[發(fā)明專利]鈣鈦礦薄膜及其制備方法和應(yīng)用在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011180725.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-10-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112289932A | 公開(公告)日: | 2021-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 于振瑞 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無錫極電光能科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L51/00 | 分類號(hào): | H01L51/00;H01L51/48;H01L51/42 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 周紅 |
| 地址: | 214101 江蘇省無錫*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 鈣鈦礦 薄膜 及其 制備 方法 應(yīng)用 | ||
1.一種制備鈣鈦礦薄膜的方法,其特征在于,包括:
(1)利用近空間升華法在基底上形成金屬鹵化物薄膜;
(2)利用溶液法在所述金屬鹵化物薄膜形成有機(jī)鹵化物薄膜;
(3)對(duì)步驟(2)得到的基底材料進(jìn)行干燥、退火處理,以便使金屬鹵化物和有機(jī)鹵化物發(fā)生固相晶化反應(yīng)形成鈣鈦礦薄膜。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述金屬鹵化物薄膜中具有含銫鈣鈦礦籽晶。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述金屬鹵化物為PbXa2,所述有機(jī)鹵化物為FAXb和/或MAXc,所述含銫鈣鈦礦籽晶為CsPbXd3,其中,Xa、Xb、Xc和Xd分別獨(dú)立地為選自I、Br和Cl中的至少之一,F(xiàn)AXb為甲脒的鹵化物,MAXc為甲胺的鹵化物。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,包括:
步驟(1)中,將PbXa2和CsXe混合,并在惰性氣氛下利用近空間升華法在所述基底上形成具有CsPbXd3籽晶的鹵化鉛薄膜,其中,Xe為選自I、Br和Cl中的至少之一;
步驟(2)中,配制含有FAXb和/或MAXc的前驅(qū)體溶液,并利用溶液法在所述鹵化鉛薄膜上形成FAXb和/或MAXc薄膜。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,其特征在于,至少滿足以下條件之一:
步驟(1)中,所述CsXe與PbXa2的摩爾比為(0.001~0.25):1;
步驟(1)中,所述近空間升華法的溫度不大于500℃;
步驟(1)中,將PbXa2和CsXe置于近空間升華爐的源上,基底置于所述源的正上方,所述基底與所述源之間的距離為2~50mm,所述近空間升華爐反應(yīng)室內(nèi)的壓強(qiáng)為0.1~100Pa;
步驟(2)中,所述前驅(qū)體溶液以選自DMF、DMSO和IPA中的至少之一為溶劑;
步驟(2)中,所述前驅(qū)體溶液中包括用于促進(jìn)晶粒長大和鈍化晶粒缺陷的添加劑;
步驟(2)中,所述溶液法為選自狹縫刮涂法、刮刀涂覆法、噴涂法和浸泡法中的至少之一;
步驟(3)中,所述退火的溫度不高于200℃;
步驟(3)中,所述退火為一步退火處理或多步退火處理;
步驟(3)中,所述退火包括:預(yù)先于70~100℃下進(jìn)行第一退火,然后于100~150℃下進(jìn)行第二退火。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,至少滿足以下條件之一:
步驟(1)中,所述CsXe與PbXa2的摩爾比為(0.05~0.1):1;
步驟(1)中,所述近空間升華法的溫度為250~350℃;
步驟(1)中,所述基底與所述源之間的距離為3~10mm;
步驟(2)中,所述溶液法為狹縫刮涂法、刮刀涂覆法或噴涂法;
步驟(2)中,所述添加劑為選自KI、RbI、RhI和PEAI中的至少之一;
步驟(1)和步驟(2)中,按照Cs、FA和MA的總摩爾數(shù)與Pb、鹵元素的摩爾比為1:1:3來形成金屬鹵化物薄膜和有機(jī)鹵化物薄膜;
基于摩爾總數(shù)為1mol的CsXe、FAXb、MAXc,CsXe、FAXb和MAXc的摩爾比為(0.001~0.25):(0~0.999):(0~0.3),其中,F(xiàn)AXb和MAXc不同時(shí)為零。
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