[發明專利]子孔徑掃描平場定標的數據處理方法、系統和存儲介質有效
| 申請號： | 202011183115.0 | 申請日： | 2020-10-29 |
| 公開（公告）號： | CN112288785B | 公開（公告）日： | 2022-07-15 |
| 發明（設計）人： | 鄭家寧;張曉輝;張寧;咸競天 | 申請（專利權）人： | 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所 |
| 主分類號： | G06T7/33 | 分類號： | G06T7/33;G06T7/11;G06T7/90;G06T7/136 |
| 代理公司： | 長春中科長光知識產權代理事務所(普通合伙) 22218 | 代理人： | 高一明;郭婷 |
| 地址： | 130033 吉林省長春*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 孔徑 掃描 平場定 標的 數據處理 方法 系統 存儲 介質 | ||
1.一種子孔徑掃描平場定標的數據處理方法，其特征在于，所述方法包括：
S1：獲取子孔徑光源經望遠鏡后的圖像Ii；
S2：對所述圖像Ii進行配準，得到配準圖像IRi；對所述圖像Ii進行串擾信息和光斑信息識別，得到包含所述串擾信息和所述光斑信息的模板A；
S3：根據所述模板A對所述配準圖像IRi進行光斑分割，得到光斑半徑Ri和光斑中心Oi；步驟S3包括：
S31：對圖像IRi和模板A進行邏輯“與”運算，得到關于具有串擾信息和光斑信息的圖像IRi；
S32：以預定長度步長逐步增大光斑半徑，并以邊緣區域的光斑灰度均值為約束條件，邊緣區域的光斑灰度均值為目標值，求解光斑灰度均值最大時的光斑半徑Ri以及光斑中心Oi；所述約束條件包括：光斑區域對應的邊緣區域的灰度均值在預設范圍內；
S4：對所有光斑半徑Ri累加求平均，得到一致的望遠鏡對子孔徑光源所成的像的光斑半徑R；
S5：以R為光斑半徑，Oi為光斑中心，確定光斑圓區域，并計算所述圖像Ii中位于所述光斑圓區域內的所有像素點的灰度均值DNi；
S6：對所有基于子孔徑計算得到的DNi求和，并根據以下公式計算當前視場下全孔徑灰度均值DN：DN＝k·∑DNi，其中，k為校正系數；
S7：獲取當前視場下全孔徑灰度均值DN，建立所述DN與光源輻射亮度的映射關系。
2.如權利要求1所述的子孔徑掃描平場定標的數據處理方法，其特征在于，步驟S1包括：
S11：控制子孔徑光源開啟，對望遠鏡成像，獲取關于環境、系統本身的底噪圖像Inoise1；
S12：控制子孔徑光源關閉，對望遠鏡成像，獲取子孔徑光源在Li位置處成的像I0；
S13：控制子孔徑光源關閉，對望遠鏡成像，獲取關于環境、系統本身的底噪圖像Inoise2；
S14：根據以下公式計算得到圖像Ii：
Ii＝I0-(Inoise1+Inoise2)/2,其中i＝1,2,3,…,n。
3.如權利要求1所述的子孔徑掃描平場定標的數據處理方法，其特征在于，“對所述圖像Ii進行配準，得到配準圖像IRi”包括：
S21：以圖像I1作為標準圖像，以圖像Ii作為待配準圖像，對所述圖像I1和待配準圖像Ii基于圖像特征進行配準，得到配準后的圖像集IRi，其中，待配準圖像Ii的i＝2，3，…n，n為正整數，IR1＝I1。
4.如權利要求1或3所述的子孔徑掃描平場定標的數據處理方法，其特征在于，“對所述圖像Ii進行串擾信息和光斑信息識別，得到包含所述串擾信息和所述光斑信息的模板A”包括：
S22：以圖像IR1為參照圖像Ir，對圖像集IRi中的其他所有圖像IRi均與參照圖像Ir求差并取絕對值，以得到差異圖像IDi；
S23：建立和所述IDi具有相同大小的二維矩陣A1，對所述IDi對應像素灰度值求和，并將得到的灰度值之和填充至二維矩陣A1對應像素位置；
S24：對二維矩陣A1做二值化處理，并做形態學閉運算，從而得到包含串擾信息和光斑信息的模板A。
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