[發明專利]一種探測器非均勻校正方法和系統

有效

• 申請號: 202011178030.3
• 申請日: 2020-10-29
• 公開（公告）號: CN111998958B
• 公開（公告）日: 2021-02-19
• 發明（設計）人: 蔡李靖;黃爾齊;鄧智威;字崇德;陳林森
• 申請（專利權）人: 南京智譜科技有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G01J5/10
• 代理公司: 北京華夏正合知識產權代理事務所(普通合伙) 11017
• 代理人: 韓登營

本申請涉及一種探測器非均勻校正方法、系統、計算設備及存儲介質，所述方法包括：對OCC參數列表中第一區域OCC數據中的每一列OCC數據進行同時校正，以使探測器陣列所有像素點輸出的像素值的均值最接近預設像素目標值；和/或對OCC參數列表中的第二區域OCC數據中的每個OCC數據分別進行校正，以使每個OCC數據在探測器陣列對應的每個像素點輸出的像素值最接近預設像素目標值。本申請提供的技術方案，在探測器成像時對其進行非均勻校正，可以提高校正精度，降低成像后校正的難度。

技術領域

本申請涉及儀器校正技術領域，特別是指一種探測器非均勻校正方法和系統。

背景技術

探測器具有響應快、分辨率高、像元間距小、成本低等眾多優點，因此，探測器很受到市場的歡迎。但是，探測器由紅外焦平面陣列的材料、制造工藝等影響造成其非均勻性，影響了探測器的測量精度。

目前，校正探測器的非均勻性的方法一般是基于高低溫黑體的兩點校正，這種方法是在探測器成像后，針對其成像的每個像元響應不同的情況下，將其投影至同一響應下，以實現對其非均勻性的校正。另外，現有技術中校正探測器的非均勻性還有基于紅外相機擋片的擋片校正法和基于場景的場景校正法，這兩種方法均是在探測器成像后，對探測器工作時產生的溫漂進行校正的方法。

綜上，現有技術中對探測器的非均勻性校正主要集中在成像后對其進行校正，因此，現有技術的校正方法只校正了成像后的非均勻性，導致測量精度難以提高。

發明內容

有鑒于此，本發明的主要目的在于提供一種探測器非均勻校正方法和系統，以能提高探測器的非均勻性校正的精度。

本發明提供的一種探測器非均勻校正方法，包括：

對OCC參數列表中第一區域OCC數據中的每一列OCC數據進行同時校正，以使探測器陣列所有像素點輸出的像素值的均值最接近預設像素目標值；和/或

對OCC參數列表中的第二區域OCC數據中的每個OCC數據分別進行校正，以使每個OCC數據在探測器靶面上對應的每個像素點輸出的像素值最接近預設像素目標值。

由上，提供了一種探測器在成像時的校正方法，可以提高校正精度，還可以減輕在成像后對探測器校正的負擔。

作為第一方面的一種實現方式，所述對OCC參數列表中第一區域OCC數據中的每一列OCC數據進行同時校正，以使探測器陣列所有像素點輸出的像素值的均值最接近預設像素目標值，包括：

對所述第一區域OCC數據中的與像素值的變化成正相關的列的OCC數據進行校正；和/或

對所述第一區域OCC數據中的與像素值的變化成負相關的列的OCC數據進行校正。

由上，根據OCC陣列中OCC數據與像素值變化趨勢的不同關系進行分別校正，可以使校正結果更接近實際結果。

作為第一方面的一種實現方式，所述對所述第一區域OCC數據中的與像素值的變化成正相關的列的OCC數據進行校正，包括：

S1：初始化OCC數據陣列中所有OCC數據為a，初始化循環計數器i為0，初始化最大循環次數為2ⁿ-1-a與a二者中的最大值；其中，n為OCC數據二進制的位數；

S2：判斷循環計數器i是否小于最大循環次數，若所述循環計數器i小于所述最大循環次數，則從待校正的探測器的緩存區讀取預設數量的圖片，并計算所述預設數量的圖片的像素值的時空域均值b；否則，結束本次迭代；

S3：計算所述預設數量的圖片的像素值的時空域均值b與預設目標值c之差的絕對值d；

S4：判斷所述絕對值d是否小于預設最小值e，若是，則執行S5，否則，則執行S10；