[發明專利]礦漿細度測定設備

在審

• 申請號: 202011187084.6
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112179817A
• 公開（公告）日: 2021-01-05
• 發明（設計）人: 陳國剛;王軍人;陳隱嵩;張小瑞;張磊;葉寧;周友盛;張振偉;藍繼偉;游立強
• 申請（專利權）人: 福建亞亨機械股份有限公司
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02;G01N5/00;G01N35/00
• 代理公司: 廈門致群財富專利代理事務所(普通合伙) 35224
• 代理人: 鄧貴琴;劉兆慶

1.礦漿細度測定設備，包括機架，其特征在于，還包括：

取樣工位，其設有用于放樣的礦漿漏斗；

接樣盤，其用于承接待測定礦漿；

篩盤，其用于篩分待測定礦漿；

盤接物稱重工位，其設有盤接物稱重機構；

烘干工位，其設有承載所述接樣盤的加熱盤；

篩分稱重工位，其設有篩分機構及篩下物稱重機構，所述篩分機構用于承載所述篩盤，并使所述篩盤篩分其盛接物，所述篩下物稱重機構位于所述篩分機構的下方；

機械手，其包括夾持所述接樣盤/篩盤的可旋轉的夾持爪，所述夾持爪往返于所述取樣工位、盤接物稱重工位、烘干工位及篩分稱重工位之間，當所述接樣盤被移載至所述篩分稱重工位時，所述夾持爪翻轉將所述接樣盤的盛接物傾倒在該工位的篩盤上。

2.如權利要求1所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：所述礦漿漏斗通過氣控角座閥控制出料，所述氣控角座閥的進氣端與所述礦漿漏斗的出漿管形成開口向上的銳角。

3.如權利要求1所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：所述烘干工位還設有負壓發生器，所述負壓發生器包括負壓蓋、第二升降執行件、擺動執行件及負壓蓋支架；所述擺動執行件安裝在所述第二升降執行件的升降端，所述負壓蓋支架安裝在所述擺動執行件的擺動端，所述負壓蓋安裝在所述負壓蓋支架上，所述負壓蓋對搭載在該工位的接樣盤進行封蓋。

4.如權利要求1所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：所述烘干工位還設有打散機構，所述打散機構具有可升降與旋轉的打散頭，以對該工位的接樣盤中的烘干礦漿進行打散，所述打散頭包括三幅式本體及分別安裝在三幅式本體各幅上的碗型銅絲刷、筆型鋼絲刷及壓輪。

5.如權利要求1所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：所述篩分機構包括驅動電機、偏心輪、連桿、滑塊、定位板及氣動振動器；所述驅動電機驅動所述偏心輪旋轉，所述偏心輪、連桿及滑塊形成偏心輪機構，所述定位板用于承載所述篩盤，所述定位板安裝在所述滑塊上，所述氣動振動器安裝在所述定位板上。

6.如權利要求1所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：所述篩分機構還包括攪拌機構，所述攪拌機構具有一旋刷所述篩盤的攪拌刷。

7.如權利要求1所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：所述篩分稱重工位還包括刮掃機構，所述刮掃機構包括推拉執行件及刮板；所述篩下物稱重機構包括盛接板及第四升降執行件，所述盛接板安裝在所述第四升降執行件的升降端；當所述第四升降執行件處于下行程位時，所述刮板的刮刃與所述盛接板的上端面平齊，所述推拉執行件驅動所述刮板刮掃所述盛接板。

8.如權利要求1所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：還包括清理工位，所述清理工位設有可升降與旋轉的清理毛刷，當所述夾持爪將所述篩盤移載至所述清理工位時，所述清理毛刷對篩盤進行清理，所述夾持爪旋轉以切換篩盤的被清理面。

9.如權利要求8所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：還包括水平布置在篩分稱重工位與清理工位之間的吹氣管，所述吹氣管垂直于所述夾持爪的移動方向，所述吹氣管的下方陣列有吹氣孔。

10.如權利要求4、6或8任一項所述的礦漿細度測定設備，其特征在于：還包括擺桿，所述擺桿的下端自然下垂并抵接在所述打散頭/攪拌刷/清理毛刷上，隨所述打散頭/攪拌刷/清理毛刷的轉動而擺動。