[發明專利]特征提取方法、裝置及電子設備

在審

• 申請號: 202011176076.1
• 申請日: 2020-10-28
• 公開（公告）號: CN112418243A
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發明（設計）人: 莊月清;李伯勛;張弛
• 申請（專利權）人: 北京邁格威科技有限公司
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46;G06N3/04
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 何少巖

1.一種特征提取方法，其特征在于，包括：

獲取待提取特征的目標圖像；

獲取所述目標圖像對應的掩膜圖像；其中，所述掩膜圖像與所述目標圖像中的感興趣區域對應；

將所述目標圖像和所述掩膜圖像輸入至特征提取網絡，通過所述特征提取網絡基于所述掩膜圖像對所述目標圖像進行特征提取。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述特征提取網絡包括多個依次連接的卷積層；

所述通過所述特征提取網絡基于所述掩膜圖像對所述目標圖像進行特征提取的步驟，包括：

對于所述特征提取網絡中的每個所述卷積層，確定該卷積層對應的輸入特征圖，并通過該卷積層對其輸入特征圖進行特征提取，得到該卷積層對應的輸出特征圖；其中，所述特征提取網絡中第一卷積層對應的輸入特征圖與所述目標圖像和所述掩膜圖像相關，所述特征提取網絡中第二卷積層對應的輸入特征圖與前一卷積層的輸出特征圖和所述掩膜圖像相關；

根據所述特征提取網絡的輸出特征圖確定所述目標圖像中感興趣區域的特征。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定該卷積層對應的輸入特征圖的步驟，包括：

當該卷積層為所述第一卷積層時，將所述目標圖像與所述掩膜圖像進行按位相乘，得到該第一卷積層對應的輸入特征圖；

當該卷積層為所述第二卷積層，將該第二卷積層的前一卷積層的輸出特征圖與所述掩膜圖像進行按位相乘，得到該第二卷積層對應的輸入特征圖。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述感興趣區域中包括至少一個目標對象；所述根據所述特征提取網絡的輸出特征圖確定所述目標圖像中感興趣區域的特征的步驟，包括：

確定所述目標圖像中各個所述目標對象的目標特征點；

獲取所述特征提取網絡的輸出特征圖中各個所述目標對象的目標特征點對應的特征；

將各個所述目標對象的目標特征點對應的特征均確定為所述目標圖像中感興趣區域的特征。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述獲取所述特征提取網絡的輸出特征圖中各個所述目標對象的目標特征點對應的特征的步驟，包括：

對于每個所述目標對象的目標特征點，將所述特征提取網絡的輸出特征圖與該目標對象的目標特征點進行按位相乘，得到該目標對象的目標特征點對應的特征。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述確定所述目標圖像中各個所述目標對象的目標特征點的步驟，包括：

對所述目標圖像進行對象檢測，得到所述目標圖像中的各個所述目標對象；

對于每個所述目標對象，確定該目標對象的目標特征點。

7.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取所述目標圖像對應的掩膜圖像的步驟，包括：

根據所述目標圖像的尺寸建立初始圖像；其中，所述初始圖像中的像素為第一數值；

確定所述目標圖像中的感興趣區域；

將所述初始圖像中與所述目標圖像的感興趣區域對應的區域內的像素從所述第一數值調整為第二數值，得到所述目標圖像對應的掩膜圖像。

8.一種特征提取裝置，其特征在于，包括：

目標圖像獲取模塊，用于獲取待提取特征的目標圖像；

掩膜圖像獲取模塊，用于獲取所述目標圖像對應的掩膜圖像；其中，所述掩膜圖像與所述目標圖像中感興趣區域對應；

特征提取模塊，用于將所述目標圖像和所述掩膜圖像輸入至特征提取網絡，通過所述特征提取網絡基于所述掩膜圖像對所述目標圖像進行特征提取。

9.一種電子設備，其特征在于，包括處理器和存儲器；

所述存儲器上存儲有計算機程序，所述計算機程序在被所述處理器運行時執行如權利要求1至7任一項所述的方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器運行時執行上述權利要求1至7任一項所述的方法的步驟。