[發明專利]平臺精度的補償方法、裝置、設備和介質

在審

• 申請號: 202011179963.4
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112486093A
• 公開（公告）日: 2021-03-12
• 發明（設計）人: 陳國軍;周科;陳亮;吳景舟;馬迪
• 申請（專利權）人: 鈞迪智能裝備科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G05B19/404
• 分類號: G05B19/404;G01B11/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種平臺精度的補償方法，其特征在于，所述方法包括：

確定目標標定板上的陣列點測量數據；

根據所述陣列點測量數據，計算待補償平臺的正交性夾角；

基于所述待補償平臺的正交性夾角，將所述陣列點測量數據轉換成正交坐標系數據；

根據所述正交坐標系數據確定待補償平臺的二維線性度誤差補償；

根據所述二維線性度誤差補償，對所述待補償平臺進行補償。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在確定目標標定板上的陣列點測量數據之前，所述方法還包括：

從候選標定板集合中，選擇包含有圓形陣列點測量數據的標定板作為目標標定板。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述陣列點測量數據，計算待補償平臺的正交性夾角，包括：

獲取所述目標標定板的陣列點理論數據；

根據所述陣列點理論數據和所述陣列點測量數據，確定所述陣列點測量數據到所述陣列點理論數據的仿射變換矩陣；

根據所述仿射變換矩陣，計算預設坐標點的仿射向量夾角，得到待補償平臺的正交性夾角。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述正交坐標系數據確定待補償平臺的二維線性度誤差補償，包括：

確定中間陣列點測量數據的水平線性度誤差補償值；

確定中間陣列點測量數據的垂直線性度誤差補償值。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，確定中間陣列點測量數據的水平線性度誤差補償值，包括：

確定待補償平臺的正交性夾角線性度誤差；以及確定各中間陣列點測量數據的水平測量誤差；其中，所述水平測量誤差為所述中間陣列點測量數據到起始陣列點測量數據的水平測量長度，和所述中間陣列點測量數據到起始陣列點測量數據的水平理論長度的差值；

將所述正交性夾角線性度誤差和中間陣列點測量數據的水平測量誤差之間的差值，作為所述中間陣列點測量數據的水平線性度誤差補償值；

相應的，確定中間陣列點測量數據的垂直線性度誤差補償值，包括：

確定各中間陣列點測量數據的垂直測量誤差；其中，所述垂直測量誤差為所述中間陣列點測量數據到起始陣列點測量數據的垂直測量長度，和所述中間陣列點測量數據到起始陣列點測量數據的垂直理論長度的差值；

將所述正交性夾角線性度誤差和中間陣列點測量數據的垂直測量誤差之間的差值，作為所述中間陣列點測量數據的垂直線性度誤差補償值。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，根據所述二維線性度誤差補償，對所述待補償平臺進行補償，包括：

將所述水平線性度誤差補償值和所述垂直線性度誤差補償值，轉換成所述待補償平臺的補償坐標；

根據所述待補償平臺的補償坐標，對所述待補償平臺進行平臺精度補償。

7.一種平臺精度的補償裝置，其特征在于，所述裝置包括：

數據確定模塊，用于確定目標標定板上的陣列點測量數據；

正交性夾角計算模塊，用于根據所述陣列點測量數據，計算待補償平臺的正交性夾角；

數據轉換模塊，用于基于所述待補償平臺的正交性夾角，將所述陣列點測量數據轉換成正交坐標系數據；

誤差補償確定模塊，用于根據所述正交坐標系數據確定待補償平臺的二維線性度誤差補償；

平臺補償模塊，用于根據所述二維線性度誤差補償，對所述待補償平臺進行補償。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，還包括：

目標標定板選擇模塊，用于從候選標定板集合中，選擇包含有圓形陣列點測量數據的標定板作為目標標定板。

9.一種電子設備，其特征在于，包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序，

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1～6中任一所述的平臺精度的補償方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執行時實現如權利要求1～6中任一所述的平臺精度的補償方法。