[發明專利]一種標準球輔助的工業CT測量坐標系可靠配準方法在審
| 申請號: | 202011181185.2 | 申請日: | 2020-10-29 |
| 公開(公告)號: | CN112308890A | 公開(公告)日: | 2021-02-02 |
| 發明(設計)人: | 黃魁東;張欣 | 申請(專利權)人: | 西北工業大學 |
| 主分類號: | G06T7/33 | 分類號: | G06T7/33;G06T7/10 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 標準 輔助 工業 ct 測量 坐標系 可靠 方法 | ||
本發明提供一種標準球輔助的工業CT測量坐標系可靠配準方法,屬于工業CT無損檢測技術領域。該方法充分利用外形測量手段高精度、高可靠性的優勢,利用輔助標準球建立的坐標系實現測量點云與設計模型的可靠配準,對零件裝夾無基準定位要求,使用普通夾具即可,避免了不同零件CT成像質量差異對配準精度的影響,同時也避免了成批同型號零件制造差異對配準精度的影響,實施簡便,可靠性高,一致性好,有利于在工業CT檢測中實現測量與設計意圖的統一。
技術領域
本發明涉及一種標準球輔助的工業CT測量坐標系可靠配準方法,屬于工業CT無損檢測技術領域。
背景技術
計算機斷層成像(Computed?Tomography,CT)技術能在對檢測物體無損傷條件下,以二維斷層圖像的形式,清晰、準確、直觀地展示被檢測物體的內部結構,被譽為當今最佳的無損檢測與評估技術,被廣泛應用于醫學診斷和工業檢測領域。
CT圖像本身是灰度圖像,無法直接進行準確的尺寸/偏差測量,缺陷參數的準確計算與定位也比較困難。因此,基于CT的尺寸/缺陷檢測,一般情況下都需要先對CT圖像進行分割,得到三維點云。
在基于點云的尺寸/缺陷檢測與評定方面,首先需要將測量點云與設計模型的坐標系配準。配準過程一般可分為粗配準和精配準兩個步驟,常用的粗配準算法主要有最小包圍盒法、主成分分析法、遺傳算法等,而常用的精配準方法主要有迭代最近點(IterativeClosest?Point,ICP)算法、標準優化算法和基于特征的方法等。目前最常見也是應用最廣泛的配準算法是ICP算法,包括基于ICP算法的各種改進算法。該類算法存在的主要問題有:
(1)算法復雜度高,對待匹配點云的初始狀態要求高,當點云數量達到一定數量級后計算量巨大。
(2)對于成批同型號零件,由于被測零件必然存在各不相同的加工誤差,因此其測量點云也各不相同,通過ICP算法進行配準時由于基準不統一,可能造成測量偏差與實際偏差的不一致。
另外,工業CT的成像質量受零件材質、尺寸、結構等因素的影響較大,相應分割得到的點云精度也存在較大差異,因此單純根據點云實現與設計模型的配準,配準的系統誤差就難以控制,配準的精度和一致性也無法保障。
發明內容
為了解決工業CT實現檢測中測量點云與設計模型配準時的精度變化大、一致性差、基準不統一等問題,本發明提供一種標準球輔助的工業CT測量坐標系可靠配準方法,充分利用外形測量手段高精度、高可靠性的優勢,利用輔助標準球建立的坐標系實現測量點云與設計模型的可靠配準。
本發明解決其技術問題所采用的技術方案包括以下步驟:
步驟1:將待測零件裝夾到帶有至少3個標準球的夾具上,標準球位置在高度上高于夾具,在圓周上圍繞零件相對均勻布置,標準球密度不高于零件密度;
步驟2:利用外形測量手段,先測量各個標準球的球心坐標,再根據設計模型給出的測量基準或測量規范要求,測量得到零件上相應部位的點云,此步坐標系為外測坐標系;
步驟3:將設計模型與步驟2得到的零件點云配準,即將設計模型變換到外測坐標系;
步驟4:保持夾具及零件的夾持狀態不變,對其進行工業CT掃描,掃描除包含零件感興趣部位以外,還必須包含標準球,然后重建得到CT圖像;
步驟5:分割所得的CT圖像得到測量點云,對其中各個標準球的點云分別進行擬合得到相應的球心坐標,此步坐標系為CT坐標系;
步驟6:根據步驟2和步驟5中得到的標準球球心坐標,計算從CT坐標系變換到外測坐標系的變換矩陣;
步驟7:利用步驟6得到的變換矩陣,將CT測量點云變換到外測坐標系中,即完成CT測量點云與設計模型的配準。
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