[發明專利]一種可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置

有效

• 申請號: 202011183506.2
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112304530B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: 郭飛;黃毅杰;王文虎;項沖;張兆想;程甘霖;譚磊;賈曉紅;王玉明
• 申請（專利權）人: 清華大學;廣州國機密封科技有限公司
• 主分類號: G01M3/26
• 分類號: G01M3/26;G01M13/005
• 代理公司: 西安智大知識產權代理事務所 61215
• 代理人: 段俊濤

1.一種可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置，其特征在于，包括筒體(5)，活動蓋(4)的中下部伸入筒體(5)與筒體(5)連接，活動蓋(4)的下部為錐形結構，筒體(5)相應內側壁為與該錐形結構匹配的錐面結構，測試用O型圈(7)設置于該錐形結構外側壁的環形密封槽中，活動蓋(4)通過中部外側壁上凸起的螺旋塊與筒體(5)內側壁的螺旋槽配合實現旋轉，所述筒體(5)的底部通過氣管(13)連通進氣管路和出氣管路，所述進氣管路上沿進氣方向依次設置有氣瓶(24)、增壓箱(23)、進氣管路控制閥(22)和壓力檢測表(21)，所述出氣管路上并聯設置有出氣管路溢流閥(17)、出氣管路控制閥(18)和出氣管路電磁閥(20)，出氣管路末端連接氣體回收瓶(19)，其中，所述活動蓋(4)的中部為環形凸起，螺旋塊設置在環形凸起外的底側位置，螺旋角為θ，螺旋面帶有內傾斜角α，相應地，筒體(5)內部設置有與螺旋塊數量一致的螺旋槽，且螺旋槽特征角與螺旋塊相關特征角匹配，其中：

所述活動蓋(4)的頂部通過壓緊螺釘(1)安裝有壓頂環(2)和啟閉桿(3)，利用啟閉桿(3)逆時針或順時針的旋轉，帶動活動蓋(4)逆時針或順時針的旋轉，通過螺旋塊和螺旋槽對應螺旋面的配合實現活動蓋(4)垂直方向即軸向的升降，進而通過環形密封槽和筒體(5)錐面配合間隙的改變，實現測試用O型圈(7)截面直徑的控制；

所述活動蓋(4)旋動后對活動蓋(4)沿垂直方向升降及測試用O型圈(7)截面直徑增減的控制根據活動蓋(4)、筒體(5)的螺旋面螺旋方向進行調整；

所述活動蓋(4)和筒體(5)之間布有軸向的壓緊彈簧(6)，壓緊彈簧(6)布于筒體(5)非螺旋槽位置，在工作時為壓縮狀態。

2.根據權利要求1所述可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置，其特征在于，環繞所述氣管(13)通過管路壓緊螺釘(11)自上而下安裝有密封墊(8)、壓緊墊(12)和壓緊盤(14)，所述筒體(5)內側壁與密封墊(8)外側壁之間有管路密封外O型圈(9)和管路密封外凹型圈(10)，密封墊(8)內側壁和氣管(13)外側壁之間有管路密封內凹型圈(15)和管路密封內O型圈(16)，管路密封外O型圈(9)位于管路密封外凹型圈(10)的上方，管路密封內O型圈(16)位于管路密封內凹型圈(15)的上方。

3.根據權利要求2所述可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置，其特征在于，所述管路密封外O型圈(9)、管路密封內O型圈(16)、壓緊墊(12)為硅橡膠；所述管路密封外凹型圈(10)、管路密封內凹型圈(15)為黃銅。

4.根據權利要求1所述可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置，其特征在于，所述螺旋塊表面加工有0.5～1mm厚的涂層，所述螺旋槽有止位凸起，螺旋塊外側與螺旋槽內側具有3～5mm的間隙，所述活動蓋(4)加工有環形的活動導軌。

5.根據權利要求1所述可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置，其特征在于，所述壓力檢測表(21)用于檢測筒體(5)內部氣體測試時壓力可達到最大值、測試時壓力波動以及測試結束后是否排空；所述出氣管路溢流閥(17)用于超壓溢流；所述出氣管路電磁閥(20)由壓力檢測表(21)控制，在壓力檢測表(21)檢測到筒體(5)內部氣體壓力波動時進行卸荷。

6.根據權利要求1所述可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置，其特征在于，所述測試用O型圈(7)為橡膠材料或金屬材料，測試的高壓氣體為氫氣、氦氣或空氣。

7.根據權利要求1所述可分析O型圈截面直徑對高壓密封性能影響的內傾斜角測試裝置，其特征在于，所述螺旋塊和螺旋槽的數量均為三個，分別均布設置。