[發明專利]光學數據補償方法及補償裝置、存儲介質和電子設備

有效

• 申請號: 202011181501.6
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112233617B
• 公開（公告）日: 2021-11-16
• 發明（設計）人: 王森
• 申請（專利權）人: 維信諾科技股份有限公司
• 主分類號: G09G3/3208
• 分類號: G09G3/3208
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 張娜;劉芳

本申請提供一種光學數據補償方法及補償裝置、存儲介質和電子設備。該方法包括：根據顯示面板的平面區域的中心點在第一灰階下的電壓值，確定所述顯示面板的彎曲區域對應的實際灰階；根據所述平面區域在所述實際灰階下的光學數據，獲取所述彎曲區域在所述第一灰階下的光學數據；對所述彎曲區域在所述第一灰階下的光學數據進行補償。和現有技術中直接使用平面區域各個像素的光學數據的平均值代替彎曲區域的光學數據相比，彎曲區域經過補償后顯示更加均勻。

技術領域

本申請涉及顯示屏領域，尤其涉及一種光學數據補償方法及補償裝置、存儲介質和電子設備。

背景技術

曲面顯示屏因具有更舒適的穿戴體驗、更好的立體顯示效果、更高的手持感等優勢，越來越受到用戶的青睞。目前曲面顯示屏主要通過有機電激光顯示(OrganicLight-Emitting Diode，簡稱OLED)面板來實現。由于OLED面板制作工藝不成熟，會造成面板顯示時亮度不均，這種亮度不均業界內稱為Mura，通常用Demura方案進行補償來消除該Mura。針對曲面顯示面板，目前采用的是和平面顯示面板相同的方案采集光學數據，使得彎曲區域的光學數據有偏差。

現有技術中，為了消除彎曲區域的光學數據的偏差，提出使用平面區域各個像素的光學數據的平均值代替彎曲區域的光學數據。然而，平面區域各個像素的光學數據的平均值并不能反映彎曲區域的實際光學數據，對其進行Demura處理后，顯示效果仍不理想。

發明內容

本申請提供一種光學數據補償方法及補償裝置、存儲介質和電子設備，用于提升曲面顯示面板的彎曲區域的顯示均一性。

第一方面，本申請提供一種光學數據補償方法，用于補償顯示面板，所述顯示面板包括平面區域和彎曲區域，所述方法包括：根據平面區域的中心點在第一灰階下的電壓值，確定彎曲區域對應的實際灰階；根據該平面區域在該實際灰階下的光學數據，獲取該彎曲區域在該第一灰階下的光學數據；對該彎曲區域在該第一灰階下的光學數據進行補償。

可選的，該根據曲面顯示面板的平面區域的中心點在第一灰階下的電壓值，確定該曲面顯示面板的彎曲區域對應的實際灰階，包括：根據該平面區域的中心點在第一灰階下的電壓值，確定該彎曲區域的中心點的電壓值；根據該彎曲區域的中心點的電壓值和預設映射關系，確定該彎曲區域對應的實際灰階，該預設映射關系用于表征電壓值和灰階之間的關系。

可選的，該根據該平面區域的中心點在第一灰階下的電壓值，確定該彎曲區域的中心點的電壓值之前，該方法還包括：根據該平面區域的中心點在該第一灰階下的伽馬值、該平面區域的中心點在最高灰階下的電壓值以及該平面區域的中心點在最低灰階下的電壓值，確定該平面區域的中心點在第一灰階下的電壓值。

可選的，所述根據所述平面區域的中心點在第一灰階下的電壓值，確定所述彎曲區域的中心點的電壓值，包括：獲取第一像素在所述第一灰階下的第一電壓值，所述第一像素為所述平面區域的中心點所在的像素列內靠近微型電子器件IC的像素；獲取第二像素在所述第一灰階下的第二電壓值，所述第二像素為所述彎曲區域的中心點所在的像素列內靠近所述微型電子器件IC的像素；根據所述平面區域的中心點在所述第一灰階下的電壓值、所述第一電壓值以及所述第二電壓值，確定所述彎曲區域的中心點的電壓值。

可選的，所述根據所述平面區域的中心點在所述第一灰階下的電壓值、所述第一電壓值以及所述第二電壓值，確定所述彎曲區域的中心點的電壓值，包括：求取所述第一電壓值和所述平面區域的中心點在所述第一灰階下的電壓值之間的第一差值；將所述第二電壓值和所述第一差值之間的第二差值確定為所述彎曲區域的中心點的電壓值。

可選的，所述根據所述彎曲區域的中心點的電壓值和預設映射關系，確定所述彎曲區域對應的實際灰階之前，所述方法還包括：針對每個灰階，獲取所述平面區域的中心點在所述灰階下的伽馬值；根據所述伽馬值、所述平面區域的中心點在最高灰階下的電壓值以及所述平面區域的中心點在最低灰階下的電壓值，確定所述灰階對應的電壓值。