[發明專利]一種基于MES的熒光探傷視覺數據處理系統及其處理方法

在審

• 申請號: 202011181236.1
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112345547A
• 公開（公告）日: 2021-02-09
• 發明（設計）人: 錢煜;劉高峰;姜斌;李霞;王文智
• 申請（專利權）人: 東方藍天鈦金科技有限公司
• 主分類號: G01N21/91
• 分類號: G01N21/91;G06F16/22;G06F16/2458
• 代理公司: 煙臺上禾知識產權代理事務所(普通合伙) 37234
• 代理人: 蘇紅紅

一種基于MES的熒光探傷視覺數據處理系統及其處理方法，屬于熒光探傷技術領域。本發明提供一種能夠自動記錄缺陷信號數據、省略人工復查、省時高效的基于MES的熒光探傷視覺數據處理系統及其處理方法。本發明中，MES系統用于根據生產調度信息進行排產，數據庫用于接收MES系統推送的待檢批次零件信息并提取出結構化數據，熒光探傷智能視覺設備用于根據結構化數據的關鍵字段自動選擇對應的工作模式，對零件進行自動分選，數據采集服務器對試驗數據進行存儲并進行統計分析；數據采集服務器用于根據用戶預設規則實時監測試驗數據的狀態，并根據監測結果實時控制是否觸發熒光探傷智能視覺設備的報警裝置。本發明主要用于對零件進行熒光探傷。

技術領域

本發明屬于熒光探傷技術領域，具體涉及一種基于MES的熒光探傷視覺數據處理系統及其處理方法。

背景技術

機械零部件在工作中會出現裂紋、腐蝕、氣孔等不連續性缺陷，這類缺陷嚴重威脅著現有機械裝備的安全性和可靠性，因表面缺陷導致零部件失效斷裂的事故數不勝數，為此各個國家相繼制定了專用的熒光滲透探傷標準，一些大型自動化熒光探傷裝備相繼被開發使用。例如我國西南科技大學開發了一種智能化熒光磁粉探傷檢測系統，該系統采用了傳輸帶機械裝置、專業磁粉探傷儀以及CCD視覺相機技術，并且能夠與產品生產線相銜接，實現零件檢測速度與生產速度同步。我國航天緊固件制造單位自主研制了一種熒光探傷智能視覺識別系統，該系統分別采用視覺定位技術、ABB機器人技術、CCD視覺相機技術等，適用于各類金屬緊固件360°全方位缺陷探測。熒光探傷是一種檢查零部件表面缺陷的無損檢驗方法，將待檢零部件放入檢測設備進行一系列處理后，在零件表面缺陷處會產生黃綠色信號顯示。關鍵零部件產品的熒光探傷檢查過程中，為了更加準確無誤的獲得零件所有表面的細微缺陷顯示，通常需要采用視覺識別設備對零件表面進行觀察。視覺觀察完成后設備會根據零件表面是否存在缺陷顯示進行分料篩選，視覺識別到缺陷顯示信號時零件自動被分選到不良品區，未識別到缺陷顯示信號時被分選至良品區。待檢零部件全部完成視覺觀察后，檢測員僅對不良品零件進行集中復查確認。

當前，手工熒光探傷設備逐漸被自動化設備所取代，特別是缺陷痕跡顯示的探測方面已實現了智能化。但是由于復雜的熒光探傷工藝特性，經過不同加工工藝處理的零件，其表面缺陷的痕跡顯示會呈現不同狀態，即圓形顯示、線型顯示、點狀顯示等。目前，自動化熒光探傷設備可以實現缺陷痕跡顯示的自動篩選，將未觀察到任何顯示的零件篩選為良品，對存在缺陷顯示的零件篩選為不良品，但是該設備無法辨別缺陷痕跡顯示的狀態，對各種狀態的缺陷顯示均作不良品處理，爾后再由檢測員進行目視復查驗證。這種自動化設備預檢方式雖然提高了檢測效率，但是在數據采集模式、數據管理方法、預警機制等方面還需要進一步完善。

現有的自動化熒光探傷檢測過程中，先通過自動化設備預檢方式將待檢零件分選為良品和不良品兩種狀態，再由檢測員針對不良品的缺陷痕跡顯示狀態進行復查驗證。當對大批量零件實施檢測時，若零件存在系統性質量問題時，經自動化探傷設備篩選為不良品的比例會較高，依靠后續人工復查處理的方式不僅耗費大量的時間，而且人工記錄大量缺陷信號數據也容易出現記錄錯誤，檢測過程中的數據管理方式較單一，缺少智能化管理。

因此，就需要一種能夠自動記錄缺陷信號數據、省略人工復查、省時高效的基于MES的熒光探傷視覺數據處理系統及其處理方法。

發明內容

本發明針對現有的熒光探傷檢測系統在記錄缺陷信息時需要人工復查、耗時耗力的缺陷，提供一種能夠自動記錄缺陷信號數據、省略人工復查、省時高效的基于MES的熒光探傷視覺數據處理系統及其處理方法。

本發明的技術方案如下：

本發明所涉及的一種基于MES的熒光探傷視覺數據處理系統，它包括MES系統、數據庫、熒光探傷智能視覺設備和數據采集服務器；

所述MES系統用于將待檢批次零件信息傳送至所述數據庫；并用于存取所述數據采集服務器所采集回來的實時數據信息；