[發明專利]一種AOI自動光學檢測上下料機

在審

• 申請號: 202011182512.6
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112161994A
• 公開（公告）日: 2021-01-01
• 發明（設計）人: 洪亞德;林中龍;王士奇;趙凌焜
• 申請（專利權）人: 廈門福信光電集成有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95;G01N21/13;B65G47/91;B65G47/74;B65G47/248;B65G37/00
• 代理公司: 廈門致群財富專利代理事務所(普通合伙) 35224
• 代理人: 劉兆慶

本發明公開了一種AOI自動光學檢測上下料機，包括機架、上料裝置、取料裝置、下料裝置及控制裝置，所述上料裝置包括輸入機構、上料機構及視覺定位機構，所述輸入機構包括至少兩組，且其沿豎直方向設置在所述機架上，用于輸入待測液晶屏料盒，所述取料裝置設置在所述上料裝置和下料裝置的前側中間位置，用于吸取液晶屏，所述下料裝置包括輸出機構、下料機構及機械定位機構，所述輸出機構包括至少兩組，且其沿豎直方向設置在所述機架上，用于輸出合格液晶屏料盒。本發明提供一種AOI自動光學檢測上下料機，將AOI上下料過程集成在一臺設備上完成，節省空間成本和人力成本，設備運行全程通過自動化進行控制，效率高，降低生產成本，且上下料定位精準，檢測結果可靠性高。

技術領域

本發明涉及AOI檢測設備的配套裝置領域，具體涉及一種AOI自動光學檢測上下料機。

背景技術

AOI的全稱是自動光學檢測，其基于光學原理對TFT-CELL及Module裸露電極區域線路異常(因制程和不當操作導致的劃傷而引起的線路open或short等缺陷)。

現有的AOI的上下料主要通過流水線工藝或是人工完成，流水線工藝需要占用較大的空間場地，人工上下料的操作方式效率很低，對于檢測批量的液晶屏來說，需耗費較大的人力成本，導致產品的成本上升。

發明內容

本發明的目的在于提供一種AOI自動光學檢測上下料機，將AOI上下料過程集成在一臺設備上完成，節省空間成本和人力成本，設備運行全程通過自動化進行控制，效率高，降低生產成本，且上下料定位精準，檢測結果可靠性高。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：

一種AOI自動光學檢測上下料機，包括機架、上料裝置、取料裝置、下料裝置及控制裝置，其中：

所述上料裝置包括輸入機構、上料機構及視覺定位機構，所述輸入機構包括至少兩組，且其沿豎直方向設置在所述機架上，用于輸入待測液晶屏料盒，所述上料機構可升降設置在所述輸入機構的輸出端，用于承接輸入機構上的待測液晶屏料盒，所述視覺定位機構設置所述上料機構的上方，用于獲取料盒中待測液晶屏的方位信息；

所述取料裝置設置在所述上料裝置和下料裝置的前側中間位置，用于吸取液晶屏，所述取料裝置包括機械手臂和設置在機械手臂上的第一真空吸料裝置；

所述下料裝置包括輸出機構、下料機構及機械定位機構，所述輸出機構包括至少兩組，且其沿豎直方向設置在所述機架上，用于輸出合格液晶屏料盒，所述下料機構可升降設置在所述輸出機構的輸入端，所述下料機構用于放置合格液晶屏空料盒，所述機械定位機構設置在所述下料機構上，用于定位合格液晶屏空料盒的位置。

優選地，所述輸入機構包括第一輸送架、第一輸送輥組及第一輸送電機，所述第一輸送架固設在機架上，所述第一輸送輥組轉動設置在所述第一輸送架上，并通過所述第一輸送電機驅動，所述第一輸送架的輸出端設有第一輸出定位傳感器，輸入端設有第一輸入定位傳感器；

所述上料機構包括上料滑軌、上料架、上料絲桿、上料基座、上料電機、第二輸送架、第二輸送輥組及第二輸送電機，所述機架上設有上料基板，所述上料滑軌和上料基座固設在所述上料基板上，所述上料架上設有滑動設置在所述上料滑軌上的上料滑座，所述上料絲桿轉動設置在所述上料基座上，并通過所述上料電機驅動，所述上料架與所述上料絲桿相配合，所述第二輸送架固設在所述上料架上，所述第二輸送輥組轉動設置在所述第二輸送架上，并通過所述第二輸送電機驅動，所述第二輸送輥組與所述第一輸送輥組相配合，所述上料架上設有第二安裝塊，所述第二安裝塊上開設有第二安裝槽，所述第二安裝槽內設有第二定位傳感器，所述上料基板上固設有上料行程滑軌和滑動設置在所述上料行程滑軌的上料行程開關。