[發明專利]基于待檢測單元的可變參考窗單元平均恒虛警檢測方法

在審

• 申請號: 202011186692.5
• 申請日: 2020-10-30
• 公開（公告）號: CN112346029A
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 李志淮;曲智國;王紅;唐瑭;張偉;謝幼才;王洪林;李世飛;巫勇;趙欣
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍空軍預警學院
• 主分類號: G01S7/41
• 分類號: G01S7/41
• 代理公司: 北京融智邦達知識產權代理事務所(普通合伙) 11885
• 代理人: 吳強

1.一種基于待檢測單元的可變參考窗單元平均恒虛警檢測方法，其特征在于，包括：

步驟1：將待測單元左右兩側各設置一個保護單元，然后在保護單元的左右兩側分別選取一個長度為m的大參考窗；

步驟2：分別將大參考窗劃分為3個子參考窗，共得到6個子參考窗，從左至右記為A、B、C、D、E、F；

步驟3：計算子參考窗內單元的平均幅度值；

步驟4：根據待檢測單元的統計特性，對子參考窗進行歸類；

步驟5：比較待檢測單元左右兩個子參考窗C和D的平均幅度值，進而判斷C和D之間是否存在雜波邊緣；

步驟6：依據子參考窗的歸類情況及步驟5的判斷結果，選擇相應的參考子窗為參考單元，并計算所選參考單元的平均值得到背景雜波估計Z；

步驟7：設定恒虛警檢測門限系數β，然后將雷達回波數據內雜波的參考電平Z與β相乘，若待檢測單元內的雷達回波數據模值大于所述得到的乘積值，則表明待檢測單元中包含雷達目標；反之待檢測單元中沒有雷達目標。

2.根據權利要求1所述的一種基于待檢測單元的可變參考窗單元平均恒虛警檢測方法，其特征在于，步驟3具體包括：

步驟3-1，將每個子參考窗進一步劃分為5個參考區間，記為Q1～Q5，相鄰參考區間之間重疊個單元，則每個參考區間的長度為；

步驟3-2，分別計算5個參考區間Q1～Q5內的單元幅度之和，并找到其中幅度值最大對應的參考區間Qmax參考區間的幅度值最大，Qmax為Q1～Q5之一；

步驟3-3，從子參考窗中將Qmax參考區間包含的單元剔除，計算子參考窗內其他單元的幅度平均值。

3.根據權利要求1所述的一種基于待檢測單元的可變參考窗單元平均恒虛警檢測方法，其特征在于，步驟4具體包括：

基于待檢測單元的統計特性，對子參考窗進行分類，分成S0、S1兩部分，

式中，為子參考窗的平均幅度值，x為待檢測單元值，α為尺度因子，且0α1，值的選取必須保證在均勻環境下具有較小的CFAR損失，α在0.5～0.7之間取值。

4.根據權利要求1所述的一種基于待檢測單元的可變參考窗單元平均恒虛警檢測方法，其特征在于，步驟5具體包括：

計算的值，如果，則認為待檢測單元左右兩個子參考窗之間不存在雜波邊緣；否則，認為待檢測單元左右兩個子參考窗之間存在雜波邊緣；其中為經驗閾值，可根據雷達陣地周圍雜波情況在0.1～0.2之間取值。

5.根據權利要求1所述的一種基于待檢測單元的可變參考窗單元平均恒虛警檢測方法，其特征在于，步驟6具體包括：

步驟6-1，根據步驟5的比較結果，當時，選取S0中的子參考窗為參考單元，當時，選取S1中的子參考窗為參考單元；如果S0中子參考窗的個數n0＝0，或者S1中子參考窗的個數n1＝0，則選取所有子參考窗為參考單元；

步驟6-2，對于最終選取的子參考窗的平均幅度值求和，再除以選取的子參考窗個數，得到最終的參考窗平均值，作為背景雜波功率估計值。