[發明專利]一種防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析方法和裝置

在審

• 申請號: 202011179861.2
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN112104448A
• 公開（公告）日: 2020-12-18
• 發明（設計）人: 廖裕民;劉承;林緯園;鄒瑜文;王俊
• 申請（專利權）人: 深圳安捷麗新技術有限公司
• 主分類號: H04L9/00
• 分類號: H04L9/00
• 代理公司: 深圳市深弘廣聯知識產權代理事務所(普通合伙) 44449
• 代理人: 向用秀

1.一種防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析裝置，其特征在于，所述裝置包括：

關鍵信息存儲單元，用于存儲關鍵信號和關鍵信號對應的路徑信息；

仿真電路單元，用于接收測試激勵信息進行多次仿真測試；所述激勵信息包括所述關鍵信號；

關鍵信號監控單元，用于在每一次仿真測試時，根據所述關鍵信號對應的路徑信息監控所述關鍵信號，并在所述關鍵信號發生變化時，記錄變化時間戳信息；

差分電磁輻射分析單元，用于獲取每一關鍵信號對應的第一電磁輻射信息和第二電磁輻射信息，并計算所述第一電磁輻射信息和第二電磁輻射信息的電磁輻射差值，分析各關鍵信號的電磁輻射差值是否存在關聯，若存在關聯則發出提示信息；

所述第一電磁輻射信息為本次仿真測試時關鍵信號在變化時間戳信息對應的電磁輻射信息，所述第二電磁輻射信息為上一次仿真測試時關鍵信號在變化時間戳信息對應的電磁輻射信息。

2.如權利要求1所述的防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析裝置，其特征在于，所述裝置包括：

電磁輻射計算單元，用于計算待測電路在每次仿真過程中的電磁輻射數據，并將所述電磁輻射數據存儲于電磁輻射數據存儲單元中；

差分電磁輻射分析單元，用于本次仿真測試時關鍵信號在變化時間戳信息從所述電磁輻射數據存儲單元中獲取第一電磁輻射信息，以及根據上一次仿真測試時關鍵信號在變化時間戳信息從所述電磁輻射數據存儲單元中獲取第二電磁輻射信息。

3.如權利要求2所述的防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析裝置，其特征在于，所述裝置包括：

仿真波形存儲單元，用于存儲仿真電路單元進行仿真測試得到的仿真波形數據；

邏輯綜合單元，用于對待測電路進行邏輯綜合運算，得到網表信息；

ICC布局布線單元，用于根據所述網表信息計算電磁參數文件信息；

電磁輻射計算單元，用于獲取所述仿真波形數據和所述電磁參數文件信息，以計算待測電路在整個仿真過程中的電磁輻射仿真數據。

4.如權利要求1所述的防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析裝置，其特征在于，所述關鍵信號監控單元包括標記插入單元；

所述標記插入單元用于設置標記信號，并將所述標記信號插入所述關鍵信號對應的路徑信息中，以及在所述標記信號值發生變化時，記錄當前時間戳信息；所述標記信號的值與所述關鍵信號的值實時相等。

5.如權利要求1所述的防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

隨機數產生單元，用于產生隨機數；

仿真激勵生成單元，用于根據所述隨機數產生單元產生的隨機數生成測試激勵信息，并將所述測試激勵信息傳輸給所述仿真電路單元。

6.如權利要求1所述的防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析裝置，其特征在于，關鍵信號包括多個變化類型；所述變化類型根據兩次仿真測試時關鍵信號變化時的值進行確定；

差分電磁輻射分析單元，用于判斷關鍵信號在某一變化類型的電磁輻射差值與其他變化類型的電磁輻射差值的差異是否大于預設誤差，若是則判定關鍵信號在該變化類型上存在相關性。

7.如權利要求1所述的防DEMA攻擊的待測電路安全仿真分析裝置，其特征在于，所述關鍵信息包括測試密鑰信息；所述裝置包括：

密鑰產生單元，用于產生所述測試密鑰信息；

密鑰記錄單元，用于存儲所述測試密鑰信息；

差分電磁輻射分析單元，用于獲取所述測試密鑰信息，并判斷各測試密鑰信息對應的電磁輻射差值是否相關。