
• 代理公司: 深圳宜保知識產權代理事務所(普通合伙) 44588
• 代理人: 王琴;曹玉存

1.一種用于測試測量裝置的測試儀裝置，所述測試儀包括：

第一光檢測器組和第二光檢測器組，其中每個光檢測器組被配置成檢測在其上接收的光并且生成指示所檢測的光的信號；

光發射器組，用于輸出光；和

處理器，被配置成接收并分析所述信號以識別所檢測的光中第一組預定波長的存在，

其中，所述處理器還被配置成：如果確定所述第一光檢測器組和所述第二光檢測器組中的至少一個已經接收到包含所述第一組預定波長的光，則觸發所述光發射器組開始輸出第二組預定波長的光。

2.根據權利要求1所述的測試儀裝置，其中所述第一光檢測器組位于所述測試儀裝置的第一側上，并且所述第二光檢測器組位于所述測試儀裝置的第二側上，并且所述第一側和所述第二側基本上彼此相對。

3.根據權利要求2所述的測試儀裝置，進一步包括測試儀桿，所述測試儀桿包括所述第一側和所述第二側。

4.根據權利要求3所述的測試儀裝置，所述測試儀桿包括光隔離器，所述光隔離器包括被配置成減少所述第一光檢測器組和光檢測器組之間的漏光的突出部。

5.根據權利要求4所述的測試儀裝置，其中所述光隔離器是柔性的，以在接觸時幫助在其自身與所述測量裝置之間形成光學密封。

6.根據權利要求5所述的測試儀裝置，其中所述光隔離器由泡沫材料、硅酮或熱塑性彈性體中的至少一種構成。

7.根據權利要求1所述的測試儀裝置，進一步包括裝置安裝件，所述裝置安裝件被配置成接收所述測量裝置并且在第一位置與第二位置之間是可移動的，所述第一位置用于定位用于測試的所述測量裝置，所述第二位置用于允許將所述測量裝置從所述裝置安裝件上移除。

8.根據權利要求7所述的測試儀裝置，其中所述裝置安裝件被偏置以將所述測量裝置推向所述第一位置。

9.根據權利要求7所述的測試儀裝置，其中所述裝置安裝件是沿著所述測試裝置的底座可滑動的。

10.根據權利要求9所述的測試儀裝置，其中所述裝置安裝件可沿著與來自所述光發射器組的光的方向成20度與60度之間的角度的方向移動。

11.根據權利要求7所述的測試儀裝置，所述裝置安裝件包括空腔，所述空腔被配置成用于接收所述測量裝置的一部分。

12.根據權利要求1所述的測試儀裝置，進一步包括用于與所述測量裝置電連通的連接器。

13.根據權利要求12所述的測試儀裝置，其中所述測試儀裝置被配置成通過所述連接器向所述測量裝置提供電力和/或從所述測量裝置接收信號。

14.根據權利要求13所述的測試儀裝置，其中所述測試儀裝置被配置成接收來自所述測量裝置的信號以確定所述測量裝置的測試結果。

15.根據權利要求7所述的測試儀裝置，其中所述裝置安裝件可移動到第三位置以接收第二測量裝置。

16.根據權利要求1所述的測試儀裝置，其中所述第一組預定波長包括在600nm–750nm之間的第一波長和在850nm–1000nm之間的第二波長。